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ATOM DX™ 增量式編碼器系統搭配 RTLF 線性光學尺

特性

  • 直接來自讀頭的數位輸出
  • 讀頭尺寸:20.5 x 12.7 x 10.85 mm (頂部出口版本:20.5 x 12.7 x 7.85 mm)
  • 解析度達 2.5 nm
  • 速度高達 20 m/s
  • 低細分誤差 (SDE):20 µm 版本 <±75 nm,40 µm 版本 <±120 nm

優勢

  • 微型封裝
  • 無需單獨介面
  • 過濾光學鏡組設計具備高抗汙能力
  • 進階診斷工具易於進行查錯,處理棘手的安裝與維修問題
  • 品質保證
  • 自黏式光學捲尺方便耐用

網站橫幅的透明修補程式

何謂 ATOM DX?

ATOM DX 光學尺系列是 Renishaw 最精巧的增量式光學尺,可直接自讀頭進行數位輸出。其中於微型封裝提供位置回饋、內建細分及過濾光學鏡組等所有功能。

選購的進階診斷工具 ADTi‑100 及 ADT View 軟體可用於存取詳細診斷資訊,進行現場診斷及查錯,並協助最佳化光學尺設定,即使在要求最嚴苛的應用中也沒問題。

ATOM DX 光學尺也提供最低 2.5 nm 的解析度,以及各式各樣的組態。

ATOM DX 可供應纜線與頂部出口版本,提供 20 µm 或 40 µm 光學尺選項。

何為 RTLF 光學尺?

RTLF 是一種低輪廓不鏽鋼光學捲尺,提供 IN-TRAC 客製化參考原點。提供 2 種等級精度:包括 ±15 µm/m 精度的標準 40 µm 刻距光學尺,以及 ±5 µm/m 精度的高規格 20 µm 刻距與 40 µm 刻距光學尺。所有光學尺皆提供長達 10 m 的長度規格。


RTLF-S 以自黏背膠帶安裝於基材。自黏膠配方能使光學尺獨立膨脹,不受基材膨脹影響。


為了完成安裝,光學尺夾固在一點以提供基準位置。

為何選擇此光學尺系統?

適合空間有限應用的微型光學尺

ATOM DX 的尺寸小至 20.5 mm x 12.7 mm x 7.85 mm,可整合至最狹窄的空間。提供多種選項可供選擇,包括有線及頂端出口型版本。

查錯與維修容易

進階診斷工具可由 ATOM DX 光學尺讀頭取得全面即時資料。相關資訊會透過易於使用的 ADT View 軟體介面顯示。儘管在大部分情況下,光學尺中的一體式設置 LED 已足以設定系統,此 ADT 仍可用於輔助更具挑戰性的安裝。ADT還能回報光學尺效能並協助系統查錯,避免機器停機時間過長。

高效能

ATOM DX 系列編碼器是高效能編碼器,解析度最低可達 2.5 nm,並具備低 SDE 及低抖動等特色。ATOM DX 編碼器結合讀頭直接提供的數位正交輸出,以及 Renishaw 深獲肯定的過濾光學鏡組,是現代運動控制系統的強大建構基礎。

選配的進階診斷工具 ADTi-100

VIONiC 進階診斷工具

ATOM DX 光學尺系統相容於進階診斷工具 ADTi-100 和 ADT View 軟體。這些工具能提供全方位即時光學尺資料回饋,有利於執行更加艱困的安裝與診斷作業。直覺式軟體介面可用於下列操作:

  • 遠端校準
  • 全軸長訊號最佳化
  • 參考原點指示
  • 光學尺位置的數位讀數(相對於光學尺)
  • 監控時速表
  • 匯出與儲存資料

技術規格

量測標準

自黏式不鏽鋼光學捲尺

讀頭尺寸(長 x 寬 x 高)

纜線版本:20.5 mm x 12.7 mm x 10.85 mm

頂端出口版本:20.5 mm x 12.7 mm x 7.85 mm

光學尺刻距

20 µm 與 40 µm

熱膨脹係數(20°C 時)

10.1 ±0.2 µm/m/°C

精度等級(20°C 時)

20 μm:±5 μm/m

40 μm:±15 μm/m

40 μm(高精度):±5 μm/m

參考原點

可不選擇的光學性

限位開關

N/A

光學尺長度

長達 10 m(可依要求大於 10 m)

最高速度          


最高 20 m/s

(如需詳細資訊,請參閱規格資料表)

細分誤差 (SDE)

20 µm 版本:一般 <±75 nm

40 µm 版本:一般 <±120 nm

動態訊號控制

即時訊號調節,包括自動增益控制 (AGC) 及自動偏置控制 (AOC),優化各種操作條件下的性能

增量訊號

10 µm 至 2.5 nm 的解析度

(如需詳細資訊,請參閱規格資料表)

電氣接線

纜線版本:0.2 m、0.5 m、1 m、1.5 m、2 m 及 3 m 纜線長度搭配 D 型連接器 (9 及 15 向)
0.5 m、1 m、3 m 纜線長度,10 向 JST 型連接器
頂端出口版本:讀頭搭配 10 向 JST 連接器

電源

5 V -5%/+10%,標準 <200 mA 完全端接

振動(工作)

於 55 Hz 至 2000 Hz 範圍達到最高速 100 m/s²,3 軸

衝擊(工作)

1,000 m/s²、6 ms、½ 正弦、3 軸

工作溫度

0 °C 至 +70 °C

防護等級

IP40

如需完整的詳細資訊,請參閱規格資料表。

下載

規格資料表

軟體

  • 軟體下載: ADT View 軟體 3.2.0.0 版 [en]

ATOM DX 光學尺採用的過濾光學鏡組,也應用於 TONiC 及 VIONiC 等 Renishaw 增量式光學尺,是獲得市場肯定的過濾光學鏡組。ATOM DX 讀頭採用的非準直 LED 光源,位於增量及參考原點感測器正中央:這組高發散 LED 的高度較低,且在光學尺上的體積比 LED 大,能讓增量與參考原點區域發亮。未同調的 LED 會產生高純度的簡諧波長訊號,提供高解析度分割。高效率的測光法也會產生低抖動的輸出訊號。這種過濾光學鏡組還有另一項重大優勢,就是 ATOM DX 不會因光學尺不平或污染而導致量測錯誤。


完全整合的先進動態訊號調節方法,包括自動增益控制、自動平衡控制及自動偏置控制,確保能提供一般低於 ±15 nm 的超低細分誤差 (SDE)。


結合過濾光學鏡組與精選電子裝置,提供寬頻寬增量位置回饋訊號,達到 12 m/s 的最高速度與最低位置抖動 (雜訊),遠勝於同級光學尺。數位訊號細分於讀頭內進行,透過額外的降噪電子工具加強高解析度版本,將抖動降為極低的 1.6 nm RMS。


ATOM DX 光學尺系列運用大型單一功能偏離光學參考原點,擁有良好的抗污效果。定向參考原點是以簡單直覺的自動校正例行程序達成,也應用於 QUANTiC™VIONiC™ 系列光學尺。

工作原理

ATOM™ 光學配置附註解