| | | |  | 鐳射干涉儀光學尺
干涉儀光學尺是為了高精度線性定位回饋
Renishaw——引領二十一世紀 干涉量測技術
擁有近二十年 的經驗，RENISHAW在單頻干涉基礎量測解決方法上是無庸置疑的世界領導供應者
- 確立的技術，專業提供在最為嚴 苛的應用
- 全球直 銷代表處擁有最好的客戶支援
- 可靠的產品供應
- 不斷的科技研發投資確保優良品質及產品範圍開發
- 鐳射波長可追溯至英國國家物理實驗室（National Physics Laboratory）
在干涉儀基礎光學尺發展範圍提供為廣泛的精密應用提供有效的位置回饋解決方案. 典型應用包括
電子光束和鐳射刻錄機
膜、晶片和 LCD 檢測工具
光纖校準設備
精密工具機和三次元量床
長軸航空工具機
目前 Renishaw 鐳射編碼器系統的產品組合顯示如下——如需獲得所需解決方案的詳細 資訊，請按一下相應的圖像
 按一下此動畫可觀看 RLE10 X-Y 解決方案在實際應用中的所有優點
如果您對本網站有任何問題或意見，
請與網站管理員聯絡
特別需求使用者請按此處
Copyright © 2001 - 2009 Renishaw plc.
Renishaw plc, 註冊辦公室: New Mills, Wotton-under-Edge,
Gloucestershire, GL12 8JR, United Kingdom
在英格蘭和威爾士登記註冊，註冊號為 1106260。由金融服務當局管理並在倫敦股票交易所上市。
VAT 號碼 GB 422-9005-81。
法律聲明
本網站適合使用 Microsoft® Internet Explorer 6 （或更高版本）瀏覽器和 Netscape® 8 （或更高版本）瀏覽器瀏覽...
更多資訊
可列印
| | 
鐳射干涉儀光學尺
|
