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掃描測頭

掃描測頭每秒能夠擷取幾百個表面點,可以量測形狀、尺寸和位置。

掃描測頭還能夠用於擷取離散點,擷取方法與接觸觸發式測頭類似。

有多種解決方案可供選擇,適合各種大小和配置的 CMM。

掃描原理

掃描孔 掃描是快速擷取棱形,或複雜元件的形態和輪廓資料的方法。

當接觸觸發式測頭收集表面上的離散點時,掃描系統會擷取大量的表面資料,以提供更清晰的外形圖及工件的形狀。因此掃描十分適合特徵的外形,是整體誤差預算極重要因素的應用,或是必須檢測複雜表面的應用。

掃描需要完全不同的感測器設計、機器控制和資料分析方法。

Renishaw 掃描測頭具有新穎小巧的被動式機構(無馬達或鎖定機構),具有高自然頻率,非常適合高速掃描。獨立光學量測系統可直接(並非經由測頭結構內的重疊軸線)量測測針的偏度,因而具有更高的量測精度和更快的動態反應。

掃描系統如何擷取及分析表面資料?

掃描測頭提供連續偏差輸出,這些輸出與機器位置結合,推導出所量測表面的位置。掃描時,測頭的測針端部與待測輪廓接觸,然後沿表面移動,在移動的同時擷取資料。在量測過程中,必須將測頭測針的偏轉,保持在測頭的量測範圍內。

感測器和機器控制必須經過嚴密整合並使用複雜的濾波算法,以便將量測資料轉換為可用的表面資訊並獲得最佳結果。掃描驅動演算法能針對工件的輪廓調節,改變掃描速度以適應彎曲率(在較為平整的表面上移動較快),並調整資料擷取的速率(在表面快速改變時,擷取較多資料)。

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