RESOLUTE™ 編碼器系列
RESOLUTE 系列是真正絕對式精細刻距光學尺系統，該系統能夠抵擋汙物，其規格令人印象深刻，為位置回饋領域帶來新的突破。RESOLUTE 是全球第一個絕對式編碼器，在線性系統應用中，提供高達 100 m/s 的速度和 1 nm 的解析度，在旋轉系統應用中提供高達 36,000 rev/min 的速度和 32 位元解析度。線性編碼器系統具有超低細分誤差（SDE）及抖動效果，遠勝同級所有編碼器。
此外，還有 3 種更加應用導向的版本：
- RESOLUTE UHV 將絕對式編碼器技術用於精細至10-10 陶爾的超高真空應用，因此客戶能提高量測效率、降低受損風險及提升可靠性。
- RESOLUTE ETR（廣溫域）為真正的絕對式精細刻距光學尺系統，可在極熱和極冷環境下作業。
RESOLUTE FS（功能安全）通過功能安全應用的 SIL2 及 PLd 認證。
RESOLUTE 相容於選購的進階診斷工具 ADTa-100 及 ADT View 軟體：兩者提供即時光學尺資料回饋，協助光學尺安裝，並可在現場偵錯。
RESOLUTE 系列榮獲 2015 年英國女王企業創新獎
光學尺選項
- 磁性尺用於須取得直線位置資訊的應用中，通常為 X、Y 及 Z 軸。
- 旋轉光學尺用來取得角度位置資訊及旋轉元件的運動控制。
- 部分弧線光學尺可環繞鼓、軸或圓弧，以量測旋轉的部分弧線。
不鏽鋼光學尺與選購的軌道
光學尺名稱 | 精度 | 光學尺刻距 | 熱膨脹係數（20 °C 時） | 供應長度 | 讀頭相容性 |
RTLA30 與選購的 FASTRACK™  | ±5 µm/m | 30 µm | 10.1 ±0.2 µm/m/°C | 最長達 21 m |
精細不鏽鋼捲尺
光學尺名稱 | 精度 | 光學尺刻距 | 熱膨脹係數 | 供應長度 | 讀頭相容性 |
RKLA-S  | ±5 μm/m | 30 µm | 以端蓋固定光學尺尾端時，能符合基板材質 | 最長達 21 m | RESOLUTE |
ZeroMet™ 光學尺
光學尺名稱 | 精度 | 光學尺刻距 | 熱膨脹係數（20 °C 時） | 供應長度 | 讀頭相容性 |
RELA30  | ±1 µm 用於最多 1 m，則 ±1 µm/m | 30 µm | 0.75 ±0.35 µm/m/°C | 最長達 1.5 m |
不鏽鋼光學尺
光學尺名稱 | 精度 | 光學尺刻距 | 熱膨脹係數（20 °C 時） | 供應長度 | 讀頭相容性 |
RSLA30 | ±1.5 μm 達到 1 m、±2.25 μm 達到 2 m、±3 μm 達到 3 m、±4 μm 達到 5 m | 30 µm | 10.1 ±0.2 µm/m/°C | 最長達 5 m |
精細型不鏽鋼部分弧線光學尺
光學尺名稱 | 精度 | 光學尺刻距 | 熱膨脹係數 | 供應長度 | 讀頭相容性 |
RKLA-S  | ±5 μm/m | 30 µm | 以端蓋固定光學尺尾端時，能符合基板材質 | 最長達 21 m | RESOLUTE |
不鏽鋼環
光學尺名稱 | 刻度精度（視環的直徑而定） | 光學尺刻距 | 熱膨脹係數（20 °C 時） | 環直徑 | 讀頭 相容性 |
RESA30  | ±3.97 to ±0.38 弧秒 | 30 µm | 15.5 ±0.5 µm/m/°C | 52 至 550 mm |
超高精度不鏽鋼環
光學尺名稱 | 安裝精度 （視鋼環直徑而定） | 光學尺刻距 | 熱膨脹係數（20 °C 時） | 環直徑 | 讀頭相容性 |
REXA30  | （直徑 ≥100 mm） ±1 弧秒 ±1.5 弧秒 ±2 弧秒 | 30 µm | 15.5 ±0.5 µm/m/°C | 52 至 417 mm |