寶石學
Renishaw inVia 共軛焦拉曼顯微鏡是全球許多寶石學實驗室的首選儀器。
最理想的寶石學工具
- 鑑定寶石真實性並判斷寶石為天然、合成或加工
- 判斷是否以填充物修飾寶石裂隙
- 識別固態、液態和氣態包裏體
- 識別礦物結晶類型
- 利用拉曼或光致發光成像研究結晶瑕疵、空位和置代
- 分析包裏體，即使是位在寶石深處也可分析
此外，拉曼光譜是一項非破壞性技術，不會損壞寶石和礦物。
容易採用的工具
Renishaw 的 inVia 共軛焦拉曼顯微鏡可補強傳統岩石分析技術，還可同時取得拉曼和光致發光影像與光譜。
採用寶石學家熟悉的光學顯微鏡，並可支援所有標準檢視方式 (透射光或反射光、偏振光)。擷取光譜時，只需要聚焦樣品。inVia 為高度自動化，可妥善處理其他複雜工作。
寶石識別
您可藉由 Renishaw 的無機材料和礦物光譜資料庫輕易識別寶石。在短時間內區分鑽石、碳矽石和其他材料。
偵測雜質
您可以利用拉曼光譜找出含有雜質的寶石。
inVia 的高空間解析度和長工作距離物鏡選購配件可讓您看到裂隙中的再微小不過的環氧樹脂和其他填充物。
您也可以找出熱能和輻射加工寶石。例如，找出外觀經過高壓高溫處理修飾的鑽石。
調查包裏體
輕易判斷包裏體的成分，並透過 StreamHR™ 快速共軛焦體積成像顯示其 3D 形態。不只可分析固態包裏體，也可分析液態和氣態包裏體。
下載應用要點
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Application note: Analysing gemstones with the inVia confocal Raman microscope [en]
Today’s gemmological laboratories need to have instruments and skills that rival university research centres. Of the many analysis techniques available, Raman and photoluminescence spectroscopies have become the best techniques for gemstone certification and characterisation.
最新寶石學消息
拉曼光譜：寶石分析的先進技術
中國國家珠寶玉石質量監督檢驗所 (NGTC) 使用 Renishaw 的高效能 inVia 共軛焦拉曼顯微鏡，針對寶石進行非破壞性的識別及特性分析。