ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 RKLF 線性和部分弧線光學尺

特性

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ATOM DX 光學尺系列是 Renishaw 最精巧的增量式光學尺，可直接自讀頭進行數位輸出。其中於微型封裝提供位置回饋、內建細分及過濾光學鏡組等所有功能。

選購的進階診斷工具 ADTi‑100 及 ADT View 軟體可用於存取詳細診斷資訊，進行現場診斷及查錯，並協助最佳化光學尺設定，即使在要求最嚴苛的應用中也沒問題。

ATOM DX 光學尺也提供最低 2.5 nm 的解析度，以及各式各樣的組態。

ATOM DX 可供應纜線與頂部出口版本，提供 20 µm 或 40 µm 光學尺選項。

RKLF 是外型精細輕巧的不鏽鋼鋼帶光學尺，擁有 20 µm 和 40 µm 的刻距增量刻度，且客戶可自行選擇參考原點。精度高達 ±5 µm/m，長度達 10 公尺（可依要求大於 10 m）。RKLF 兩端牢牢固定至基材時，即可固定於機器基材上，提升量測效能。

靈活的 RKLF40 光學尺也適用於部分弧線量測，其中的小型截面區域可讓光學尺環繞基準、軸或最小半徑為 26 mm 的圓弧。

ATOM DX 的尺寸小至 20.5 mm x 12.7 mm x 7.85 mm，可整合至最狹窄的空間。提供多種選項可供選擇，包括有線及頂端出口型版本。

進階診斷工具可由 ATOM DX 光學尺讀頭取得全面即時資料。相關資訊會透過易於使用的 ADT View 軟體介面顯示。儘管在大部分情況下，光學尺中的一體式設置 LED 已足以設定系統，此 ADT 仍可用於輔助更具挑戰性的安裝。ADT還能回報光學尺效能並協助系統查錯，避免機器停機時間過長。

RKLF 是一種寬度 6 mm 的不鏽鋼光學捲尺，堅實耐用，厚度僅有 0.15 mm，此特性可讓光學尺在牢牢固定至機器軸時，「固定」於機器基材上，以符合其熱膨脹係數和反應，藉此將光學尺和機器間的移動差降至最低。

RKLF40 光學尺可以方便地切割至所需長度，並安裝在簡易圓柱形基材上，沒有複雜安裝特性或低容錯對齊表面。

ATOM DX 光學尺系統相容於進階診斷工具 ADTi-100 和 ADT View 軟體。這些工具能提供全方位即時光學尺資料回饋，有利於執行挑戰較高的安裝與診斷作業。直覺式軟體介面可用於下列操作：

量測標準	精細型不鏽鋼捲尺與自黏背膠帶，可直接安裝在基材上適用於部分弧線應用（部分弧線最小半徑：26 mm）
讀頭尺寸（長 x 寬 x 高）	纜線版本：20.5 mm x 12.7 mm x 10.85 mm 頂端出口版本：20.5 mm x 12.7 mm x 7.85 mm
光學尺刻距	20 µm* 與 40 µm *20 μm 不適用於部分弧線應用
熱膨脹係數（20°C 時）	10.1 ±0.2 µm/m/°C
精度等級（20°C 時）	20 μm：±5 μm/m 40 μm：±15 μm/m 40 μm（高精度）：±5 μm/m
參考原點	可不選擇的光學性
限位開關	N/A
光學尺長度	長達 10 m（可依要求大於 10 m）
最高速度	最高 20 m/s （如需詳細資訊，請參閱規格資料表）
細分誤差 (SDE)	20 µm 版本：一般 < ±75 nm 40 µm 版本：一般 < ±120 nm
動態訊號控制	即時訊號調節，包括自動增益控制 (AGC) 及自動偏置控制 (AOC)，優化各種操作條件下的性能
增量訊號	10 µm 至 2.5 nm 的解析度（如需詳細資訊，請參閱規格資料表）
電氣接線	纜線版本：0.2 m、0.5 m、1 m、1.5 m、2 m 及 3 m 纜線長度搭配 D 型連接器 (9 及 15 向) 0.5 m、1 m、3 m 纜線長度，10 向 JST 型連接器頂端出口版本：讀頭搭配 10 向 JST 連接器
電源	5 V -5%/+10%，標準 < 200 mA 完全端接
振動（工作）	於 55 Hz 至 2000 Hz 範圍達到最高速 100 m/s²，3 軸
衝擊（工作）	1,000 m/s²、6 ms、½ 正弦、3 軸
工作溫度	0 °C 至 +70 °C
防護等級	IP40

如需完整的詳細資訊，請參閱規格資料表。