SiGNUM™ RSLM 高精度不銹鋼光學尺

Renishaw 公司的 SiGNUM™ RSLM 光學尺系統具有 ±30 nm 的周期誤差、專利過濾光學鏡組、5 nm 的解析度及簡單的安裝，同時具備了 20 μm 精細刻距光學尺系統性能的所有優點。

Renishaw 的 SiGNUM™ 系列產品具有高速、可靠、非接觸的性能，並有 IN-TRAC™ 自動相位光學參考標記和動態信號處理等先進功能。RSLM 鋼條式光學尺是該系列新推出的產品，其性能可與精細刻距的玻璃光學尺媲美，長度範圍卻遠超後者。

RSLM 光學尺在長達 5 m 的範圍內，總體精度仍維持在 ±4 μm 以內 — 業界首創！ 結合 SiGNUM™ 光學尺超低的 30 nm 細分誤差 (SDE)，RSLM 最適合於長行程應用，而量測精確度絲毫不妥協。

IN-TRAC™ 光學參考標記在整個速度和溫度範圍（12 m/s 以上，最高 85 °C）內均具有雙向可重復的基準點，不增加系統總體寬度。RSLM可提供多種間距整齊的 IN-TRAC™ 光學參考標記供客戶選擇或單個參考標記，標記可位於光學尺中央或端部附近。雙光學極限開關提供易於使用的行程終點指示。

RSLM 採用硬質馬丁散鐵不銹鋼製造，熱膨脹係數低（10.8 μm/m/°C），但是其特殊的組成造就了較高的耐腐蝕性。SiGNUM™ RSLM 和鋼帶光學尺一樣使用簡單，但是和精細刻距玻璃光學尺一樣精確。堅固的光學尺其截面遠小於普通玻璃光學尺，搬運和安裝更簡單，沒有破損的危險。此外，為方便儲存和搬運，RSLM 可繞成盤狀，解開後其表現和因鋼光學尺一樣。系統設計者可以根據其要求選擇卡夾和夾緊固定，或者採用帶有環氧樹脂固定點的膠帶。

SR 讀頭具有 Renishaw 獨特的過濾光學鏡組，能夠抵擋汙物、灰塵和劃傷。和所有 SiGNUM™ 光學尺一樣，RSLM 光學尺系統得益於 SiGNUM™ 智慧信號處理，確保了高可靠性和超低細分誤差。此外，SiGNUM™ 軟體通過電腦 USB 埠實現最佳化設定和即時系統診斷。

與所有 Renishaw 產品一樣，SiGNUM™ 系列有一個全球團隊作為後盾，提供真正快速反應的全球支援。