拉曼 SPM/AFM 組合型系統
您可以結合 inVia 功能與掃描測頭顯微鏡 (SPM 和 AFM)，以調查奈米級材料成分、結構和特性。
選擇最佳系統
inVia 具備驚人靈活性，Renishaw 可將其直接耦合至各種廠牌的 AFM 和 SPM，例如：
- Bruker Nano Surfaces
- Nanonics
- NT-MDT
- JPK
- Park
- Nanosurf
選擇最符合需求的 SPM/AFM。
TERS：針尖增強拉曼散射
特定 inVia-AFM 系統可執行針尖增強拉曼散射 (TERS)。此驚人技術使用尖銳的電漿子針尖，取得奈米級化學資訊。
TERS 對應補足了 StreamLine™ 和 StreamHR™，提供絕佳靈活性，讓您以任何解析度研究樣品。
最大效率
Renishaw 專門設計的靈活耦合臂可用來將 inVia 光學整合至 SPM/AFM。以反射鏡引導光線，相較於光纖耦合，效率更高。您可以更快取得光譜，並擁有更高的訊噪比。
校準十分簡單。所有組合型系統都提供附白光照明的內建視訊，因此您可清楚看到測頭端部與拉曼雷射光點 - TERS 工作的關鍵點。
同一位置、同一時間
您可以完全信賴資料。您可以從樣品的同一點同步擷取拉曼和 AFM 資料，無須移動樣品。即使樣品隨時間變化，仍可確保資料一致性。
單一組合型系統
共位分析；無須將樣品移至不同系統，然後在大費周章地努力尋找相同興趣點。
兩名使用者可獨立同步操作 inVia 和 SPM/AFM，完全不會影響彼此效能。您有拉曼系統、SPM/AFM 系統和組合型拉曼 SPM/AFM 系統。
選擇最佳系統
Renishaw 的 SPM 專家樂意與您討論具體需求，並提供建議，以便用最好的方式將 inVia 整合至選定的 SPM/AFM 系統。請聯絡我們，探索此技術如何讓您進一步瞭解奈米尺度。
下載：拉曼 SPM/AFM
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Product note: inVia™ confocal Raman microscope and Dimension AFM integration [en]
The integration of the inVia confocal Raman microscope with the Dimension series AFMs combines industry leading instruments to provide a solution that gives the best possible performance:
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Product note: Renishaw Raman-AFM/TERS solutions [en]
Product note - Combined Raman/AFM (atomic force microscope) systems are excellent for characterising the properties of materials at sub-micrometre, and potentially nanometre, scales.Tip-enhanced Raman scattering (TERS) provides chemical imaging at the nanometre scale, enabling you to take your research to a whole new level.
影像圖庫
深入瞭解
最新的 SPM/AFM 使用案例
美國陸軍研究試驗所結合拉曼與 AFM
位在美國馬里蘭州的美國陸軍研究試驗所 (ARL) 透過由 Renishaw inVia 共軛焦拉曼顯微鏡與 Bruker Dimension Icon 原子力顯微鏡 (AFM) 所組成的混合儀器，正在研究電磁能儲存材料。
Renishaw 的 inVia 共軛焦拉曼顯微鏡連接到 Bruker 的 Dimension Icon AFM
Renishaw 是一家經驗豐富的整合式拉曼 AFM 解決方案供應商，已有超過 16 年的供貨經驗。最新加入儀器系列的支援產品為 Bruker 的 Dimension Icon AFM。新增的配對展現出 Renishaw inVia 共軛焦顯微鏡極大的靈活性，還有能力搭配各種運用許多分析技術的儀器。