跳轉瀏覽

汙染物

汙染物識別是最大的拉曼應用領域之一。世界各地的生產工場幾乎都深受汙染物所擾，而生產可能因此中止，導致成本上升。這項應用也延伸至物質及汙染物的環境及法規監控。

汙染物範例包括：

  • 半導體晶圓的微粒
  • 金屬物件的腐蝕性產品
  • 製造物件的廢油和切削用液
  • 製藥原料的異物
  • 大型水域內部的聚合物粒子 (例如微珠)

汙染物拉曼分析

拉曼光譜是識別汙染物並協助判斷其來源的實用技術。Renishaw 拉曼系統提供您最詳實資料，協助迅速輕易識別汙染物。特色：

  • 高靈敏度，具備小於微米的空間解析度 – 分析材料和薄膜的最小細節
  • 拉曼光譜資料庫 – 方便快速識別汙染物
  • 多重雷射，從 UV 到 IR – 提供分析眾多樣品的靈活性
  • 非破壞性、非接觸式分析 – 保存汙染證據
  • 提供各種選項，針對不同大小的粒子進行定位、分析及自動測量

瞭解問題癥結

就算製程再怎麼謹慎小心，只要一不注意就會產生汙染。

Renishaw 是先進的製程先鋒，而且一向以其高品質產品而聞名。我們的工程師將 inVia Reflex 共軛焦拉曼顯微鏡作為 Renishaw 品質控制流程的一部分；我們瞭解汙染所帶來的挑戰。

下載：分析科學（汙染）

我們隨時為您服務

若要深入瞭解此應用領域或未涵蓋到的應用，請聯絡應用團隊。

聯絡應用團隊

相關報導

識別環境中的塑膠微粒

丹麥科技研究所 (Danish Technological Institute) 使用 Renishaw 拉曼光譜系統，判定塑膠微粒汙染進入丹麥廢水及雨水系統的程度。