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RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RTLA30 線性光學尺

特性

  • 序列介面:BiSS® C、FANUC、Mitsubishi、Panasonic、Siemens DRIVE-CLiQ®、Yaskawa
  • 讀頭尺寸:36 x 16.5 x 17.2 mm
  • 速度高達 100 m/s 時能達到 1 nm 解析度
  • 20 °C 時精度為 ±5 µm/m
  • 20 °C 時的光學尺熱膨脹係數:10.1 ±0.2 µm/m/°C
  • 提供了真空相容版及側邊纜線插座版

優勢

  • 光學捲尺方便耐用
  • 卓越的運動控制性能
  • 絕佳的抗汙能力
  • 寬廣的設定公差
  • RMS 抖動低於 10 nm,提升位置穩定性
  • ±40 nm 細分誤差,速度控制平穩
  • 選購的進階診斷工具 (ADT)

網站橫幅的透明修補程式

何謂 RESOLUTE?

RESOLUTE 是真正絕對式精細刻距光學尺系統,汙物抵擋能力卓越、規格出色,開創位置回饋領域的新境界。RESOLUTE 是世界上第一個能在高達 100 m/s 的速度下,實現 1 nm 解析度的絕對式光學尺。線性光學尺系統具有超低 SDE 及抖動效果,遠勝同級所有光學尺。

英國女王企業獎:2015 年創新獎

此光學尺榮獲 2015 年英國女王企業創新獎。

什麼是 RTLA30 光學尺?

RTLA30 是一種外型輕巧不鏽鋼光學捲尺,具有 30 µm 刻距絕對式光學尺編碼。精度高達 ±5 µm/m,長度達 21 公尺。提供兩種安裝選擇,皆允許獨立熱膨脹且具備光學捲尺的便利性。

RTLA30 能與創新 FASTRACK™ 光學尺攜帶系統搭配使用。此系統的軌道鋪設迅速簡便,無須使用固定孔。只要取下隔板,捲尺隨即送入軌道。

RTLA30-S 以自黏背膠帶鋪設於基材。自黏膠的設計能使光學尺獨立擴展於基材。

為了完成安裝,兩種光學尺皆夾固在一點以提供基準位置。

為何選擇此光學尺系統?

查錯與維修容易

進階診斷工具 ADTa‑100 可由 RESOLUTE™ 光學尺讀頭取得全面即時資料。相關資訊會透過易於使用的 ADT View 軟體介面顯示。儘管在大部分情況下,光學尺中的一體式設置 LED 已足以設定系統,此 ADT 仍可用於輔助更具挑戰性的安裝。ADT還能回報光學尺效能並協助系統查錯,避免機器停機時間過長。

卓越的運動控制性能

精密、可靠和創新運作原理賦予 RESOLUTE 領先業界的性能。更重要的是,此系統使用單軌非重複「條碼」光學尺格式,標稱刻距為 30 µm在此精密光學設計下,RESOLUTE 讀頭能捕捉幾近瞬間的光學尺影像,分析時也能在 100m/s 的速度下辨識特定位置。系統允許的位置辨識解析度高達 1nm(十億分之一公尺),不僅雜訊低(抖動低於 10 nm RMS),且SDE(細分誤差,即光學尺一個週期內的誤差)也只有 ±40 nm。這項優異的表現提供光學尺絕佳的回饋保真度,確保平順的速度控制與可靠的定位穩定性。

寬廣的設定公差

RESOLUTE 不採用傳統集軌並列技術(一個增量、一個絕對),因為這種技術只要發生些許角度準直調整錯誤,就會產生移相問題。對此,RESOLUTE 改採單軌絕對式光學尺設計,將絕對位置和嵌入式相位資訊結合成單一編碼。此技術賦予 RESOLUTE 更寛廣的設定公差(偏擺公差 ±0.5°)以利快速安裝,即使運動軸在一些時間後發生沈降或移位,也能展現優異的長期穩定性。讀頭內建一個設定用的 LED 指示燈,可進一步協助安裝和診斷。

外部介面選項

Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面

  • Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備搭配RESOLUTE真正絕對式光學編碼器使用的DRIVE-CLiQ介面
  • 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入
  • 顯示通訊警報
  • 重複讀頭 LED

其他可用的序列介面不需要外部介面。

選配的進階診斷工具 ADTa-100

進階診斷工具 ADTa-100

RESOLUTE 光學尺系統相容於進階診斷工具 ADTa-100 和 ADT View 軟體。這些工具能提供全方位即時光學尺資料回饋,有利於執行挑戰較高的安裝與診斷作業。直覺式軟體介面可用於下列操作:

  • 遠端校正
  • 全軸長訊號最佳化
  • 光學尺位置的數位讀數(相對於光學尺)
  • 匯出與儲存資料
  • 設定為零

序列介面

序列介面

序列介面說明規格資料表相容產品
BiSS C

Renishaw 於其絕對式光學尺支援 BiSS C(單向)開放來源通訊協定。BiSS C 為高速序列介面,非常適合用於需要高加速度、平順速度控制、優異重複性和可靠定位穩定性的動態軸。
RESOLUTE 線性及旋轉(角度)光學尺版本皆支援 BiSS C,相容於各種業界標準控制器、驅動器、DRO 及 PC 計數器介面卡。

RESOLUTE BiSS C

BiSS C 相容產品頁面

FANUC

RESOLUTE 搭配 FANUC(α 和 αi)序列介面可用於旋轉及線性應用。
RESOLUTE 為使用 FANUC 控制器的高性能工具機帶來許多優勢。更高的速度、堅固耐用的純序列通訊、優異的輪廓加工性能及更理想的伺服剛性。此外,非接觸式格式能消除反向間隙、軸扭曲(扭轉)及其他遲滯錯誤等傳統封閉式光學尺令人困擾之處。

RESOLUTE FANUC

N/A

Mitsubishi

RESOLUTE 搭配 Mitsubishi 序列介面可用於旋轉及線性格式。RESOLUTE 能與 J4 和 J5 系列伺服驅動器相容,在工具機應用方面則相容於 MDS-D2/DH2/DM2/DJ 驅動器。

RESOLUTE Mitsubishi

N/A

Panasonic


RESOLUTE 搭配 Panasonic 序列介面可用於線性及旋轉格式。RESOLUTE 與 A5 和 A6 驅動器系列相容,提供高解析度重複回饋,帶來更佳的伺服及速度控制。

RESOLUTE Panasonic

N/A

Siemens DRIVE-CLiQ

RESOLUTE 搭配 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面可(透過外部介面)用於線性及旋轉應用。Siemens DRIVE-CLiQ 為功能強大的創新通訊介面,可讓光學尺和直接量測系統連結至 SINUMERIK 和 SINAMICS 驅動器元件。

RESOLUTE Siemens DRIVE-CLiQ

N/A

Yaskawa

RESOLUTE 搭配 Yaskawa 序列介面可用於旋轉及線性格式,且相容於 Sigma-5 與 Sigma-7 SERVOPACK。

RESOLUTE Yaskawa

N/A

技術規格

量測標準

FASTRACK RTLA30:不鏽鋼光學捲尺與攜帶系統

RTLA30-S:不鏽鋼絕對式編碼光學捲尺與自黏背膠帶,可直接安裝在基材上,無須使用 FASTRACK 導軌

讀頭尺寸(長 x 寬 x 高)

36 mm x 16.5 mm x 17.2 mm

光學尺刻距

標稱為 ±30 μm

熱膨脹係數(20 °C 時)

10.1 ±0.2 μm/m/°C

精度等級(20°C 時)

±5 μm/m

光學尺長度

部分 BiSS C 通訊協定版本設有長度上限(請參閱規格資料表以瞭解詳情)

FASTRACK:100 mm 至 25 m

RTLA30/RTLA30-S:高達 21 m

最高速度

(如需詳細資訊,請參閱規格資料表)

最高 100 m/s

序列介面*

BiSS C、FANUC、Mitsubishi、Panasonic、Siemens DRIVE-CLiQ、Yaskawa

解析度

BiSS C:50 nm、5 nm 及 1 nm 解析度

FANUC、Mitsubishi、Siemens DRIVE-CLiQ 及 Yaskawa:50 nm 及 1 nm 解析度

Panasonic:100 nm、50 nm 及 1 nm 解析度

細分誤差 (SDE)

±40 nm

電氣接線

長達 10 m 纜線長度搭配 D 型連接器(9 針腳或 15 針腳)、飛線、FANUC 相容連接器、LEMO 及 M12

電源

5 V ±10%、max 250 mA @ 5 V(終端未連接)

振動(工作)

於 55 Hz 至 2 000 Hz 範圍達到最高速 300 m/s2

衝擊(非工作)

1000 m/s2、6 ms、½ 正弦

工作溫度

0 °C 至 +80 °C

防護等級

IP64

如需完整的詳細資訊,請參閱規格資料表。

*正持續增加其他序列介面。

如需 Siemens DRIVE-CLiQ 規格,請參閱規格資料表。