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RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RKLA30 線性和部分弧線光學尺

特性

  • 通訊協定:BiSS®、DRIVE-CLiQ、FANUC、Mitsubishi、Panasonic、Yaskawa 
  • 讀頭尺寸:36 x 16.5 x 17.2 mm
  • 速度高達 100 m/s 時能達到 1 nm 解析度
  • 20 °C 時精度為 ±5 µm/m
  • 提供側邊纜線插座板
  • 選購的進階診斷工具 (ADT)

優勢

  • 寬度 6 mm 的精細光學尺適合應用於空間有限的情況
  • 適用於部分弧線量測
  • 卓越的運動控制性能
  • 高抗污能力
  • RMS 抖動低於 10 nm,提升位置穩定性
  • ±40 nm 細分誤差,速度控制平穩

網站橫幅的透明修補程式

何謂 RESOLUTE?

RESOLUTE 是真絕對式精細刻距光學尺系統,搭配卓越的計量效能。其專利技術能在最高 100 m/s 的速度下實現 1 nm 解析度。線性光學尺系統超低 SDE 和抖動帶來更理想的速度控制效能以及高位置穩定性。

英國女王企業獎:2015 年創新獎

 

此光學尺榮獲 2015 年英國女王企業創新獎。

何謂 RKLA30-S 光學尺?

RKLA30-S 是一種外型精細又輕巧的不鏽鋼光學捲尺,具有 30 µm 刻距絕對式光學尺編碼。精度高達 ±5 µm/m,長度達 21 公尺。RKLA30-S 兩端牢牢固定至基材時,即可固定於機器基材上,提升量測效能。

靈活的 RKLA30-S 光學尺也適用於部分弧線量測,其中的小型截面區域可讓光學尺環繞基準、軸或圓弧。

為何選擇此光學尺系統?

查錯與維修容易

進階診斷工具 ADTa‑100 可由 RESOLUTE™ 光學尺讀頭取得全面即時資料。相關資訊會透過易於使用的 ADT View 軟體介面顯示。儘管在大部分情況下,光學尺中的一體式設置 LED 已足以設定系統,此 ADT 仍可用於輔助更具挑戰性的安裝。ADT還能回報光學尺效能並協助系統查錯,避免機器停機時間過長。

卓越的運動控制性能

精密、可靠和創新運作原理賦予 RESOLUTE 領先業界的性能。更重要的是,此系統使用單軌非重複「條碼」光學尺格式,標稱刻距為 30 µm在此精密光學設計下,RESOLUTE 讀頭能捕捉幾近瞬間的光學尺影像,分析時也能在 100m/s 的速度下辨識特定位置。系統允許的位置辨識解析度高達 1nm(十億分之一公尺),不僅雜訊低(抖動低於 10 nm RMS),且SDE(細分誤差,即光學尺一個週期內的誤差)也只有 ±40 nm。這項優異的表現提供光學尺絕佳的回饋保真度,確保平順的速度控制與可靠的定位穩定性。

精細且堅固耐用的多功能光學尺

RKLA 是一種寬度 6 mm 的不鏽鋼光學捲尺,堅實耐用,厚度僅有 0.15 mm,此特性可讓光學尺在牢牢固定至機器軸時,「固定」於機器基材上,以符合其熱膨脹係數和反應,藉此將光學尺和機器間的移動差降至最低。

RKLA 部分弧線光學尺

RKLA 光學尺可以方便地切割至所需長度,並安裝在簡易圓柱形基材上,沒有複雜安裝特性或低容錯對齊表面。

介面選項 

DRIVE-CLiQ 介面

  • 此為 DRIVE-CLiQ 通訊協定必備介面搭配RESOLUTE真正絕對式光學編碼器使用的DRIVE-CLiQ介面
  • 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入
  • 顯示通訊警報
  • 重複讀頭 LED

  

不需要介面即可使用有提供的其他通訊協定。

選配的進階診斷工具 ADTa-100

進階診斷工具 ADTa-100

RESOLUTE 光學尺系統相容於進階診斷工具 ADTa-100 和 ADT View 軟體。這些工具能提供全方位即時光學尺資料回饋,有利於執行更加艱困的安裝與診斷作業。直覺式軟體介面可用於下列操作:

  • 遠端校準
  • 全軸長訊號最佳化
  • 光學尺位置的數位讀數(相對於光學尺)
  • 匯出與儲存資料
  • 設定為零

通訊協定

通訊協定說明規格資料表相容產品
BiSS®

Renishaw 於其絕對式光學尺支援 BiSS C(單向)開放來源通訊協定。BiSS 為高速序列通訊協定,常用於需要高加速度、平順速度控制、優異雙方重複性和可靠定位穩定性的動態軸。
RESOLUTE 線性及旋轉(角度)光學尺版本皆支援 BiSS ,兩者皆相容於多種符合產業標準的控制器、驅動器、DRO 及 PC 計數卡。

RESOLUTE BiSS

BiSS 相容產品頁

DRIVE-CLiQ

RESOLUTE 搭配 Siemens DRIVE-CLiQ 串列介面用於線性及旋轉應用。DRIVE-CLiQ 為功能強大的創新通訊介面,可連接光學尺與使用 SINUMERIK 和 SINAMICS 驅動元件的直接量測系統。

RESOLUTE DRIVE-CLiQ

N/A

FANUC

RESOLUTE 具有 FANUC 串列介面,適用於旋轉及線性應用。
RESOLUTE 為使用 FANUC 控制器的高性能工具機。更高的速度、堅固耐用的純序列通訊、優異的輪廓加工性能及更理想的伺服剛性。此外,非接觸式格式能消除反向間隙、軸扭曲(扭轉)及傳統封閉式光學尺令人困擾的其他遲滯錯誤。

RESOLUTE FANUC

N/A

Mitsubishi

RESOLUTE 具備 Mitsubishi 序列通訊介面,可採用旋轉及線性格式。RESOLUTE 能與 J4 伺服驅動器系列相容,在工具機應用方面則能與 MDS-D2/DH2/DM2/DJ 驅動器相容。

RESOLUTE Mitsubishi

N/A

Panasonic


RESOLUTE 具備 Panasonic 序列通訊介面,可採用線性與旋轉格式。RESOLUTE 與 A5 和 A6 驅動器系列相容,提供高解析度重複回饋,帶來更佳的伺服及速度控制。

RESOLUTE Panasonic

N/A

Yaskawa

RESOLUTE 搭配 Yaskawa 序列通訊介面可採用旋轉及線性型態,並相容於 Sigma-5 與 Sigma-7 SERVOPACK。

RESOLUTE Yaskawa

N/A

技術規格

量測標準

精細型不鏽鋼捲尺與自黏背膠帶,可直接安裝在基材上

適用於部分弧線應用(部分弧線最小半徑:50 mm*)

讀頭尺寸(長 x 寬 x 高)

36 mm x 16.5 mm x 17.2 mm

光學尺刻距

標稱為 ±30 μm

熱膨脹係數(20 °C 時)

10.1 ±0.2 μm/m/°C

精度等級(20°C 時)

±5 μm/m

光學尺長度

最長達 21 m 

最高速度

(如需詳細資訊,請參閱規格資料表)

最高 100 m/s

通訊協定

BiSS C                            Mitsubishi

DRIVE-CLiQ†                  Panasonic

FANUC                           Yaskawa

解析度

BiSS C:50 nm、5 nm 及 1 nm

DRIVE-CLiQ、FANUC、Mitsubishi 和 Yaskawa:50 nm 與 1 nm

Panasonic:100 nm、50 nm 及 1 nm

細分誤差 (SDE)

±40 nm

電氣接線

長達 10 m 纜線長度搭配 D 型連接器(9 針腳或 15 針腳)、飛線、FANUC 相容連接器、LEMO 及 M12

電源

5 V ±10%、max 250 mA @ 5 V(終端未連接)

振動(工作)

於 55 Hz 至 2000 Hz 範圍達到最高速 300 m/s2

衝擊(非工作)

1000 m/s2、6 ms、½ 正弦

工作溫度

0 °C 至 +80 °C

防護等級

IP64

如需完整的詳細資訊,請參閱規格資料表。

* 如需較小直徑,請聯絡您的 Renishaw 代表。

下載

規格資料表

使用者指南

白皮書

技術繪圖

工作原理

RESOLUTE 透過各種符合產業標準的通訊協定,以專屬或開放標準純序列格式進行雙向通訊。 

RESOLUTE™ 編碼器光學配置附註解

製程開始......

控制器在啟動操作時會將需求訊息傳送至讀頭,指示讀頭瞬間捕捉線性或旋轉光學尺上的絕對位置。讀頭以高功率 LED 光源閃爍照亮光學尺的方式做出回應。閃光只持續 100 ns,以免在活動軸上產生模糊影像。更重要的是,閃光時機控制在幾 ns 之內,以確保所需位置與回報位置的關係,這項不可或缺的特性,使 RESOLUTE 成為符合運動系統超高規格要求的理想選擇。 

 

 

單軌光學尺

此光學尺基本上是一種具備全寬對比線的單軌光學尺,標稱週期 30 µm。不採用多軌並列設計反而賦予此光學尺重要的防偏擺誤差能力,頭部位置的側向公差也有所改善。

取得影像

光學尺透過非球面鏡成像於專為 RESOLUTE 設計的客製化感測器陣列上,該非球面鏡可將失真程度減至最低。此光學尺採折疊光路與直接成像設計,輕巧且穩定,確保精密量測所需的保真度。

資料解碼與分析

感測器捕捉的影像透過類比轉數位轉換器 (ADC),轉送至功能強大的數位訊號處理器 (DSP)。接著由特別開發的演算法從嵌入光學尺的編碼中,擷取真正絕對但相對粗略的位置。此過程中 DSP 內的其他演算法,利用光學編碼內的冗餘與故意限制進行檢驗與矯正。在此同時,其他常式計算超高解析度精密位置,此位置接著與粗略位置結合,提供真正絕對的超高解析度位置。

最後檢查與資料輸出

完成最後錯誤檢查程序後,此資訊會透過適當的通訊協定以純序列文字上傳至控制器,位置解析度精細至 1 nm 以內。循環冗餘檢查(CRC)功能提供防電氣雜訊干擾保護。整個過程在幾微秒內完成,每秒可重複多達 25,000 次。在各種技術(包括配合軸速調整閃光持續時間)的支援下,即使在 100 m/s 的速度下也能呈現如此優異的表現,而更重要的則是能在低操作速度下展現極低的定位抖動。

結果...

具備寬廣安裝公差的光學尺:RESOLUTE 的偏擺角、俯仰角及翻轉角為 ±0.5°,安裝高度為絕佳的 ±150 µm。此外,寬廣的光學覆蓋區與先進的錯誤矯正程序賦予優異的抗光汙染能力,包括微粒物質和油汙。此光學尺具備上述優點,且在速度為 100 m/s 時保持在 1 nm 的解析度:RESOLUTE 是面對最艱難絕對挑戰時的唯一選擇。