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組合/混合型拉曼系統

將其與各種製造商的其他分析系統結合,提升 inVia 的分析能力。

您可以用兩種以上的技術分析樣品,無須在兩種儀器之間奔波,進而達到最大效率。利用 Renishaw 的關聯顯微系統,您可以放心地以兩種技術分析同一點。

SPM/AFM:奈米解析度

將 inVia 結合掃描測頭顯微鏡 (SPM),例如原子力顯微鏡 (AFM),可用來研究材料的化學與結構特性。以 TERS 加入奈米級化學解析度,並透露如機械特性等補充資訊。

SEM:高倍率影像與元素分析

以 Renishaw 的拉曼 SEM-SCA 介面將 inVia 的拉曼分析能力,加入掃描電子顯微鏡。使用 SEM 記錄您樣品的高解析度影像,並使用 X 光執行元素分析。加入拉曼能力,以識別材質與非金屬化合物,即使他們具有相同的化學計量法。

奈米壓痕:機械特性量測

透過量測,現場將壓痕的機械特性與拉曼的全方位化學分析直接進行關聯處理。

CLSM:共軛焦影像

若您的樣品具有複雜的 3D 結構 (或許是生物細胞),可將共軛焦雷射掃描顯微鏡 (CLSM) 加入您的 inVia,進行螢光影像與拉曼化學影像的關聯處理。

相互結合,獲得更多能力

關聯成像技術可提供平常無法取得的特定資訊。如需更多資訊瞭解如何將 inVia 結合其他分析系統,請聯絡我們。

深入瞭解

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以下文章發行於 2015 年 4 月,對本文章的複製已獲得 Microscopy and Analysis Journal/Wiley 的善意許可。

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