掃描測頭

掃描測頭每秒能夠擷取幾百個表面點，可以量測形狀、尺寸和位置。

掃描測頭還能夠用於擷取離散點，擷取方法與接觸觸發式測頭類似。

有多種解決方案可供選擇，適合各種大小和配置的 CMM。

掃描原理

掃描可快速擷取棱形或複雜元件的形態和輪廓資料。

當接觸觸發式測頭收集表面上的離散點時，掃描系統會擷取大量的表面資料，以提供更清晰的外形圖及工件的形狀。因此掃描十分適合特徵的外形，是整體誤差預算極重要因素的應用，或是必須檢測複雜表面的應用。

掃描需要完全不同的感測器設計、機器控制和資料分析方法。

Renishaw 掃描測頭具有新穎小巧的被動式機構（無馬達或鎖定機構），具有高自然頻率，非常適合高速掃描。獨立光學量測系統可直接（並非經由測頭結構內的重疊軸線）量測測針的偏度，因而具有更高的量測精度和更快的動態反應。

掃描測頭提供連續偏差輸出，這些輸出與機器位置結合，推導出所量測表面的位置。掃描時，測頭的測針端部與待測輪廓接觸，然後沿表面移動，在移動的同時擷取資料。在量測過程中，必須將測頭測針的偏轉，保持在測頭的量測範圍內。

感測器和機器控制必須經過嚴密整合並使用複雜的濾波算法，以便將量測資料轉換為可用的表面資訊並獲得最佳結果。掃描驅動演算法能針對工件的輪廓調節，改變掃描速度以適應彎曲率（在較為平整的表面上移動較快），並調整資料擷取的速率（在表面快速改變時，擷取較多資料）。

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