太陽能
拉曼光譜是開發現有和次世代太陽能技術的領航員。不僅能用於研發工作，也可判定生產品質。
更加瞭解您的裝置
您可利用 Renishaw 拉曼系統檢驗所有目前及新興的主要太陽能材料（矽基、CIGS、CdTe、有機物、III-V 等），並判定各種材料的特性。您可判定的關鍵材料特性如下：
- 合金比例
- 電子效率
- 張力/應力
- 薄膜厚度
- 晶體結構類型和方向
- 晶體品質
- 樣品均勻性和純度（例如瑕疵和污染物）
任何裝置大小
分析最終裝置，以判定生產製程對品質和效能造成的影響。Renishaw 提供各種選項容納不同大小的裝置。我們專精於生產自由空間顯微鏡和訂製解決方案，因應最大尺寸的需求，可用於執行完整的模組分析。
掌握全局
拉曼影像是太陽能開發的關鍵工具，可揭露材料特性在各個裝置之間的差異情形。
Renishaw 的 StreamLine™ 和 Slalom 技術，可因應您對靈活性的所有需求。不論您需要什麼樣的解析度，都能對大小區域進行分析，協助更加瞭解整體裝置，而不是只瞭解其中的一小部分。
轉型太陽能分析
為了探索拉曼分析提供的豐富資訊，以及這些資訊如何顛覆您對太陽能電池功能的瞭解，請閱讀以下所列的部分文獻，其中詳細說明對真實太陽能面板進行的拉曼/光電流分析。
下載：材料科學（太陽能）
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Application note: Photocurrent measurements on the inVia™ confocal Raman microscope [en]
When light interacts with semiconducting materials it can induce electrical currents (‘photocurrents’). These currents carry information about the electronic, optical, and charge transport properties of the material. This information is complementary to that obtainable from Raman scattering, which can identify physical changes in the material properties. This application note demonstrates the capability to simultaneously collect Raman and photocurrent data using the photocurrent mapping module concurrently with an inVia Raman microscope.
[1.6MB] -
Poster: Simultaneous photocurrent and Raman mapping of single crystalline silicon solar cell modules [en]
A poster demonstrating the inVia's capabilities at studying the efficiency of solar cells against the quality of their manufacture.
[914kB]
