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增量式光學線性和旋轉光學尺現在具有1 nm的解析度和超低位置雜訊

TONiC增量式光學尺具有1nm和2nm解析度版本

TONiC線性光學尺,帶有介面、RSLM和RGSZ光學尺 位居光學尺技術領導地位的Renishaw公司,正式推出其成功的TONiC增量式光學尺系列的1nm和2nm解析度版本。新型的高解析度選配件供有線性光學尺和旋轉光學尺形式,包括標準的TONiC讀取頭和可套用高內插速率的新的Ti20KD(1 nm)或Ti10KD(2 nm)介面以達到更高的解析度。此外,TONiC採用優異的光測法的低雜訊光學設計與Ti20KD/Ti10KD介面內部的高級濾波相結合,將抖動(報告位置上的雜訊)降至0.51 nm RMS的超低水平。

顯著增強位置穩定性

TONiC增量式光學尺(T1000讀取頭和Ti20KD介面)的典型抖動圖 降低的抖動和增強的解析度造就了可提供顯著增強的位置穩定性和低速速度控制的光學尺。這是除所有TONiC讀取頭包含的標準動態訊號調理優勢之外的又一進步。

因此,1 nm和2 nm TONiC增量式光學尺可提供20微米刻距光學尺設定簡單、堅固性增強和優異的抗汙能力等所有優勢,而且,它們的解析度和雜訊水準可與更細刻距的光學尺媲美

可提供各種線性和旋轉光學尺

TONiC線性光學尺的版本可搭配多種不同的光學尺款式。RGSZ是Renishaw最新推出的十分普遍的鍍金鋼帶光學尺,現在具有內建的IN-TRAC光學參考標記。RELM殷鋼尺在長達1130 mm時,具有零熱膨脹和±1 µm精度,為了在長軸上達到高性能和顯著優於玻璃光學尺的堅固性,可採用RSLM不銹鋼條尺,其在5 m的長度範圍內,整體精度可達±4 µm,最高可提供10m的長度規格。此外,為了實現最快速和簡單的安裝,新型FASTRACK線性光學尺系統隨附薄型RTLC鋼帶光學尺,具有±5 µm/m的精度。

旋轉(角度)光學尺選配件也供應充足,供有一系列52 mm到550 mm標準直徑的RESM環,還可提供更大的尺寸。如需更高的性能,可採用超高精度REXM環,它與雙讀取頭搭配使用時,在大於100 mm的圓環直徑上擁有優於1弧秒的整體安裝精度。

介面按其內插倍數命名: Ti20KD指20k數位內插(正交後),等於1 nm解析度。

與所有Renishaw光學尺產品一樣,TONiC增量光學尺在世界各地同樣具備能迅速回應客戶需求的銷售和技術支援團隊。此外,該產品符合最高環評標準,通過WEEE和RoHS的認證。

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