 | X-Y（平面鏡）系統
規格
為了維持在變動環境條件中的精度，非真空應用需要某種形式的折射率補償。Renishaw 提供 RCU10 即時方波補償系統，可以對環境變化進行補償。 RPI20 平行介面整合到 RLE 系統中，可使解析度達到 38.6 皮米。該介面可接收差分類比 1 Vpp 正弦/餘弦訊號並提供平行輸出格式。有關 RCU10 補償系統、RPI20 以及與 RLE 系統和 HS10 長距離雷射尺配合的其他輔助設備相關資訊，請參閱附件。 下一步如果您需要 更多資訊， 查詢定價 或有其它要求，您可以直接聯絡 當地Renishaw 辦事處。 |
X-Y（平面）RLE 系統包括一個雙軸 RLU 雷射裝置和兩個檢測頭（可與平面鏡標靶光學鏡組配合使用）。雷射裝置的選擇很大程度上取決於操作運行環境，RLU20 特別適合在真空和可控環境下應用。RLU10 雷射裝置在 RLE10 系統內使用，RLU20 雷射裝置在 RLE20 系統內使用。