掃描測頭

掃描測頭是微型量測機器，每秒能夠擷取幾百個表面點，可以量測形狀、尺寸和位置。 掃描測頭還能夠用於擷取不連續的點，其擷取方法與接觸觸發式測頭類似。

有多種解決方案可供選擇，適合各種大小和配置的三次元量床。

掃描測頭系統

SP25M		SP600		SP80
具有掃描和接觸觸發模組的 25 毫米直徑掃描測頭		高性能檢測、數位化和輪廓掃描		軸套安裝式掃描測頭，以長探針提供一流的性能

掃描原理

掃描是快速地擷取棱形或複雜部件的形態和輪廓資料的方法

接觸觸發式測頭用於擷取表面上的不連續點，而掃描系統則擷取大量的表面資料，更清楚地顯現工件的形態和形狀。 因此，當某輪廓的形態構成總體誤差預算的重要因素時，使用掃描非常適合，而且掃描對於檢測複雜表面也很適合。

掃描需要完全不同的感測頭設計、機器控制和資料分析方法。

Renishaw 掃描測頭具有新穎小巧的被動式機構（無電機或鎖定機構），具有高自然頻率，非常適合高速掃描。 獨立光計量學系統可直接（並非經由測頭結構內的重疊軸線）量測探針的偏度，因而具有更高的量測精度和更快的動態反應。

掃描系統如何擷取和分析表面資料？

掃描測頭提供連續的偏度輸出，這些輸出與機器位置結合，進一步導出所量測表面的位置。 掃描時，測頭的探針端部與待測特徵接觸，然後沿表面移動，在移動的同時擷取資料。 在整個量測過程中，必須將測頭的探針偏轉保持在測頭的量測範圍內。

感測頭和機器控制必須經過嚴密整合並使用複雜的過濾算法，以便將量測資料轉換為可用的表面資訊並獲得最佳結果。 掃描驅動算法可以適應工件的輪廓，改變掃描速度以適合表面彎曲度（在較平的平面上移動速度較快）和調整資料擷取速度（當表面變化快速時擷取更多的資料）。

延長保固

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