適用於 REVO® 系統的 RFP1 條紋測頭

在 5 軸 CMM 量測平台上的結構化光線量測

RFP1 測頭可將非接觸式結構化光線檢測功能新增至現有產品系列，加強 REVO 系統的多感測器功能；其中包含目前供應的五種可更換測頭系列產品，每種系列都經過特別設計，協助 5 軸運動及無限定位發揮最高優勢。

RFP1 測頭可檢測自由曲面及複雜幾何結構，迅速以高點密度提供表面資料補償。

RFP1 的特性與優點

• 有別於其他非接觸式結構化光線系統，RFP1 條紋測頭不需要參考原點，就能由 REVO 系統自動將不同區域的資料拼接在一起。
• 自動曝光補償可確保為不同材料、表面色彩及紋理提供最佳資料結果，無需霧面塗層。
• 兩種易於使用的軟體工具，提供檢測規劃及數位化功能。
  
• • RFP1 檢測規劃器工具可用於路徑規劃，以及從 CAD 生成 DMIS 工件程式。
  • RFP1 數位化軟體可收集零件資料，無需 CAD 模型作為逆向工程程序的一部分。