TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉（角度）環
特性
- 讀頭尺寸：35 x 13.5 x 10 mm
- 能達到 1 nm 解析度
- 速度高達 3,673 rpm
- 超低的細分誤差 (SDE)：一般 < ±30 nm
- 提供真空與功能安全版本
- 光學 IN-TRAC™ 參考原點
優點
- 外型輕巧環具有內徑大及容易整合的特性
- 超輕巧型編碼器讀頭具備動態訊號調節功能，能提高運動控制性能
- 高抗污能力
- 提供診斷套件協助處理棘手安裝與系統優化。
何謂 TONiC？
TONiC™ 系列為輕巧型非接觸增量式光學尺系統，如與 Ti 介面結合，在線性和旋轉應用中均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。讀頭中的進階過濾光學鏡組讓 TONiC 有非常低的抖動，可達成優異的位置穩定性與更平順的速度控制。因此，TONiC 光學尺適用於必須嚴密控制移動的應用。
TONiC 光學尺可提供極佳的訊號穩定性，維持一般小於 ±30 nm 的低細分誤差 (SDE)，有助於實現優異的運動控制效能。
TONiC 光學尺亦具備整合式設定 LED 以進行直覺化且高效率的安裝。
什麼是 RESM20 環？
RESM20 為一體式不鏽鋼環，具有的 20 µm 刻矩刻度直接標示於周圍，其具備 IN-TRAC™ 光學參考原點。多種尺寸均提供兩種版本（Ø52 mm 至 Ø550 mm）。「A」截面環能提供絕佳的安裝精度，具備錐面安裝方式系統，能減少高公差加工零件的需求並能消除偏心率。亦提供「B」截面細環，具備低慣性及低質量。「A」及「B」截面環具備大內徑，可彈性整合。非接觸式格式能消除反向間隙、軸扭曲（扭轉）及其他傳統封閉式光學尺固有的機械遲滯錯誤。
為何選擇此光學尺系統？
抗汙能力
TONiC 具有優異的抗汙能力，能有效防止刮傷與油汙指紋，速度高達 10m/s。因此，TONiC 適用於更具挑戰性的應用。此外，非接觸式 RESM 操作時不會發生磨擦或磨損問題，確保優異的可靠度。
優異的量測功能
TONiC 光學尺配備 Renishaw 獲市場肯定的過濾光學鏡組與進階訊號處理功能。自動增益控制 (AGC) 及自動偏置控制 (AOC) 技術降低讀頭內的類比訊號雜訊與數位抖動。
TONiC 光學尺提供絕佳的 <±0.5 nm RMS 的低訊號輸出抖動及 <±30 nm 的低細分誤差 (SDE)，使系統能夠更妥善維持位置並在線性馬達應用中產生較少熱能。低抖動亦使得低速下的高精度應用能展現更平順的速度控制。
彈性配置
TONiC 系列提供各種能夠設定的外部介面以滿足應用的速度和解析度需求。藉由外部介面的後期整合與配置，多功能 TONiC 讀頭為終端使用者提供許多自訂選項。
TONiC 介面選項能進行數位、類比輸出或數位及類比訊號的雙輸出。TD（雙解析度）介面提供可選擇的雙解析度輸出，也提供於寬幅列印應用的 DPI 介面。TONiC 光學尺配置的彈性使 OEM 能在各種應用領域中受惠於優異的運動控制及高產量。
介面選項
TD（雙解析度）介面
- 可選擇雙解析度正交輸出。
- 介面選項適合需要高速運動的應用，結合更精密精度的運動。
DOP（雙輸出）介面
- 提供同步數位正交及 1 Vpp 訊號。
- 此介面在設計上適合用於須透過運動軸，將一或多項作業進行同步的應用。
DSi（雙訊號介面）
- Renishaw 的 DSi 結合來自 RESM20 環（局部旋轉應用則採用 REST20 環）上 TONiC 雙讀頭的增量訊號，補償軸承晃動產生的影響，並消除奇數諧波誤差（包含偏心率），提供一般為 ±2.0 弧秒的安裝精度。
選配診斷工具組
可採用 TONiC 軟體優化 TONiC 光學尺的安裝，提供快速全面的系統校準。必須將軟體與 TONiC 診斷硬體一起使用，即可使用 A-9411-0011 零件訂貨號從 Renishaw 購買。可透過 USB 線（於套件中提供）或客戶線上電子裝置連接硬體與電腦。
瞭解所有關於 TONIC 診斷工具組的資訊。
技術規格
量測標準 | RESM20：一體式外型輕巧不鏽鋼環。提供具備錐面內徑的標準「A」截面或低慣性「B」截面環 亦提供適用於局部圓弧應用的 REST20 |
讀頭尺寸（長 x 寬 x 高） | 35 mm x 13.5 mm x 10 mm |
柵距 | 20 μm |
| 熱膨脹係數（20 °C 時） | 15.5 ±0.5 μm/m/°C |
環外徑 | 52 mm 至 550 mm。如需更大的客製化尺寸，請聯絡 Renishaw |
刻線數 | 8 192 至 86 400（依環尺寸而定） |
參考原點 | RESM20：單一 IN-TRAC 參考原點環 REST20：雙參考原點環適用於局部圓弧應用 |
精度* 刻劃精度 系統精度 | ±3.97 至 ±0.38 弧秒（依環徑而定） ±4.20 至 ±0.40 弧秒（依環徑而定） |
最高速度 類比 數位 | （詳見規格手冊） -3 dB 時為 3673 rpm（位於 52 mm RESM20） 3673 rpm（位於 52 mm RESM20 時為 5 μm 解析度 TONiC） |
細分誤差 (SDE) | 一般低於 ±30 nm |
動態訊號控制 | 即時訊號調節，包括自動增益控制 (AGC) 及自動偏置控制 (AOC)，優化操作時的性能 |
增量訊號 類比 數位 | （若要瞭解角度解析度的詳細資訊，請參閱規格資料表） 1 Vpp（20 μm 週期） 解析度範圍為 5 μm 至 1 nm |
電氣連接 | 0.5 m、1 m、1.5 m、3 m、5 m 及 10 m 纜線長度及迷你接頭（直接連接 TONiC 介面） |
電源 | 5 V ±10%、< 100 mA（類比系統）、< 200 mA（數位系統）（無端接） |
振動（運作時） | 於 55 Hz 至 2 000 Hz 範圍達到最高速 100 m/s2 |
衝擊（非工作） | 1000 m/s2、6 ms、½ 正弦 |
工作溫度（系統） | 0 °C 至 +70 °C |
防護等級 | 讀頭：IP40 介面：IP20 |
* 系統精度為刻度誤差加上 SDE。刻劃精度為由單一讀頭測量的角度及如標示之編碼器實際旋轉度之間的最大差值。像是離心率的應用干擾並未包括在內。
請參閱規格手冊，了解詳細資訊。