RESOLUTE™ ETR 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環
特性
- 序列介面：BiSS® C
- 讀頭尺寸：36 x 16.5 x 17.2 mm
- 18,000 rpm 轉速下的解析度可達 32 位元/轉
- ±0.52 - 5.49 弧秒系統精度
- 操作溫度範圍：-40 °C 至 +80 °C
- 提供側邊纜線插座板
優勢
- 低輪廓環具有內徑大及容易安裝的特性
- 寬廣的設定公差
- RMS 抖動低於 10 nm，提升位置穩定性
- ±40 nm 細分誤差，速度控制平穩
- 選購的進階診斷工具 (ADT)
什麼是 RESOLUTE ETR？
RESOLUTE ETR（廣溫域）為真正絕對式精密刻距光學尺系統，具備優異的抗汙能力及無與倫比的位置回饋規格。這是全球首款能在 8,500 rpm 的轉速下實現 32 位元解析度的絕對式光學尺。
此特性使這款革命性的 RESOLUTE 絕對式精細刻距角光學尺的所有優點，得以應用於嚴苛的低溫環境。RESOLUTE ETR 保證可在 -40 °C (-40 °F) 的無凝結環境中運作，非常適合用於望遠鏡、科學研究、國防與航太等嚴苛環境。
什麼是 RESA30 環？
RESA30 為一體式不鏽鋼環，具有的絕對式光學尺編碼直接標示於周圍。多種尺寸均提供兩種版本（Ø52 mm 至 Ø550 mm）。「A」截面環能提供絕佳的安裝精度，具備錐面安裝方式系統，能減少高公差加工零件的需求並能消除偏心率。亦提供「B」截面細環，具備低慣性及低質量。「A」及「B」截面環具備大內徑，可彈性整合至 最嚴苛的應用場合。非接觸式格式能消除反向間隙、軸扭曲（扭轉）及其他傳統封閉式光學尺固有的機械遲滯錯誤。
為何選擇此光學尺系統？
查錯與維修容易
進階診斷工具 ADTa‑100 可由 RESOLUTE™ 光學尺讀頭（以 ADT 符號標記）取得全面即時資料。相關資訊會透過易於使用的 ADT View 軟體介面顯示。儘管在大部分情況下，光學尺中的一體式設置 LED 已足以設定系統，此 ADT 仍可用於輔助更具挑戰性的安裝。ADT還能回報光學尺效能並協助系統查錯，避免機器停機時間過長。
ETR（廣溫域）
RESOLUTE ETR 絕對式光學尺具備堅固耐用的不鏽鋼光學尺和抗震能力，係為實際用於嚴苛環境而設計，在惡劣條件下仍能發揮優異的量測能力，以及旋轉軸的絕佳的高速運作與可靠性。
寬廣的設定公差
RESOLUTE 不採用傳統集軌並列技術（一個增量、一個絕對），因為這種技術只要發生些許角度準直調整錯誤，就會產生移相問題。對此，RESOLUTE 改採單軌絕對式光學尺設計，將絕對位置和嵌入式相位資訊結合成單一編碼。此技術賦予 RESOLUTE 更寛廣的設定公差（偏擺公差 ±0.5°）以利快速安裝，即使運動軸在一些時間後發生沈降或移位，也能展現優異的長期穩定性。讀頭內建一個設定用的 LED 指示燈，可進一步協助安裝和診斷。
選配的進階診斷工具 ADTa-100
RESOLUTE™ 光學尺讀頭（以 ADT 符號標記）相容於進階診斷工具 ADTa-100 和 ADT View 軟體。這些工具能提供全方位即時光學尺資料回饋，有利於執行挑戰較高的安裝與診斷作業。直覺式軟體介面可用於下列操作：
- 遠端校正
- 全軸長訊號最佳化
- 光學尺位置的數位讀數（相對於光學尺）
- 匯出與儲存資料
- 設定為零
序列介面
| 序列介面 | 說明 | 規格資料表 | 相容產品 |
| BiSS C | Renishaw 於其絕對式光學尺支援 BiSS C（單向）開放來源通訊協定。BiSS C 為高速序列介面，非常適合用於需要高加速度、平順速度控制、優異重複性和可靠定位穩定性的動態軸。 |
技術規格
量測標準 | 一體式外型輕巧絕對式編碼不鏽鋼環，具備錐面內徑的標準「A」截面或低慣性「B」截面 |
讀頭尺寸（長 x 寬 x 高） | 36 mm x 16.5 mm x 17.2 mm |
光學尺刻距 | 標稱為 ±30 μm |
| 熱膨脹係數（20 °C 時） | 15.5 ±0.5 μm/m/°C |
環外徑 | 52 mm 至 550 mm |
系統精度* | ±5.49 至 ±0.52 弧秒（依環徑而定） |
最高速度 | （如需詳細資訊，請參閱規格資料表） 18 000 rpm（52 mm 環） |
序列介面† | BiSS C |
解析度 | BiSS C：18 位元、26 位元及 32 位元 |
細分誤差 (SDE) | ±40 nm |
電氣接線 | 長達 0.5 m 至 10 m 纜線長度搭配 D 型連接器（9 針腳或 15 針腳），飛線 |
電源 | 5 V ±10%、250 mA @ 5 V（終端未連接） |
振動（工作） | 於 55 Hz 至 2 000 Hz 範圍達到最高速 300 m/s2 |
衝擊（非工作） | 1000 m/s2、6 ms、½ 正弦 |
工作溫度 | -40 °C 至 +80 °C |
防護等級 | IP64 |
如需完整的詳細資訊，請參閱規格資料表。
* 系統精度為刻度誤差加上 SDE。刻劃精度為由單一讀頭測量的角度及如標示之光學尺實際旋轉度之間的最大差值。像是離心率的應用干擾並未包括在內。
*正持續增加其他序列介面。