ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 RKLF 線性和部分弧線光學尺
特性
- 直接來自讀頭的數位輸出
- 讀頭尺寸：20.5 x 12.7 x 10.85 mm (頂部出口版本：20.5 x 12.7 x 7.85 mm)
- 解析度達 2.5 nm
- 速度高達 20 m/s
- 低細分誤差 (SDE)：20 µm 版本 <±75 nm，40 µm 版本 <±120 nm
優勢
- 微型封裝
- 無需單獨介面
- 過濾光學鏡組設計具備高抗汙能力
- 進階診斷工具易於進行查錯，處理棘手的安裝與維修問題
- 寬度 6 mm 的精細光學尺適合應用於空間有限的情況
- 適用於部分弧線量測
何謂 ATOM DX？
ATOM DX 光學尺系列是 Renishaw 最精巧的增量式光學尺，可直接自讀頭進行數位輸出。其中於微型封裝提供位置回饋、內建細分及過濾光學鏡組等所有功能。
選購的進階診斷工具 ADTi‑100 及 ADT View 軟體可用於存取詳細診斷資訊，進行現場診斷及查錯，並協助最佳化光學尺設定，即使在要求最嚴苛的應用中也沒問題。
ATOM DX 光學尺也提供最低 2.5 nm 的解析度，以及各式各樣的組態。
ATOM DX 可供應纜線與頂部出口版本，提供 20 µm 或 40 µm 光學尺選項。
何謂 RKLF 光學尺？
RKLF 是一種外型精細又輕巧的不鏽鋼光學捲尺，擁有 20 µm 和 40 µm 的刻矩增量刻度，並提供 IN-TRAC 客戶自選的參考原點。精度高達 ±5 µm/m，長度達 20 公尺（可依要求大於 20 m）。RKLF 兩端牢牢固定至基材時，即可固定於機器基材上，提升量測效能。
靈活的 RKLF 光學尺也適用於部分弧線量測，其中的小型截面區域可讓光學尺環繞基準、軸或最小半徑為 26 mm 的圓弧。
為何選擇此光學尺系統？
適合空間有限應用的微型光學尺
ATOM DX 的尺寸小至 20.5 mm x 12.7 mm x 7.85 mm，可整合至最狹窄的空間。提供多種選項可供選擇，包括有線及頂端出口型版本。
查錯與維修容易
進階診斷工具可由 ATOM DX 光學尺讀頭取得全面即時資料。相關資訊會透過易於使用的 ADT View 軟體介面顯示。儘管在大部分情況下，光學尺中的一體式設置 LED 已足以設定系統，此 ADT 仍可用於輔助更具挑戰性的安裝。ADT還能回報光學尺效能並協助系統查錯，避免機器停機時間過長。
精細且堅固耐用的多功能光學尺
RKLF 是一種寬度 6 mm 的不鏽鋼光學捲尺，堅實耐用，厚度僅有 0.15 mm，此特性可讓光學尺在牢牢固定至機器軸時，「固定」於機器基材上，以符合其熱膨脹係數和反應，藉此將光學尺和機器間的移動差降至最低。
RKLF 部分弧線光學尺
RKLF 光學尺可以方便地切割至所需長度，並安裝在簡易圓柱形基材上，沒有複雜安裝特性或低容錯對齊表面。
選配的進階診斷工具 ADTi-100
ATOM DX 光學尺系統相容於進階診斷工具 ADTi-100 和 ADT View 軟體。這些工具能提供全方位即時光學尺資料回饋，有利於執行更加艱困的安裝與診斷作業。直覺式軟體介面可用於下列操作：
- 遠端校準
- 全軸長訊號最佳化
- 參考原點指示
- 光學尺位置的數位讀數（相對於光學尺）
- 監控時速表
- 匯出與儲存資料
技術規格
量測標準 | 精細型不鏽鋼捲尺與自黏背膠帶，可直接安裝在基材上 適用於部分弧線應用（部分弧線最小半徑：26 mm） |
讀頭尺寸（長 x 寬 x 高） | 纜線版本：20.5 mm x 12.7 mm x 10.85 mm 頂端出口版本：20.5 mm x 12.7 mm x 7.85 mm |
光學尺刻距 | 20 µm 與 40 µm |
熱膨脹係數（20°C 時） | 10.1 ±0.2 µm/m/°C |
精度等級（20°C 時） | 20 μm：±5 μm/m 40 μm：±15 μm/m 40 μm（高精度）：±5 μm/m |
參考原點 | 可不選擇的光學性 |
限位開關 | N/A |
光學尺長度 | 長達 20 m（可依要求大於 20 m） |
最高速度 | 最高 20 m/s （如需詳細資訊，請參閱規格資料表） |
細分誤差 (SDE) | 20 µm 版本：一般 <±75 nm 40 µm 版本：一般 <±120 nm |
動態訊號控制 | 即時訊號調節，包括自動增益控制 (AGC) 及自動偏置控制 (AOC)，優化各種操作條件下的性能 |
增量訊號 | 10 µm 至 2.5 nm 的解析度 （如需詳細資訊，請參閱規格資料表） |
電氣接線 | 纜線版本：0.2 m、0.5 m、1 m、1.5 m、2 m 及 3 m 纜線長度搭配 D 型連接器 (9 及 15 向) |
電源 | 5 V -5%/+10%，標準 <200 mA 完全端接 |
振動（工作） | 於 55 Hz 至 2000 Hz 範圍達到最高速 100 m/s²，3 軸 |
衝擊（工作） | 1,000 m/s²、6 ms、½ 正弦、3 軸 |
工作溫度 | 0 °C 至 +70 °C |
防護等級 | IP40 |
如需完整的詳細資訊，請參閱規格資料表。
下載
規格資料表
使用指南
技術繪圖
工作原理
ATOM DX 光學尺採用的過濾光學鏡組，也應用於 TONiC 及 VIONiC 等 Renishaw 增量式光學尺，是獲得市場肯定的過濾光學鏡組。ATOM DX 讀頭採用的非準直 LED 光源，位於增量及參考原點感測器正中央：這組高發散 LED 的高度較低，且在光學尺上的體積比 LED 大，能讓增量與參考原點區域發亮。未同調的 LED 會產生高純度的簡諧波長訊號，提供高解析度分割。高效率的測光法也會產生低抖動的輸出訊號。這種過濾光學鏡組還有另一項重大優勢，就是 ATOM DX 不會因光學尺不平或污染而導致量測錯誤。
完全整合的先進動態訊號調節方法，包括自動增益控制、自動平衡控制及自動偏置控制，確保能提供一般低於 ±15 nm 的超低細分誤差 (SDE)。
結合過濾光學鏡組與精選電子裝置，提供寬頻寬增量位置回饋訊號，達到 12 m/s 的最高速度與最低位置抖動 (雜訊)，遠勝於同級光學尺。數位訊號細分於讀頭內進行，透過額外的降噪電子工具加強高解析度版本，將抖動降為極低的 1.6 nm RMS。
ATOM DX 光學尺系列運用大型單一功能偏離光學參考原點，擁有良好的抗污效果。定向參考原點是以簡單直覺的自動校正例行程序達成，也應用於 QUANTiC™ 及 VIONiC™ 系列光學尺。
