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QUANTiC™ 增量式編碼器系統搭配 RTLC40 線性光學尺

特性

  • 工作安裝高度公差為 ±0.3 mm
  • 數位輸出
  • 讀頭尺寸:35 x 13.5 x 10 mm
  • 能達到 50 nm 解析度
  • 速度高達 24 m/s
  • 優異的抗污能力
  • 光學 IN‑TRAC™ 參考原點
  • 雙限位

優勢

  • 安裝簡便
  • 無需單獨介面
  • 相容於進階診斷工具 ADTi-100,可輕鬆進行查錯以及處理棘手的安裝與維修問題
  • 可搭配鋼帶與攜帶型光學尺使用
網站橫幅的透明修補程式

何謂 QUANTiC?

QUANTiC 光學尺系列整合了 Renishaw 的濾光學鏡組設計與細分技術,可用來建立高效能、超輕巧型、數位多合一增量開放式光學尺系列。QUANTiC 光學尺系統的安裝和運作公差極為寬廣,且具有內建安裝和校正功能,因此安裝相當容易。安裝期間或進行現場診斷和查錯時,使用進階診斷工具 ADTi-100 和 ADT View 軟體可存取進一步的診斷資訊。速度最高達 24 m/s,能夠滿足最嚴苛的運動控制需求。QUANTiC 光學尺提供低至 50 nm 的解析度與多種配置,輕輕鬆鬆就能完成最佳化。動態訊號處理能力提供更出色的訊號穩定性,使您的運動控制系統表現出優異效能。

什麼是 RTLC40 光學尺?

RTLC40 是一種輕巧的不鏽鋼光學捲尺,擁有 40 µm 的刻矩增量刻度,並提供 IN-TRAC 客戶自選定參考原點。提供兩種精度級別,包括標準精度 ±15 µm/m 和高精度 ±5 µm/m。兩者皆提供長達 10 公尺的長度規格(可依要求提供 10 公尺以上長度)。提供兩種安裝選擇,皆允許獨立熱膨脹且具備光學捲尺的便利性。

  • RTLC40 能與創新 FASTRACK™ 光學尺承載系統搭配使用。此系統的軌道鋪設迅速簡便,無須使用固定孔。只要取下隔板,捲尺隨即送入軌道。
  • RTLC40-S 以自黏背膠帶鋪設於基材。自黏膠的設計能使光學尺獨立膨脹,不受基材影響。

為了完成安裝,兩種光學尺皆夾固在一點以提供基準位置。

為何選擇此光學尺系統?

安裝簡便

在 OEM 應用環境中,機器組裝時間至關緊要,因為安裝元件的過程所省下的時間可縮短製程的前置作業時間,最終帶來更高獲利能力。QUANTiC 光學尺系列藉由在增量式產品上提供的寬廣的設定公差(偏擺角安裝公差為 ±0.9°,安裝高度公差則為 ±0.2 mm)與讀頭上的一體式設置 LED,來滿足此種需求。由於安裝公差經過改良,產品因此可以獲得更快的安裝程序、更低的間接成本和更高的產能等諸多好處。

全方位數位光學尺系統

QUANTiC 結合高速細分與令人印象深刻的量測效能,即使是要求極高的應用也適合使用,是光學尺的最佳選擇。多種可用配置供使用者依據運動控制要求使用,能使系統的速度和解析度達到最佳狀況。此外,QUANTiC 讀頭與線性和旋轉(角度)光學尺兩者結合使用,可滿足各種精度需求。安裝快速簡便,特別適合大量生產使用。

高抗污能力

由於 QUANTiC 光學尺系統具備多項先進的設計特色,因此防塵和防污染能力十分優異。QUANTiC 讀頭具備 Renishaw 完善的過濾光學鏡組,能均化許多刻度週期的作用,並且有效篩選非週期特徵,例如髒汙。自動增益控制 (AGC)、自動偏置控制 (AOC) 和自動平衡控制 (ABC) 等多種電子訊號處理演算法皆可進一步強化測量訊號。QUANTiC 編碼器具備全新的感測器設計,提供第三層訊號過濾功能,有助於消除因光學尺污染物引起的非諧波訊號頻率。這些訊號調節功能相互結合,可確保提供低細分誤差 (SDE),以及在受污染影響情況下將訊號變異控制在最低情況。

選配的進階診斷工具 ADTi-100

VIONiC 進階診斷工具

QUANTiC 光學尺系統能相容於進階診斷工具 ADTi-100ADT View 軟體。這些工具能提供全方位即時光學尺資料回饋,有利於執行更加艱困的安裝與診斷作業。直覺式軟體介面可用於下列操作:

  • 遠端校準
  • 全軸長訊號最佳化
  • 讀頭刻線距離指示
  • 限制與參考原點指示
  • 光學尺位置的數位讀數(相對於光學尺)
  • 監控時速表
  • 匯出與儲存資料

技術規格

量測標準

FASTRACK RTLC40:不鏽鋼光學捲尺搭配軌道安裝系統

RTLC40-S:不鏽鋼光學捲尺搭配黏性背膠,可直接安裝在基材上,無須使用 FASTRACK 導軌

讀頭尺寸(長 x 寬 x 高)

35 mm x 13.5 mm x 10 mm

光學尺刻距

40 μm

熱膨脹係數(20 °C 時)

10.1 ±0.2 μm/m/°C

精度等級(20°C 時)

40 μm(高精度):±5 µm/m
40 μm:±15 μm/m

參考原點

IN-TRAC 的參考原點標記直接嵌入 RTLC40/RTLC40-S

磁性選擇器用來辨識所選的參考原點

限位開關

雙限位

光學尺長度

FASTRACK:100 mm 至 25,000 mm

RTLC40/RTLC40-S:20 mm 至 10,000 mm

(可依要求供應 10,000 mm 以上長度)

最高速度

最高 24 m/s

(如需詳細資訊,請參閱規格資料表)

細分誤差 (SDE)

一般低於 ±80 nm

動態訊號控制

即時訊號調節,包括自動增益控制 (AGC)、自動平衡控制 (ABC) 及自動偏置控制 (AOC),在各種作業狀況下提供最佳效能

增量訊號


10 μm 至 50 nm 的解析度

(如需詳細資訊,請參閱規格資料表)

電氣接線

0.2m、0.5 m、1 m、1.5 m、2 m 和 3 m 纜線長度搭配 D 型連接器(9 和 15 針腳)或圓型串聯連接器(12 針腳)

0.5 m、1 m、3 m 纜線長度,14 向 JST 型連接器

電源

5 V -5%/+10%,標準 <200 mA 完全端接

振動(工作)

於 55 Hz 至 2 000 Hz 範圍達到最高速 100 m/s2、3 軸

衝擊(工作)

500 m/s2、11 ms、½ 正弦、3 軸

工作溫度

0 °C 至 +70 °C

防護等級

IP40

如需完整的詳細資訊,請參閱規格資料表。

下載

規格資料表

使用指南

 

工作原理

QUANTiC 光學尺具備 Renishaw 第三代獨特過濾光學鏡組,能均化許多光學尺週期的作用,並且有效篩選非週期特徵,例如髒汙。表面方波刻距模型也經過篩選,在光感測器留下純粹正弦的干涉條紋。其中使用了一種多指結構,精細到足以產生四種對稱相位訊號形式的光電流。這些結合是為了移除 DC 元件及產生正弦與餘弦訊號輸出,具備高光譜純度與低偏移,維持高達 500 kHz 的頻寬。

完全整合的先進動態訊號調節功能(包括自動增益控制、自動平衡控制及自動偏置控制),確保能提供小型旋轉系統低於 ±80 nm,大型旋轉系統低於 ±150 nm 且線性系統低於 ±80 nm 的低細分誤差 (SDE)。

進化的過濾光學鏡組結合精心設計的電子裝置,提供寬頻寬增量訊號,達到旋轉系統 8,800 rpm、線性系統 24 m/s 的最高速度與最低位置抖動(雜訊),遠勝於同級編碼器。讀頭內進行細分,透過額外的降噪電子工具加強高解析度版本,將抖動降低至 2.73 nm RMS。

QUANTiC™ 光學配置附註解

IN-TRAC 參考原點完全整合至增量式光學尺,並由讀頭內的光感測器偵測。這樣獨特的配置歸功於自動校準程序,以電子方式定相參考原點及最佳化增量訊號。