VIONiC™ 增量式編碼器系統搭配 RESM20 旋轉（角度）環
特性
- 直接來自讀頭的數位輸出
- 讀頭尺寸：35 x 13.5 x 10 mm
- 解析度可達 2.5 nm*
- 速度高達 4400 rpm
- 超低的細分誤差 (SDE)：一般低於 ±15 nm* (參閱技術規格)
- 光學 IN‑TRAC™ 參考原點
優勢
- 無需單獨介面
- 進階診斷工具易於進行查錯，處理棘手的安裝與維修問題
- 外型輕巧環具有內徑大及容易整合的特性
- 高抗污能力
何謂 VIONiC？
VIONiC 讀頭整合了 Renishaw 經市場認可的過濾光學鏡組與進階細分技術，是超高精度的數位增量式光學尺。
VIONiC 光學尺系統提供多種速度和解析度配置，以及廣泛的線性和旋轉光學尺範圍選項。因此，此款多功能光學尺才能提供高精度回饋。由於設計中已採用直覺式自動校正模式，因此 VIONiC 也相當容易安裝。
新版有何不同？
* VIONiC 光學尺系統現在可適用於解析度低至 2.5 nm 且強化 SDE 的產品。
什麼是 RESM20 環？
RESM20 為一體式不鏽鋼環，具有的 20 µm 刻矩增量刻度直接標示於周圍，其具備 IN-TRAC™ 光學參考原點。多種尺寸均提供兩種版本（Ø52 mm 至 Ø550 mm）：「A」截面環能提供絕佳的安裝精度，具備錐面安裝方式系統，能減少高公差加工零件的需求並能消除偏心率；亦提供「B」截面細環，具備低慣性及低質量。「A」及「B」截面環具備大內徑，可彈性整合。非接觸式格式能消除反向間隙、軸扭曲（扭轉）及其他傳統封閉式光學尺固有的機械遲滯錯誤。
為何選擇此光學尺系統？
全方位數位光學尺系統
VIONiC 結合了高速細分與令人印象深刻的量測性能，使其適用於要求極高的應用，因而是理想的光學尺。光學尺有非常多種可用的配置，可供使用者依據運動控制要求，使系統的速度和解析度達到最佳狀況。此外，VIONiC 讀頭與線性和旋轉光學尺兩者結合使用，可滿足各種精度需求。VIONiC 光學尺不僅快速，還容易校正，亦即可適用於大量生產。
高抗污能力
TONiC 具有優異的抗汙能力，能有效防止刮傷與油汙指紋，速度高達 12 m/s。因此，VIONiC 適用於更具挑戰性的應用。此外，非接觸式 RESM20 操作時不會發生磨擦或磨損問題，確保優異的可靠度。
DSi（雙訊號介面）
Renishaw 的 DSi 結合來自 RESM 環（局部旋轉應用則採用 REST 環）上 VIONiC 雙讀頭的增量訊號，補償軸承晃動產生的影響，並消除奇數諧波誤差（包含偏心率），提供一般為 ±2.0 弧秒的整體安裝精度。
選配的進階診斷工具 ADTi-100
VIONiC 光學尺系統能相容於進階診斷工具 ADTi-100 和 ADT View 軟體。這些工具能提供全方位即時光學尺資料回饋，有利於執行更加艱困的安裝與診斷作業。直覺式軟體介面可用於下列操作：
- 遠端校準
- 全軸長訊號最佳化
- 讀頭刻線距離指示
- 限制與參考原點指示
- 光學尺位置的數位讀數（相對於光學尺）
- 監控時速表
- 匯出與儲存資料
技術規格
量測標準 | RESM20：一體式外型輕巧不鏽鋼環。提供具備錐面內徑的標準「A」截面或低慣性「B」截面環 亦提供適用於局部圓弧應用的 REST20 |
讀頭尺寸（長 x 寬 x 高） | 35 mm x 13.5 mm x 10 mm |
光學尺刻距 | 20 μm |
| 熱膨脹係數（20 °C 時） | 15.5 ±0.5 μm/m/°C |
環外徑 | 52 mm 至 550 mm。如需更大的客製化尺寸，請聯絡 Renishaw |
刻線數 | 8 192 至 86 400（依環尺寸而定） |
參考原點 | RESM20：單一 IN-TRAC 參考原點環 REST20：雙參考原點環適用於局部圓弧應用 |
精度* 刻度精度 系統精度 | ±3.97 至 ±0.38 弧秒（依環徑而定） ±4.20 至 ±0.40 弧秒（依環徑而定） |
最高速度 | 4400 rpm（用於 52 mm 直徑環） （如需詳細資訊，請參閱規格資料表） |
細分誤差 (SDE) | 環直徑小於等於 135 mm，一般小於 ±20 nm 環直徑大於 135 mm，一般小於 ±15 nm** |
動態訊號控制 | 即時訊號調節，包括自動增益控制 (AGC)、自動平衡控制 (ABC) 及自動偏置控制 (AOC)，在各種作業狀況下提供最佳效能 |
增量訊號 | 5 μm 至 2.5 nm 的解析度 （若要瞭解角度解析度的詳細資訊，請參閱規格資料表） |
電氣接線 | 0.2m、0.5 m、1 m、1.5 m、2 m 和 3 m 纜線長度搭配 D 型連接器（9 和 15 針腳）、圓型串聯連接器（12 針腳）或 14 向 JST 型連接器 |
電源 | 5 V -5%/+10%，標準 <200 mA 完全端接 |
振動（工作） | 於 55 Hz 至 2000 Hz 範圍達到最高速 100 m/s2 |
衝擊（非工作） | 500 m/s2、11 ms、½ 正弦、3 軸 |
工作溫度（系統） | 0 °C 至 +70 °C |
防護等級 | IP40 |
* 系統精度為刻度誤差加上 SDE。刻劃精度為由單一讀頭測量的角度及如標示之編碼器實際旋轉度之間的最大差值。像是離心率的應用干擾並未包括在內。
** 優化設定可將 SDE 設置為小於 ±10 nm。請聯絡您當地的 Renishaw 代表，以瞭解更多詳細資訊。
如需完整的詳細資訊，請參閱規格資料表。
下載
使用指南
案例分析
技術繪圖
- 3D model: VIONiC™ readhead [gen]
- 3D model: Advanced Diagnostic Tool ADTi-100 [gen]
- Installation drawing: RESM angle encoder [en]
- 3D model: RESx 52 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 57 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 75 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 100 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 103 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 104 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 150 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 200 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 206 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 209 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 255 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 300 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 350 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 413 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 417 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 489 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 550 mm A section ring [gen]
- 3D model: RESx 52 mm B section ring [gen]
- 3D model: RESx 75 mm B section ring [gen]
- 3D model: RESx 100 mm B section ring [gen]
- 3D model: RESx 115 mm B section ring [gen]
- 3D model: RESx 150 mm B section ring [gen]
- 3D model: RESx 165 mm B section ring [gen]
- 3D model: RESx 200 mm B section ring [gen]
工作原理
VIONiC 光學尺具備 Renishaw 第三代獨特過濾光學鏡組，能均化許多光學尺週期的作用，並有效篩除非週期特徵，例如髒汙。表面方波刻距模型也經過篩選，在光感測器留下純粹正弦的干涉條紋。其中使用了一種多指結構，精細到足以產生四種對稱相位訊號形式的光電流。這些結合是為了移除 DC 元件及產生正弦與餘弦訊號輸出，具備高光譜純度與低偏移，維持高達 500 kHz 的頻寬。
完全整合的先進動態訊號調節、自動增益控制、自動平衡控制及自動偏置控制，確保能提供一般低於 ±15 nm 的超低細分誤差 (SDE) 。
過濾光學鏡組的進化與精選電子裝置結合，提供寬頻寬增量訊號，達到 12 m/s 的最高速度與最低位置抖動（雜訊），遠勝於市場上其他同級光學尺。讀頭內進行細分，透過額外的降噪電子工具加強高解析度版本，將抖動降為極低的 1.6 nm RMS。
IN-TRAC 參考原點完全整合至增量式光學尺，並由讀頭內二側的光感測器偵測。如圖所示，參考原點分割偵測器直接嵌入增量槽刻度線性光電二極體陣列，確保能增強抗偏航失相性能。這樣獨特的配置歸功於自動校準程序，以電子方式定相參考原點及最佳化增量訊號。