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混合型拉曼系統

將 Renishaw 拉曼顯微鏡與各種製造商的其他分析系統結合,以提升其分析能力。

您可以用兩種以上的技術分析樣品,無須在兩種儀器之間奔波,進而達到最大效率。

利用 Renishaw 的關聯顯微系統,您可以放心地以兩種技術分析同一點。

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inVia 拉曼顯微鏡混合型系統

SPM/AFM:奈米解析度

將 inVia™ 拉曼顯微鏡結合原子力顯微鏡 (AFM) 等掃描測頭顯微鏡 (SPM),可用來研究材料的化學與結構特性。其中以針尖增強拉曼光譜 (TERS) 增添奈米級化學解析度,並揭露機械特性等補充資訊。

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混合型拉曼系統 SEM SCA

SEM 拉曼系統

透過 Renishaw 的拉曼結構化學分析儀 (SCA) 介面,將拉曼分析能力導入掃描電子顯微鏡 (SEM)。使用 SEM 記錄您樣品的高解析度影像,並使用 X 光執行元素分析。可識別物質及非金屬化合物,即使具有相同的化學計量數也沒問題。

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奈米壓痕:機械特性量測

結合 inVia 拉曼顯微鏡功能與奈米壓痕量測,並且直接將機械及磨潤特性與結晶度、多形性、相位及應力等化學資訊進行關聯處理。

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Hysitron inVia 拉曼系統

閱讀 Microscopy and Analysis Journal 中的文章

  • Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings [en]

    A variety of medical implants and microelectrode arrays for electrophysiology are fabricated in thin film and micro technology. To guarantee the quality, proper functionality and safe operation of these devices, analytical techniques to investigate the structure and chemical composition of surfaces and interfaces during the fabrication process and for final quality control are essential.

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