跳轉瀏覽

ATOM™ 增量式編碼器系統搭配 RCDM 旋轉(角度)盤

特性

  • 讀頭尺寸:20.5 x 12.7 x 8.35 mm (FPC 版本:20.5 x 12.7 x 7.3 mm)
  • 解析度達 1 nm
  • 速度高達 20 m/s
  • 類比或數位輸出
  • 低細分誤差 (SDE):20 µm 版本 <±75 nm,40 µm 版本 <±120 nm

優勢

  • 微型封裝
  • 過濾光學鏡組設計具備高抗汙能力
  • 提供診斷套件協助處理棘手安裝與系統優化。
  • 盤形編碼器適合輕巧旋轉應用
  • 品質保證
網站橫幅的透明修補程式

何謂 ATOM?

ATOM 是 Renishaw 的微型非接觸增量式線性及旋轉光學尺系統。結合微型化設計與先進的訊號穩定能力、抗汙能力與可靠性。這項結合在市場上極為獨特,代表微型光學尺在性能與可靠性的大幅進步。

ATOM 配備高彈性纜線與軟性印刷電路板排線 (FPC),提備 20 µm 或 40 µm 光學尺選項。

提供各種介面可供選擇,包含標準 Ri、高性能 Ti 與小型開放式 ACi 介面。

什麼是 RCDM 盤?

RCDM 為一體式玻璃盤,刻度直接標記在盤面上,採單一參考原點與光學準直調整帶設計。光學準直調整帶可盡量降低準直誤差,並提升安裝精度。

有兩種版本尺寸可供選擇:20 µm 或 40 µm 刻矩增量刻度 (20 µm:Ø30 mm 至 Ø108 mm,40 µm 為Ø17 mm 至 Ø108 mm)。

非接觸式格式能消除反向間隙、軸扭曲(扭轉)及其他傳統封閉式光學尺固有的機械遲滯錯誤。

為何選擇此光學尺系統?

微型光學尺適合狹小空間

ATOM 的尺寸小至 7.3 mm x 20.5 mm x 12.7 mm,可整合至最狹窄的空間。多種選項可供選擇,包括有線及元件型 FPC 版本。

高可靠性與系統效能

ATOM 是全球第一台採用 Renishaw 獨特過濾光學鏡組設計的微型光學尺系統。讀頭內的動態訊號處理功能(包括自動增益控制與自動偏置控制)強化這項特色。此組合賦予 ATOM 更優的抗汙能力與訊號純度,足以媲美我們的標準化讀頭。SDE 20 µm 為 ±75 nm,40 µm 為 ±120 nm。因此,此微型讀頭具備平順的速度控制,有利於改善掃描性能及位置穩定性,這些是許多運動控制應用必備的基本特徵。

品質保證

ATOM 的自動生產線與快速交貨系統,確保產品的品質。ATOM 須通過多道品管流程,包括溫度與溼度檢測、震動檢測、ISO9001、靜電放電檢測、放射干擾檢測、傳導干擾檢測、LED 燒機與 100% 全檢。

介面選項

ATOM 提供多種介面選項,使光學尺與即有系統的整合更具彈性。

Ri 介面

  • Ri 介面提供類比 1Vpp 或數位內插輸出,此輸出精細至 50 nm(時脈)或 0.5 μm(非時脈),並在一小型低成本封裝內完成。
  • Ri 介面封裝於產業標準的 15 向 D 型連接器殼內,包括 CAL 按鈕。
Ri 介面(平方)

Ti 介面

  • Ti 介面為需要高速、低 SDE、細分精細至 1 nm 的數位內插應用所設計,且包括 CAL 按鈕。
  • 時脈輸出已針對產業標準控制器,在所有解析度下的速度與性能最佳化。
  • 另提供類比版本。Ti 介面(平方)

ACi 介面

  • ACi 介面係一系列的高性能、微型、開放式細分器子系統。
  • 這些介面為現今需要精細解析度的運動系統,提供無與倫比的價格性能效益,並以超小型、開放格式、小尺寸解決方案帶來高速效能,提供校準系統的功能。
  • 以最高 40 MHz 時脈輸出時,數位細分可精細至 10 nm。
  • 提供 FPC、纜線式或 PCB 連接器版本。
網站:ACi 用於 ATOM 讀頭

選配診斷工具組

ATOM 加密狗套件軟體監視器

可採用 ATOM 軟體優化 ATOM 光學尺的安裝,提供快速全面的系統調節。此軟體與與 ATOM 診斷硬體一起使用,即可使用 A-9411-0011 零件訂貨號向 Renishaw 購買。可透過 USB 線(於套件中提供)或客戶線上電子裝置連接硬體與電腦。

瞭解所有關於 ATOM 診斷工具組的資訊。

技術規格

量測標準

玻璃碼盤

讀頭尺寸(長 x 寬 x 高)

纜線版本:20.5 mm x 12.7 mm x 8.35 mm

FPC 版本:20.5 mm x 12.7 mm x 7.3 mm

光學尺刻距

20 µm 與 40 µm

熱膨脹係數

~8 µm/m/°C

盤外徑

40 µm:17 mm 至 108 mm

20 µm:30 mm 至 108 mm

如需更大尺寸,請聯絡 Renishaw

刻線數

40 µm:1 024 至 8 192
20 µm:4 096 至 16 384

參考原點

單一參考原點

刻度精度

±0.5 µm

最高速度 
類比


數位

(如需詳細資訊,請參閱規格資料表)

40 µm:高達 20 m/s

20 µm:高達 10 m/s

視介面類型而定。如需詳細資訊,請參閱規格資料表

40 µm:高達 20 m/s

20 µm:高達 10 m/s

細分誤差 (SDE)

40 µm 版本:一般低於 ±120 nm

20 µm 版本:一般低於 ±75 nm

動態訊號控制

即時訊號調節,包括自動增益控制 (AGC) 及自動偏置控制 (AOC),優化各種操作條件下的性能

增量訊號 
                           類比 
                                  數位


1 Vpp
解析度自 10 µm 至 1 nm

(若要瞭解角度解析度的詳細資訊,請參閱規格資料表)

電氣接線

纜線讀頭:板間連接器相容於 Ri、Ti 及 ACi 介面,或 15 向 D 型連接器
FPC 讀頭:16 芯,0.5 mm 絞距,相容於 ACi

電源

5 V ± 10% <50 mA(讀頭)、<200 mA(使用 Ti 介面)、 <100 mA(使用 Ri 介面)、<100 mA(使用 ACi 介面)(終端未連接)

振動(工作)

於 55 Hz 至 2000 Hz 範圍達到最高速 100 m/s²

衝擊(非工作)

1000 m/s²、6 ms、½ 正弦

工作溫度

0 °C 至 +70 °C

防護等級

纜線版本:IP40 Ri 介面 IP20
FPC 版本:IP20(已安裝蓋子)

Ri/Ti 介面:IP20

ACi 介面:IP00

如需完整的詳細資訊,請參閱規格資料表。

下載

規格資料表

軟體

  • ATOM™ 診斷軟體版本 1.0 [en]

使用者指南

工作原理

技術繪圖

ATOM 採用的非準直 LED 位於增量與參考原點感測器正中央。這組高發散 LED 的高度較低,且在光學尺上的體積比 LED 大,能讓增量與參考原點區域發亮。

ATOM 採用 Renishaw 所有增量式光學尺採用的過濾光學鏡組機構。未同調的 LED 會產生高純度的簡諧波長訊號,提供高解析度分割。此外,高效率的測光法也會產生少量抖動訊號。ATOM 使用的過濾光學鏡組還有另一個優勢,就是它不會因光學尺污染與不平而導致量測錯誤。

ATOM 運用大型單一功能偏離光學參考原點,擁有良好的抗污效果。定向參考原點就和運用 TONiC 作業同樣簡便。

ATOM™ 光學配置附註解