全新感測器可在三次元量床（CMM）上進行全自動表面光潔度量測。

表面光潔度檢測完全整合到CMM量測程式中。

2011年7月25日

Renishaw為其革命性的REVO®五軸量測系統新增了一個新的測頭選項，從此，表面光潔度檢測得以與CMM量測程式完全整合。

擁有6.3到0.05 Ra的量測能力，SFP1表面光潔度測頭提供了獨一無二的「單一平臺」，不再需要手持感測器，也不必將工件移動到價格昂貴的專用表面光潔度量測機台上，從而降低了勞動力成本和檢測前期準備時間。現在CMM使用者可以自動在工件掃描和表面光潔度量測之間切換，而且所有分析都包含在一個量測報告中。

高品質表面光潔度資料

作為REVO五軸量測系統的一個完全整合選項，SFP1表面光潔度測頭的使用者將得益於一系列強大的功能，得以提高檢測速度和靈活性。

該測頭含有一個C軸，並結合了REVO測頭的無限定位能力和一系列探針選擇，可讓測頭端部在任何角度自動定向來適應工件，確保擷取最高品質的表面資料。SFP1隨附兩個專用探針，即SFS-1直式探針和SFS-2曲柄式探針，可使用REVO系統的模組化更換架系統（MRS）在完全由量測程式進行控制的情況下選擇這兩個探針。從而使組件特徵的靈活存取可與全自動CNC方法的一致性相結合。

SFP1表面光潔度測頭是一個帶有2 μm（0.000079英吋）端部半徑鑽石探針的滑動測頭類型，可透過Renishaw的使用I++ DME協定的UCCServer軟體輸出Ra、RMS和原始資料格式至計量應用程式客戶端軟體。原始資料隨後可以提供給專業的表面分析套裝軟體，以執行更詳細的報告。

自動表面光潔度測頭校正

感測器的校正也自動在CMM軟體程式內執行。新的表面光潔度校準偽像（SAF）安裝在MRS架上，並使用SFP1測頭進行量測。然後軟體根據偽像的校正值在測頭內調整參數。

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