Renishaw 在其 inVia 共軛焦拉曼顯微鏡產品中新增全方位成像選項

2015 年 1 月 22 日

Renishaw 將於 3 月 8 日 – 12 日舉辦的 Pittcon 2015（地址：Ernest N. Morial Convention Center, New Orleans, USA）展出 inVia 共軛焦拉曼顯微鏡。

inVia 系統可讓使用者利用最寬廣的拉曼成像技術來研究最廣泛的樣本。Renishaw 獨一無二的補償成像選項可讓使用者輕鬆獲取所需的化學與結構資訊。Renishaw 在 2808 號攤位的專家將解釋每項技巧的整體利益，以及透射拉曼如何提供最大彈性。

應用科學家 Pippa Law 將於 3 月 9 日下午 2.30 進行透射拉曼的簡報。她將詳細說明透射拉曼如何成為快速、定量分析大量同質材料的誘人方式。她將著重於製藥方面，並展示透射拉曼為應用帶來的豐厚利益，如藥片劑量和混合均勻度。

參加 Pittcon 與 Renishaw 共襄盛舉，或聯絡當地的業務代表查找 inVia 共軛焦拉曼顯微鏡產生優異拉曼影像的方式。

影像：碳化矽晶圓的拉曼影像呈現不同的水晶多型體。

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