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全系列

Renishaw 的測針能達成各種需求及任務,此外也能與 Zeiss、FARO 或其他廠牌測頭相容。

測針應用

Renishaw 提供最齊全的精密測針與測針附件,以便用於我們的 CMM、工具機、掃描測頭及 Equator™ 檢具系統。

選擇掃描測針

在三次元量床和工具機上執行零件掃描和數位化,必須審慎挑選合適的測針。

選擇適合您應用的正確測針

掃描測針的選擇取決於掃描應用和掃描測頭的類型。使用直徑和生產工件所用最終切削刀具直徑相同的測針。

盡可能選擇短的測針以防過度彎曲,但需確保足夠的測針長度以防掃描到刀柄。

應用考慮因素

進行點量測時,測針球體與量測物體表面接觸的時間非常短。掃描的不同之處是測針球會滑過工件表面。因為測針球持續碰觸工件表面,所以兩者滑動接觸時間會特別長。

Renishaw 已執行過大規模的研究計畫,檢視測球材料與工件表面之間的交互作用。所有測球材料測試均指出,工件材料會堆積在測球表面。在檢測之間,建議使用乾燥的無棉絮布清潔測球,以免留下殘渣。

磨耗堆積(掃描磨耗材料時)

例如,若量測以鑄鐵製成的組件,測針測球與工件表面都會遭受磨耗與堆積。微小的殘留顆粒會刮傷測針測球與工件表面。此類型的應用建議使用氧化鋯測針測球,將此效應降到最低。

磨耗堆積(掃描鋁合金零件時)

將紅寶石球用於掃描鋁合金表面時,這兩種材料會相互吸引。材料通常會從硬度較軟的表面,傳到較硬的表面。換言之,鋁會堆積在紅寶石球的表面,且僅使用測針球上的單一接觸面,進行 100 m 連續量測後,便可清楚看見一層鋁。我們建議針對此類應用使用氮化矽製成的測針測球。此材質會排斥鋁,因此鮮少發生堆積效應。