RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RSLA30 線性光學尺

特性

序列介面：BiSS® C、FANUC、Mitsubishi、Panasonic、Siemens DRIVE-CLiQ®、Yaskawa
讀頭尺寸：36 x 16.5 x 17.2 mm
速度高達 100 m/s 時能達到 1 nm 解析度
20 °C 時，5 m 範圍的精度為 ±4 µm
20 °C 時的光學尺熱膨脹係數：10.1 ±0.2 µm/m/°C
提供了真空相容版及側邊纜線插座版

優勢

高精度光學尺
卓越的運動控制性能
絕佳的抗汙能力
寬廣的設定公差
RMS 抖動低於 10 nm，提升位置穩定性
±40 nm 細分誤差，速度控制平穩
選購的進階診斷工具 (ADT)

網站橫幅的透明修補程式

何謂 RESOLUTE？

RESOLUTE 是真正絕對式精細刻距光學尺系統，汙物抵擋能力卓越、規格出色，開創位置回饋領域的新境界。RESOLUTE 是世界上第一個能在高達 100 m/s 的速度下，實現 1 nm 解析度的絕對式光學尺。而且，RESOLUTE 線性光學尺系統的超低電子細分誤差 (SDE) 和抖動使其從同類光學尺中脫穎而出。

什麼是 RSLA30 光學尺？

RSLA30 為不鏽鋼光學尺，具備我們的 30 µm 刻矩絕對式光學尺編碼。
RSLA30 可媲美精細刻距玻璃光學尺，提供的整體精度（包括斜度與線性度）在長度超過 5 m 的情況下優於 ±4 μm。也可將其捲成圈，收納攜帶更為容易，解開後即可作為光學尺使用。
系統設計師可選擇特別配製的膠帶或機械夾片滿足安裝需求。兩種安裝方式均可供基板單獨進行熱膨脹。

為何選擇此光學尺系統？

查錯與維修容易

進階診斷工具 ADTa‑100 可由 RESOLUTE™ 光學尺讀頭取得全面即時資料。相關資訊會透過易於使用的 ADT View 軟體介面顯示。儘管在大部分情況下，光學尺中的一體式設置 LED 已足以設定系統，此 ADT 仍可用於輔助更具挑戰性的安裝。ADT還能回報光學尺效能並協助系統查錯，避免機器停機時間過長。

卓越的運動控制性能

精密、可靠和創新運作原理賦予 RESOLUTE 領先業界的性能。更重要的是，此系統使用單軌非重複「條碼」光學尺格式，標稱刻距為 30 µm在此精密光學設計下，RESOLUTE 讀頭能捕捉幾近瞬間的光學尺影像，分析時也能在 100m/s 的速度下辨識特定位置。系統允許的位置辨識解析度高達 1nm（十億分之一公尺），不僅雜訊低（抖動低於 10 nm RMS），且SDE（細分誤差，即光學尺一個週期內的誤差）也只有 ±40 nm。這項優異的表現提供光學尺絕佳的回饋保真度，確保平順的速度控制與可靠的定位穩定性。

寬廣的設定公差

RESOLUTE 不採用傳統集軌並列技術（一個增量、一個絕對），因為這種技術只要發生些許角度準直調整錯誤，就會產生移相問題。對此，RESOLUTE 改採單軌絕對式光學尺設計，將絕對位置和嵌入式相位資訊結合成單一編碼。此技術賦予 RESOLUTE 更寛廣的設定公差（偏擺公差 ±0.5°）以利快速安裝，即使運動軸在一些時間後發生沈降或移位，也能展現優異的長期穩定性。讀頭內建一個設定用的 LED 指示燈，可進一步協助安裝和診斷。

外部介面選項

Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面

Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備
此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入
顯示通訊警報
重複讀頭 LED

其他可用的序列介面不需要外部介面。

選配的進階診斷工具 ADTa-100

RESOLUTE 光學尺系統相容於進階診斷工具 ADTa-100 和 ADT View 軟體。這些工具能提供全方位即時光學尺資料回饋，有利於執行挑戰較高的安裝與診斷作業。直覺式軟體介面可用於下列操作：

遠端校正
全軸長訊號最佳化
光學尺位置的數位讀數（相對於光學尺）
匯出與儲存資料
設定為零

序列介面

序列介面	說明	規格資料表	相容產品
BiSS C	Renishaw 於其絕對式光學尺支援 BiSS C（單向）開放來源通訊協定。BiSS C 為高速序列介面，非常適合用於需要高加速度、平順速度控制、優異重複性和可靠定位穩定性的動態軸。 RESOLUTE 線性及旋轉（角度）光學尺版本皆支援 BiSS C，相容於各種業界標準控制器、驅動器、DRO 及 PC 計數器介面卡。	RESOLUTE BiSS C	BiSS C 相容產品頁面
FANUC	RESOLUTE 搭配 FANUC（α 和 αi）序列介面可用於旋轉及線性應用。 RESOLUTE 為使用 FANUC 控制器的高性能工具機帶來許多優勢。更高的速度、堅固耐用的純序列通訊、優異的輪廓加工性能及更理想的伺服剛性。此外，非接觸式格式能消除反向間隙、軸扭曲（扭轉）及其他遲滯錯誤等傳統封閉式光學尺令人困擾之處。	RESOLUTE FANUC	N/A
Mitsubishi	RESOLUTE 搭配 Mitsubishi 序列介面可用於旋轉及線性格式。RESOLUTE 能與 J4 和 J5 系列伺服驅動器相容，在工具機應用方面則相容於 MDS-D2/DH2/DM2/DJ 驅動器。	RESOLUTE Mitsubishi	N/A
Panasonic	RESOLUTE 搭配 Panasonic 序列介面可用於線性及旋轉格式。RESOLUTE 與 A5 和 A6 驅動器系列相容，提供高解析度重複回饋，帶來更佳的伺服及速度控制。	RESOLUTE Panasonic	N/A
Siemens DRIVE-CLiQ	RESOLUTE 搭配 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面可（透過外部介面）用於線性及旋轉應用。Siemens DRIVE-CLiQ 為功能強大的創新通訊介面，可讓光學尺和直接量測系統連結至 SINUMERIK 和 SINAMICS 驅動器元件。	RESOLUTE Siemens DRIVE-CLiQ	N/A
Yaskawa	RESOLUTE 搭配 Yaskawa 序列介面可用於旋轉及線性格式，且相容於 Sigma-5 與 Sigma-7 SERVOPACK。	RESOLUTE Yaskawa	N/A

技術規格

量測標準	絕對式編碼高精度不鏽鋼光學尺
讀頭尺寸（長 x 寬 x 高）	36 mm x 16.5 mm x 14.8 mm
光學尺刻距	標稱為 ±30 μm
熱膨脹係數（20 °C 時）	10.1 ±0.2 μm/m/°C
精度等級（20°C 時）	±1.5 μm 達到 1 m、±2.25 μm 達到 2 m、±3 μm 達到 3 m、±4 μm 達到 5 m，（包括斜度與線性度），校正可追溯至國際標準
光學尺長度	部分 BiSS C 通訊協定版本有長度限制（如需詳細資訊，請參閱規格資料表） 80 mm 至 5 m
最高速度	（如需詳細資訊，請參閱規格資料表）最高 100 m/s
序列介面*	BiSS C、FANUC、Mitsubishi、Panasonic、Siemens DRIVE-CLiQ†、Yaskawa
解析度	BiSS C：50 nm、5 nm 及 1 nm 解析度 FANUC、Mitsubishi 及 Siemens DRIVE-CLiQ†：50 nm 及 1 nm 解析度 Panasonic：100 nm、50 nm 及 1 nm 解析度 Yaskawa：50 nm 及 1 nm 解析度
細分誤差 (SDE)	±40 nm
電氣接線	長達 10 m 纜線長度搭配 D 型連接器（9 針腳或 15 針腳）、飛線、FANUC 相容連接器、LEMO 及 M12
電源	5 V ±10%、max 250 mA @ 5 V（終端未連接）
振動（工作）	於 55 Hz 至 2000 Hz 範圍達到最高速 300 m/s²
衝擊（非工作）	1000 m/s²、6 ms、½ 正弦
工作溫度	0 °C 至 +80 °C
防護等級	IP64

如需完整的詳細資訊，請參閱規格資料表。

*正持續增加其他序列介面。

†如需 Siemens DRIVE-CLiQ 規格，請參閱規格資料表。