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EVOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RTLA50 線性光學尺

特性

  • 序列介面:BiSS® C、FANUC、Mitsubishi、Panasonic、Siemens DRIVE-CLiQ®、Yaskawa
  • 讀頭尺寸:36 x 16.5 x 17.2 mm
  • 速度高達 100 m/s 時能達到 50 nm 解析度
  • 20 °C 時精度為 ±10 µm/m
  • 20 °C 時的光學尺熱膨脹係數:10.1 ±0.2 µm/m/°C
  • 提供側邊纜線插座板

優勢

  • 超高抗汙能力
  • 寬廣的設定公差
  • 卓越的運動控制性能
  • RMS 抖動低於 10 nm,提升位置穩定性
  • ±150 nm 細分誤差,速度控制平穩
  • 可選擇側邊安裝,且讀頭可翻轉,使安裝更具彈性
  • 選購的進階診斷工具 (ADT)

網站橫幅的透明修補程式

什麼是 EVOLUTE?

EVOLUTE 系列根據 Renishaw 經業界認可的絕對式技術而打造,是真正絕對非接觸式光學尺,具有 50 µm 光學尺週期,可帶來絕佳的安裝公差和更優異的抗汙能力,非常適合應用在極需高度操作整合性、但安裝速度又相當重要的情況。

最低至 50 nm 的解析度搭配低 SDE 與低抖動,加上最先進光學設計與高速訊號處理能力,使 EVOLUTE 光學尺能夠帶來預期的效能,滿足最嚴苛 OEM 應用方式的需求。


什麼是 RTLA50 光學尺?

RTLA50 內建 RTLA 相同的不鏽鋼光學捲尺,但改為 50 µm 刻距的絕對式光學尺編碼。精度高達 ±10 µm/m,長度達 10.02 公尺。提供兩種安裝方式,兩者皆有獨立光學尺熱膨脹和光學捲尺的便利性。

  • RTLA50 能與劃時代的 FASTRACK™ 光學尺承載系統搭配使用。此系統的軌道鋪設迅速簡便,無須使用固定孔。只要取下隔板,捲尺隨即送入軌道。
  • RTLA50-S 以自黏背膠帶鋪設於基材。自黏膠的設計能使光學尺獨立擴展於基材。

為了完成安裝,兩種光學尺皆夾固在一點以提供基準位置。

為何選擇此光學尺系統?

查錯與維修容易

進階診斷工具 ADTa‑100 可由 EVOLUTE™ 光學尺讀頭取得全面即時資料。相關資訊會透過易於使用的 ADT View 軟體介面顯示。儘管在大部分情況下,光學尺中的一體式設置 LED 已足以設定系統,此 ADT 仍可用於輔助更具挑戰性的安裝。ADT還能回報光學尺效能並協助系統查錯,避免機器停機時間過長。

安裝快速又簡單

在 OEM 應用環境中,機器組裝時間至關緊要,因為安裝元件的過程所省下的時間可縮短製程的前置作業時間,最終帶來更高獲利能力。EVOLUTE 讀頭寬廣的安裝高度和安裝公差(安裝高度為 0.8 mm,公差為 ±0.25 mm)透過一體式設置 LED 的即時驗證,可確保安裝快速又簡單,省去微調所需的時間。這項透過進階光學技術所提供之優異的設定公差,捨棄了採用集軌並列(一個增量、一個絕對)的傳統絕對式量測技術,因為這種技術只要發生些許角度準直調整錯誤,就會產生移相問題。

穩定的操作

對生產機械設備的使用者而言,減少停機時間乃是第一要務。EVOLUTE 光學尺透過可為光學系統提供高抗汙能力的多種機制確保機器正常運作時間。例如數位訊號處理器 (DSP) 可用於分析自訂影像感測器中擷取的資料,並搭配光學成像系統來解決油汙造成的光散射效應,避免光學尺失效;自訂點狀光源 LED 則能改變自身的閃光持續時間,以提供適合所有移動速度的最佳訊號完整性;而內建於絕對式編碼模式的大量冗餘,則使 EVOLUTE 讀頭能夠在因微粒汙染而造成局部模糊的光學尺工件上正常運作。

外部介面選項

Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面

  • Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備搭配RESOLUTE真正絕對式光學編碼器使用的DRIVE-CLiQ介面
  • 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入
  • 顯示通訊警報
  • 重複讀頭 LED

其他可用的序列介面不需要外部介面。

選配的進階診斷工具 ADTa-100

進階診斷工具 ADTa-100

EVOLUTE 光學尺系統相容於進階診斷工具 ADTa-100 和 ADT View 軟體。這些工具能提供全方位即時光學尺資料回饋,有利於執行挑戰較高的安裝與診斷作業。直覺式軟體介面可用於下列操作:

  • 遠端校正
  • 全軸長訊號最佳化
  • 光學尺位置的數位讀數(相對於光學尺)
  • 匯出與儲存資料
  • 設定為零

序列介面

序列介面說明規格資料表相容產品
BiSS C

Renishaw 於其絕對式光學尺支援 BiSS C(單向)開放來源通訊協定。BiSS C 為高速序列介面,非常適合用於需要高加速度、平順速度控制、優異重複性和可靠定位穩定性的動態軸。
EVOLUTE 線性光學尺版本支援 BiSS C,相容於各種業界標準控制器、驅動器、DRO 及 PC 計數器介面卡。

EVOLUTE BiSS C

BiSS C 相容產品頁面

FANUCEVOLUTE 搭配 FANUC(α 和 αi)序列介面可用於線性應用。
EVOLUTE 為使用 FANUC 控制器的高性能工具機帶來許多優勢。更高的速度、堅固耐用的純序列通訊、優異的輪廓加工性能及更理想的伺服剛性。此外,非接觸式格式能消除反向間隙、軸扭曲(扭轉)及其他遲滯錯誤等傳統封閉式光學尺令人困擾之處。
EVOLUTE FANUCN/A

Mitsubishi

EVOLUTE 搭配 Mitsubishi 序列介面可用於線性格式。EVOLUTE 能與 J4 和 J5 系列伺服驅動器相容,在工具機應用方面則相容於 MDS-D2/DH2/DM2/DJ 驅動器。

EVOLUTE Mitsubishi

N/A

Panasonic

EVOLUTE 搭配 Panasonic 序列介面可用於線性格式。RESOLUTE 與 A5 和 A6 驅動器系列相容,提供高解析度重複回饋,帶來更佳的伺服及速度控制。

EVOLUTE Panasonic

N/A
Siemens DRIVE-CLiQ

EVOLUTE 搭配 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面可(透過外部介面)用於線性應用。Siemens DRIVE-CLiQ 為功能強大的創新通訊介面,可讓光學尺和直接量測系統連結至 SINUMERIK 和 SINAMICS 驅動器元件。

EVOLUTE Siemens DRIVE-CLiQN/A
Yaskawa

EVOLUTE 搭配 Yaskawa 序列介面可用於線性格式,且相容於 Sigma-5 與 Sigma-7 SERVOPACK。

EVOLUTE YaskawaN/A

技術規格

量測標準

FASTRACK RTLA50:不鏽鋼光學捲尺與攜帶系統

RTLA50-S: 不鏽鋼絕對式編碼光學捲尺與自黏背膠帶,可直接安裝在基材上,無須使用 FASTRACK 導軌

讀頭尺寸(長 x 寬 x 高)

36 mm x 16.5 mm x 17.2 mm

光學尺刻距

標稱為 ±50 μm

熱膨脹係數(20 °C 時)

10.1 ±0.2 μm/m/°C

精度等級(20°C 時)

±10 μm/m

光學尺長度

部分 BiSS C 通訊協定版本設有長度上限(請參閱規格資料表以瞭解詳情)

FASTRACK:100 mm 至 10.02 m

RTLA50/RTLA50-S:高達 10.02 m

最高速度

(如需詳細資訊,請參閱規格資料表)

最高 100 m/s

序列介面*

BiSS C、FANUC、Mitsubishi、Panasonic、Siemens DRIVE-CLiQ、Yaskawa

解析度

BiSS C、FANUC、Mitsubishi、Panasonic、Yaskawa 可達 500 nm、100 nm 及 50 nm

Siemens DRIVE-CLiQ 可達 50 nm

細分誤差 (SDE)

±150 nm

電氣接線

BiSS C、FANUC、Mitsubishi、Panasonic、Yaskawa 適用纜線長度包括 0.5 m、1 m、1.5 m 或 3 m,配備 9 向 D 型連接器

Siemens DRIVE-CLiQ 適用 M12

電源

5 V ±10%、max 250 mA @ 5 V(終端未連接)

振動(工作)

於 55 Hz 至 2000 Hz 範圍達到最高速 300 m/s2、3 軸

衝擊(非工作)

1 000 m/s2、6 ms、½ 正弦、3 軸

工作溫度

0 °C 至 +80 °C

防護等級

IP64

如需完整的詳細資訊,請參閱規格資料表。

*正持續增加其他序列介面。