跳轉瀏覽

北理工研發的激光測量儀器採用 XL-80 為核心組件,為球面光學組件的多種參數測量提供高精度數據

2018年1月

現今無論是工業界或人們日常生活中無不需要使用大量的光學鏡組元件,如一些先進的雷射切割或掃瞄設備,高解析度攝影器材、眼鏡等等。隨著應用的複雜性和精度要求的提升,對鏡組元件尤其是頻繁使用的球面鏡的加工精度隨之而提高,意味著針對相關元件參數的檢測儀器精度和檢測效率也必須進一步提高以配合。北京理工大學 (以下簡稱理大) 成功開發 - 雷射差動共焦干涉元件參數測量儀器,是全球首台測儀器能同時對球面鏡組元件進行多種參數的高精度綜合測量,不僅免除購買多台測量儀器的需要,而且大幅減少測量中的架設時間。Renishaw 的 XL-80 系列雷射干涉儀作為當中的核心元件之一,測量儀提供穩定可靠的量測資料。

下載

如需 Renishaw 及其產品的詳細的圖片、影片或資訊,請瀏覽我們的媒體中心