跳轉瀏覽

SEM 拉曼系統

SEM 拉曼系統在單一系統中提供您全方位的現場樣品特性分析。結合這兩種技術,徹底改寫便利性、效率和產能的定義。

Renishaw 的結構與化學分析儀 (SCA) 介面,將 inVia 的拉曼點量測及對應功能導入掃描電子顯微鏡 (SEM)。

拉曼 + SEM

inVia 和 SCA 介面提供 in-SEM 分析技術,既補足光學顯微鏡拉曼光譜,又能克服能量色散 X 光光譜 (EDS) (傳統 in-SEM 分析技術) 的限制。透過 Renishaw 的 SEM 拉曼系統,您將受益於同位形態、元素、化學、物體和電子分析。

使用 SEM 產生樣品的高解析度影像,並執行元素分析。加入拉曼的強大功能,取得化學資訊及影像。可識別物質及非金屬,即使具有相同的化學計量法也沒問題。

SCA 和 inVia 可完全相容於拉曼、光致發光 (PL) 和陰極發光 (CL) 光譜。

用於同位分析的單一組合型系統

採用單一組合型系統,就能節省寶貴時間。無須在兩部儀器之間移動樣品,並冒著分析錯誤樣品範圍的風險。

inVia 與 SEM 兩者可作為單獨系統同時運作,但不會損及效能。您有拉曼系統、SEM 系統和組合型拉曼 SEM 系統。

SEM 拉曼成像

您可利用 SEM-SCA 選購的 in-SEM 對應台,判定應力/應變的空間變化,以及瑕疵特徵。這樣您就可以製作複雜物質的分子及結晶屬性。

同一位置、同一時間

可完全信賴資料;從樣品的同一點同步擷取拉曼和 SEM 資料,無須移動樣品。確保快速分析且資料極具代表性。

選擇最佳系統

Renishaw 的 SCA 介面可加入您現有的 SEM。安裝到連接埠後,便不再需要修改 SEM。主要廠商都已在 SEM 上安裝 SCA,這些廠商包括有:

  • Zeiss
  • Thermo Fisher Scientific (FEI)
  • TESCAN
  • JEOL
  • Hitachi

深入瞭解

下載:SEM 拉曼系統

  • Product note:  Co-located SEM-Raman imaging system Product note: Co-located SEM-Raman imaging system [en]

    Renishaw’s SEM-Raman system provides truly co-located analysis Renishaw’s SEM-Raman system is unique. You can simultaneously acquire both SEM (scanning electron microscope) and Raman data from the same area on the sample. You do not have to transfer the sample to a different measurement location or instrument; this ensures rapid truly correlative analysis. You will avoid the sample registration issues that can occur when moving samples between measurement locations.

    [407kB]
  • Product note:  SCA - diamond composite analysis Product note: SCA - diamond composite analysis [en]

    Renishaw’s structural and chemical analyser unites two well-established technologies, scanning electron microscopy (SEM) and Raman spectroscopy, resulting in a powerful new technique which allows morphological, elemental, chemical, physical, and electronic analysis without moving the sample between instruments.

    [138kB]
  • Application note:  A study of single-wall carbon nanotubes using Renishaw's structural and chemical analyser for scanning electron microscopy Application note: A study of single-wall carbon nanotubes using Renishaw's structural and chemical analyser for scanning electron microscopy [en]

    Electron imaging and Raman spectroscopy are established techniques for viewing and analysing carbon nanotubes. Performing these two techniques usually requires the sample being transferred between a scanning electron microscope (SEM) and a Raman spectrometer. This application note illustrates the advantages of Renishaw’s structural and chemical analyser (SCA) for simultaneous secondary electron imaging and Raman spectroscopy of single-wall carbon nanotubes (SWNTs).

    [357kB]
  • Application note:  SCA oxidation application note - cultural heritage Application note: SCA oxidation application note - cultural heritage [en]

    SEM-SCA analysis helps in the preservation of a corroding bronze statue of the Roman god Ares from the ancient city of Zeugma in Turkey.

    [354kB]

選擇最佳系統

聯絡 Renishaw 的 SEM 專家,討論您的具體需求。

最新的 SEM 使用案例


地質學家使用 Renishaw 的拉曼 in-SEM 解決方案探測奈米世界

BRGM (法國奧爾良的法國地質調查) 的研究人員,研究礦物的物理、化學及結構屬性。他們使用 Renishaw 的同位 SEM 拉曼系統,提供全方位的現場樣品特性分析。

布加勒斯特的羅馬尼亞地質機構 (Geological Institute of Romania) 結合拉曼光譜與掃描電子顯微術 (SEM) 研究無機及礦物樣品

羅馬尼亞地質機構 (Geological Institute of Romania) 使用 Renishaw 的結構與化學分析儀 (SCA) 介面,將 inVia™ 共軛焦拉曼顯微鏡的拉曼分析功能導入掃描電子顯微鏡 (SEM) 之中。