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RLU-輕巧型雷射裝置,配備光纖傳輸系統

Renishaw 雷射裝置提供位移干涉儀的極致效能,同時兼具傳統鋼帶和玻璃光學尺編碼器易於安裝的優點。

RLE 系統

RLE 系統為獨特先進零差雷射干涉儀系統,專為位置回饋應用所設計。各 RLE 系統由一個 RLU 雷射裝置及一個或兩個 RLD10 檢測頭組成,使用機型取決於特定應用的需求。

RLU 雷射裝置有單軸線或雙軸線兩種配置,包括 HeNe(氦/氖)雷射源、穩定化電子器件、光纖發射和軸線位置回饋電子器件。

我們利用 Renishaw 編碼器持續超越客戶規格。我們嘗試向客戶提供同類最佳體驗,而 Renishaw 等公司的技術進展成果,是我們持續成功的原因之一。

Aerotech(美國)

Renishaw 目前提供性能不同的兩種雷射裝置版本:

RLU10 雷射裝置

RLU10 可在一小時期間達到 ±50 ppb 的雷射頻率穩定性,為大多數「空中」應用提供合適的效能水準。

特性和優點

將 RLU10 結合適用於所需應用的 Renishaw 檢測頭 (RLD),可提供下列特性和優點:

  • 簡單的系統架構-運用 Renishaw 獨特的光纖傳輸系統
  • 快速準直-RLD 檢測頭可讓雷射光束直接架設於量測軸
  • 輕巧且易於設定-最小的系統體積和安裝時間

RLU10 概述

光纖長度3 m 或 6 m*
軸數單軸或雙軸*
雷射光源第 2 級氦/氖
輸出類比/數位正交
速度最高 2 m/s**

 * 原廠配置
** 視版本/解析度而定

RLU10 效能

雷射頻率穩定性(1 分鐘)

‹±10 ppb

雷射頻率穩定性(1 小時)

‹±50 ppb

雷射頻率穩定性(8 小時)

‹±50 ppb

真空波長穩定性(3 年間)

±0.1 ppm

XY 雙軸平台應用

是否正在為「空中」環境內的 XY 雙軸平台應用,尋找合適的雷射編碼器?RLE10-DX-XG 系統為此類型應用的熱門選擇,運用配備兩個 RLD10-A3-P9(平面鏡干涉儀 90°)檢測頭的 RLU10 雷射裝置。

RLU20 雷射裝置

RLU20 可在一小時期間達到 ±2 ppb 的雷射頻率穩定性,為大多數的真空應用提供極致的量測效能。

特性和優點

將 RLU20 結合適用於所需應用的 Renishaw 檢測頭 (RLD),可提供下列特性和優點:

  • 簡單的系統架構-運用 Renishaw 獨特的光纖傳輸系統
  • 快速準直-RLD 檢測頭可讓雷射光束直接架設於量測軸
  • 輕巧且易於設定-最小的系統體積和安裝時間

RLU20 概述

光纖長度僅限 3 m*
軸數單軸或雙軸*
雷射光源第 2 級氦/氖
輸出類比/數位
速度最高 2 m/s**

 

* 原廠配置
** 視版本/解析度而定

RLU20 效能

雷射頻率穩定性(1 分鐘)‹±1 ppb
雷射頻率穩定性(1 小時)‹±2 ppb
雷射頻率穩定性(8 小時)‹±20 ppb
真空波長穩定性(3 年間)±0.1 ppm

差分量測應用

是否正在為真空環境內的差分量測應用,尋找合適的雷射編碼器?RLE20-DX-XP 系統為此類型應用的熱門選擇,運用配備兩個 RLD10-X3-DI(差分干涉儀)檢測頭的 RLU20 雷射裝置。

配置 RLE 系統

為了作為位移干涉儀使用,Renishaw 雷射裝置必須搭配使用適合應用的檢測頭。定義您的 RLE 系統時,應考量下列選項:

  • 雷射光源(RLU10 或 RLU20)
  • 光纖長度 3 m 或 6 m(僅 RLE10)
  • 校正證書(另外加購)
  • 平面鏡或反射鏡標靶光學鏡組
  • 各軸的 RLD 檢測頭類型
  • 各軸的光束輸出方向(不適用於差分干涉儀檢測頭)

如欲判斷個別應用所需的 RLE 雷射編碼器系統零件訂貨號,僅需在零件訂貨號產生器中輸入您的應用需求,即可自動計算所需的系統零件訂貨號,用於要求報價或下單。

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