地質學

適合複雜結構的高光譜解析度。

地質樣品的結構十分複雜。經常含有多種礦物 (每種礦物通常可能會以多種同素異形體的形態存在)，並可能是包裹體 (固態、液態、氣體都有可能)。您需要靈敏的高光譜解析度拉曼系統，才可成功分析所有細節。

研究各種地質樣品

拉曼光譜是地質學家的實用工具。用途：

Renishaw 的拉曼系統與多數標準地質樣品類型相容。從未經處理的天然樣品、磨光片段和薄片產生影像。透過 LiveTrack™ 自動跟焦技術，分析具有粗糙、複雜幾何形狀的樣品，無需進行任何樣品準備。

地質樣品的結構大小從小於微米到數毫米都有可能。Renishaw 的 inVia 共軛焦拉曼顯微鏡可隨時產生影像，完全不受刻度侷限。

高空間解析度 – inVia 為高度共軛焦，可解析刻度小於微米的特徵。您可以使用種類齊全的高品質顯微鏡物鏡 (包括油鏡和蓋玻片修正物鏡) 以顯露所有微小特徵。
大範圍對應 – Renishaw 的 HSES 電動台可讓您分析大型樣品，範圍可涵蓋數百毫米。選購的開放式框架自由空間顯微鏡更可讓您進一步擴大範圍。
高解析度影像 – WiRE 軟體可管理含有超過 5000 萬光譜的拉曼影像。提供高空間解析度和廣大涵蓋範圍。在單一影像中擷取所有必要資訊。

多數礦物大多十分堅固，但有些可能會因高雷射功率密度而產生變化。例如，鐵化合物可能會氧化。StreamLine™ 採用雷射線，而非雷射光點。可降低雷射功率密碼，讓您在無須修改或損壞材料的情況下，分析脆弱材料。

您可藉由 Renishaw 的無機材料和礦物光譜資料庫輕易識別材料。inVia 共軛焦拉曼顯微鏡的高光譜解析度可讓您區別拉曼光譜極為類似的材料，例如同素異形體。

以 Renishaw 的 SEM-SCA 將拉曼分析新增至掃描電子顯微鏡。此儀器結合高空間解析度 SEM 影像、EDX 元素分析與拉曼光譜的詳細化學資訊，因此對地質學家特別有用。

若要深入瞭解此應用領域或未涵蓋到的應用，請聯絡應用團隊。