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適用於 REVO® 系統的 SFP2 表面光潔度測頭

REVO® SFP2 使表面光潔度檢測成為您 CMM 量測程序不可或缺的一部分。

表面光潔度/表面粗糙度量測

傳統上,表面光潔度量測都要使用手持感測器,或必須將工件移至專用的量測機器上。REVO 多重感測器系統徹底改變這項作法,使表面光潔度檢測成為您 CMM 量測不可或缺的一部分,並方便您在掃描與表面光潔度量測功能間進行切換。此獨家功能可將表面光潔度分析完全整合至單一量測報告。

SFP2 採用 5 軸量測技術自動化了表面光潔度檢測功能,可大幅節省時間、減少工件處理程序,提升 CMM 投資報酬率。

REVO SFP2 量測引擎汽缸

SFP2 系統 - 特徵與優點

SFP2 系統包含測頭及各種模組,能夠與所有其他 REVO 測頭選項自動互換,輕鬆選擇最佳工具,在單一 CMM 平台完成檢測各式各樣的特徵。將多個感測器的資料自動參照至共同的基準。

  • 利用 MRS-2 交換架和 RCP TC-3 連接埠為 SFP2 測頭模組和測針固定座進行自動更換,即可將表面光潔度量測完全整合至標準 CMM 檢測程式。
  • SFP2 測頭能充分發揮 REVO-2 測頭座無限定位功能和 5 軸運動的優點。
  • 透過內建的測頭 C 軸構造,結合各種端頭幾何及模組和固定座間關節接頭,可深入極難到達的部位量測相關特徵。
SFP2 的航太產業中 應用
  • Technical features overview of SFP2 for the REVO® 5-axis multi-sensor system [en]

測頭特性

  • SFP2 是具有 2 μm 半徑鑽石測針端頭的偏位測頭,可以約 0.2 N 的控制力支撐對表面的偏位,而測針端頭力量為 0.005 N。
  • SFP2 可用於直徑 5 mm 的孔洞。
  • 表面量測功能:6.3 μm 至 0.05 μm Ra。
  • 輸出:使用 I++ DME 通訊協定,將 Ra、RMS 和未經處理的資料,從 UCCserver 傳回計量應用程式的用戶端軟體。未經處理的資料可傳送至專業表面分析軟體套件,以製作更詳細的報告。
  • 感測器校正會量測安裝在 MRS-2 交換架上之表面光潔度校正標準件 (SFA) 的表面光潔度。校正軟體能依據校正標準件的校正值,自動調整測頭輸出。
  • SFP2 包含一支內建的電動 C 軸,能在工件四周的所有必要方位上,執行表面光潔度量測。

SFM 測頭模組

適用於 SFP2 系統的 SFM 表面光潔度模組,結合 REVO-2 測頭座的 5 軸量測及無段定位,以及 SFP2 測頭的內建 C 軸,讓之前無法接觸的表面量測位置也能進行量測。

五種專業 SFM 模組系列可提供獨特的接觸功能,適用於最繁重的工業計量應用。

由 A 至 E 的每種模組系列,提供各種獨特設計功能及最佳用途:從一般用途 A 系列高效能的引擎汽缸墊圈表面量測及曲柄軸軸頸側向掃描,乃至於專業 E 系列的雙零件滑道搭配中央測針,是在深入工件小孔進行短距離掃描的理想選擇,也適用於自動傳動閥體。

各模組具備獨特的幾何與關節接頭,可讓您透過 MST 模組設定工具,在 180° 範圍內選擇 SFH 表面光潔度固定座和 SFM 表面光潔度模組間的角度。

SFP2 SMA1_2_
SFM-E2 表面光潔度模組

延長保固

爲了讓您高枕無憂,您新購買的 CMM 産品從購買起的前 3 個月期間,可加購至 3 年保固。請聯絡您的廠商。

產品資訊