ATOM™ 增量式光學尺系統搭配 RKLF 線性和部分弧線光學尺
特性
- 讀頭尺寸：20.5 x 12.7 x 8.35 mm (FPC 版本：20.5 x 12.7 x 7.3 mm)
- 解析度可達 1 nm
- 速度高達 20 m/s
- 類比或數位輸出
- 低細分誤差 (SDE)：20 µm 版本 < ±75 nm、40 µm 版本 < ±120 nm
優點
- 微型封裝
- 採用光學濾波系統設計，具備優異的抗汙能力
- 提供診斷套件協助處理棘手安裝與系統優化。
- 寬度 6 mm 的精細光學尺適合應用於空間有限的情況
- 適用於部分弧線測量
- 品質保證
何謂 ATOM？
ATOM 是 Renishaw 的微型非接觸增量式線性及旋轉光學尺系統。結合微型化設計與先進的訊號穩定能力、抗汙能力與可靠性。這項結合在市場上極為獨特，代表微型光學尺在性能與可靠性的大幅進步。
ATOM 配備高彈性纜線與撓性印刷電路板排線 (FPC)，提供 20 µm 或 40 µm 光學尺選項。
提供各種介面可供選擇，包含標準 Ri、高效能 Ti 與小型開放式 ACi 介面。
何謂 RKLF 光學尺？
RKLF 是外型精細輕巧的不鏽鋼鋼帶光學尺，擁有 20 µm 和 40 µm 的刻距增量刻度，且客戶可自行選擇參考原點。精度高達 ±5 µm/m，長度達 10 公尺（可依要求大於 10 m）。RKLF 兩端牢牢固定至基材時，即可固定於機器基材上，提升量測效能。
靈活的 RKLF40 光學尺也適用於部分弧線量測，截面積小，可讓光學尺環繞在半徑最小為 26 mm 的鼓、軸或圓弧內。
為什麼選擇這種光學尺系統？
微型光學尺適合狹小空間
ATOM 的尺寸小至 7.3 mm x 20.5 mm x 12.7 mm，可整合至最狹窄的空間。多種選項可供選擇，包括有線及元件型 FPC 版本。
高可靠性與系統效能
ATOM 是全球第一台採用 Renishaw 獨特過濾光學鏡組設計的微型光學尺系統。讀頭內的動態訊號處理功能（包括自動增益控制與自動偏置控制）強化這項特色。此組合賦予 ATOM 更優的抗汙能力與訊號純度，足以媲美我們的標準化讀頭。SDE 20 µm 為 ±75 nm，40 µm 為 ±120 nm。因此，此微型讀頭具備平順的速度控制，有利於改善掃描性能及位置穩定性，這些是許多運動控制應用必備的基本特徵。
精細且堅固耐用的多功能光學尺
RKLF 是一種寬度 6 mm 的不鏽鋼光學捲尺，堅實耐用，厚度僅有 0.15 mm，此特性可讓光學尺在牢牢固定至機器軸時，「固定」於機器基材上，以符合其熱膨脹係數和反應，藉此將光學尺和機器間的移動差降至最低。
RKLF 部分弧線光學尺
RKLF40 光學尺可方便切割成所需長度，並輕鬆安裝在圓柱形基材上，無須複雜的安裝特徵或公差精密的對準表面。
介面選項
ATOM 提供多種介面選項，使光學尺與即有系統的整合更具彈性。
Ri 介面
- Ri 介面提供類比 1Vpp 或數位內插輸出，此輸出精細至 50 nm（時脈）或 0.5 μm（非時脈），並在一小型低成本封裝內完成。
- Ri 介面封裝於產業標準的 15 向 D 型連接器殼內，包括 CAL 按鈕。
Ti 介面
- Ti 介面為需要高速、低 SDE、細分精細至 1 nm 的數位內插應用所設計，且包括 CAL 按鈕。
- 時脈輸出已針對產業標準控制器，在所有解析度下的速度與性能最佳化。
- 另提供類比版本。
ACi 介面
- ACi 介面係一系列的高性能、微型、開放式細分器子系統。
- 這些介面為現今需要精細解析度的運動系統，提供無與倫比的價格性能效益，並以超小型、開放格式、小尺寸解決方案帶來高速效能，提供校準系統的功能。
- 以最高 40 MHz 時脈輸出時，數位細分可精細至 10 nm。
- 提供 FPC、纜線式或 PCB 連接器版本。
選配診斷工具組
可採用 ATOM 軟體優化 ATOM 光學尺的安裝，提供快速全面的系統調節。此軟體與與 ATOM 診斷硬體一起使用，即可使用 A-9411-0011 零件訂貨號向 Renishaw 購買。可透過 USB 線（於套件中提供）或客戶線上電子裝置連接硬體與電腦。
瞭解所有關於 ATOM 診斷工具組的資訊。
技術規格
量測標準 | 精細型不鏽鋼捲尺與自黏背膠帶，可直接安裝在基材上 適用於部分弧線應用（部分弧線最小半徑：26 mm） |
讀頭尺寸 (LxWxH) | 纜線版本：20.5 mm x 12.7 mm x 8.35 mm FPC 版本：20.5 mm x 12.7 mm x 7.3 mm |
柵距 | 20 µm* 與 40 µm *20 μm 不適用於部分弧線應用 |
熱膨脹係數（20 °C 時） | 線性：光學尺尾端安裝端蓋時，能符合基板材質 |
精度等級（20°C 時） | 40 μm（高精度）：±5 μm/m 40 μm：±15 μm/m 20 μm：±5 μm/m |
參考原點 | 可不選擇的光學性 |
限位開關 | N/A |
光學尺長度 | 長達 10 m（可依要求供應 10 m 以上長度） |
最高速度
| （如需詳細資訊，請參閱規格資料表） 40 µm：高達 20 m/s 20 µm：高達 10 m/s 視介面類型而定。如需詳細資訊，請參閱規格資料表 40 µm：高達 20 m/s 20 µm：高達 10 m/s |
細分誤差 (SDE) | 40 µm 版本：一般低於 ±120 nm 20 µm 版本：一般低於 ±75 nm |
動態訊號控制 | 透過即時訊號調節，包括自動增益控制 (AGC) 和自動偏置控制 (AOC)，在整個工作條件範圍內實現性能優化 |
增量訊號 |
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電氣連接 | 纜線讀頭：板間連接器相容於 Ri、Ti 及 ACi 介面，或 15 向 D 型連接器 |
電源 | 5 V ± 10% < 50 mA（讀頭）、< 200 mA（搭配 Ti 介面）、< 100 mA（搭配 Ri 介面）、< 100 mA（搭配 ACi 介面）（無端接） |
振動（運作時） | 於 55 Hz 至 2000 Hz 範圍達到最高速 100 m/s² |
衝擊（非工作） | 1000 m/s²、6 ms、½ 正弦 |
工作溫度 | 0 °C 至 +70 °C |
防護等級 | 纜線版本：IP40 Ri 介面 IP20 Ri/Ti 介面：IP20 ACi 介面：IP00 |
請參閱規格手冊，了解詳細資訊。