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ATOM™ 光學尺系列

什麼是 ATOM 光學尺?

ATOM 系列為 Renishaw 的微型非接觸增量式光學尺系統,適合線性與旋轉應用。結合微型化設計與先進的訊號穩定能力、抗汙能力與可靠性。這代表微型光學尺在效能與可靠性的大幅進步。此光學尺亦為同級光學尺中最快速的,其最高速度高達 20 m/s。

ATOM 系統安裝快速簡便,提供訊號完整性 LED 指示燈。

提供各種高速細分器解決方案,包括 Ri 介面、高效能 Ti 介面及輕巧型 PCB 式 ACi 介面,提供解析度達 1 nm 的數位輸出。

微型類比光學尺

微型圖表

ATOM 為全功能的微型類比光學尺,適合受限空間應用。提供解析度達 1 nm 的外部細分器介面。


撓性印刷電路 (FPC) 讀頭版本

撓性印刷電路 (FPC) 圖表

亦提供 ATOM 讀頭作為撓性印刷電路 (FPC) 版本,其具有較小的 Z 方向高度,有助於縮減整體封裝尺寸。FPC 輸出亦使客戶能自由設計自己的走線以進行簡易佈線。


可靠的位置測量

可靠度圖表

由於 Renishaw 獨特的過濾光學鏡組設計,ATOM 光學尺藉由優異的訊號穩定性與抗污能力來提供可靠的位置測量。

尋找您的 ATOM 光學尺選項

線性

光學尺類型光學尺名稱精度

柵距

20 °C 時的熱膨脹係數

光學尺最長長度

玻璃光學尺

RCLC 光學尺
RCLC±3 µm/m20 µm/40 µm~8 m/m/°C最長達 130 mm
RTLF20 光學尺

不鏽鋼捲尺

RTLF

40 μm(高精度):±5 µm/m
40 µm:±15 µm/m
20 µm:±5 µm/m

20 µm/40 µm

~10.6 m/m/°C

長達 10 m(可依要求供應 10 m 以上長度)

精細不鏽鋼捲尺

RKLF 線性光學尺
RKLF-S

40 μm(高精度):±5 µm/m

40 µm:±15 µm/m

20 µm:±5 µm/m

20 µm/40 µm

以端蓋固定光學尺尾端時,能符合基板材質

長達 10 m(可依要求供應 10 m 以上長度)

部分弧線

光學尺類型光學尺名稱精度

柵距

熱膨脹係數(20 °C 時)

光學尺最長長度

精細型不鏽鋼部分弧線光學尺

RKLF 部分弧線光學尺

RKLF-S

±15 µm/m

40 µm

10.1 ±0.2 μm/m/°C

長達 10 m(可依要求供應 10 m 以上長度)

旋轉

光學尺類型光學尺名稱

刻劃精度

柵距

20 °C 時的熱膨脹係數

圓盤直徑

玻璃盤

RCDM 光學尺(光學尺頁面)

RCDM

±0.5 µm(圓盤 ø 高達 100 mm)

±0.7 µm(圓盤 ø 超過 100 mm)

20 µm/40 µm

~8 µm/m/°C

17 至 108 m