Renishaw

在度量衡學、運動控制、機器校正、牙科 CAD/CMM 及光譜學領域,Renishaw 以創新產品提升精度、效率和品質。
革命性量測

校正和機器性能監控

分析和校正位置關鍵系統的性能量測產品。

雷射干涉儀用於對運動系統進行精密校正,行業標準的循圓測試儀用於診斷工具機性能。

三次元量床測頭、軟體和改裝件

精密 CMM 感測器可快速、準確地擷取零件尺寸和表面資料。

一系列世界領先的接觸觸發式測頭和掃描量測系統,用於三次元量床,加上革命性的 Renscan5™五軸掃描技術。

雷射干涉儀光學尺

干涉儀光學尺實現了線性位置回饋的至高精度。

Renishaw 度量衡學解決方案採用零差雷射干涉儀,包括光纖光束傳遞、內建式檢測頭和即時正交方波補償。

工具機測頭量測系統

部件和切削刀具的線上尺寸量測,用於製程設定、控制和校驗。

接觸量測測頭用於在 CNC 工具機上進行零件設定和檢測,另有用於刀具設定和刀具破損檢測的系統。

定位光學尺

精度絕對編碼器和增量編碼器回饋系統可用於各種工業線性和旋轉運動應用。

光學線性編碼器、光學角度編碼器和磁編碼器。所有產品均性能優良,安裝簡單,降低擁有成本。

拉曼光譜

拉曼及光致發光光譜儀的測量系統和部件。

拉曼光譜儀顯微鏡、輕型製程監控光譜儀、掃描電鏡聯用的結構與化學分析儀、雷射及 CCD 探測器,以滿足工業和研究應用需求。

接觸測頭探針

全面的精密設計測頭探針,實現最高量測精度。

測頭探針和探針附件可用於 Renishaw 三次元量床測頭、工具機測頭和掃描測頭以及其它製造商的感測器。



產品特寫

XL-80 and XC-80 in hands 新型雷射量測系統

Renishaw 公司的新型
XL-80 雷射干涉儀系統具有顯著提升的便攜性、系統精度及動態量測性能。

 
BB5 HPS V5.08 SCREEN A 循圓測試儀軟體升級

使用最新的軟體可產生最新的報告、分析,並提供許多額外功能。

 
測頭效益計算器測頭效益計算器

如果您想要快速計算並瞭解工具機量測的效益,請使用我們的效益計算器。

Twin probe system 無線纜式刀具設定和檢測

Renishaw 新型雙測頭光學訊號傳輸系統利用單一個光學接收器,提供刀具設定測頭和主軸接觸式測頭共用。

 
Renishaw changers logo Renishaw 更換器

在 Renishaw 加盟 CMM 供應商處購買一個新型 PH10 測頭座,可免費獲贈更換器和測頭模組。

 
TONiC readhead on RGS scale 更新您的運動系統…

…僅需加上 TONiC™! TONiC™ 是一新系列超輕型光學編碼器的第一個產品,具有出眾的速度、精度和可靠性。

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