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VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RKLC20-S 線性和部分弧線光學尺

特性

  • 直接來自讀頭的數位輸出
  • 讀頭尺寸:35 x 13.5 x 10 mm
  • 解析度可達 2.5 nm*
  • 速度高達 12 m/s
  • 超低的細分誤差 (SDE):一般低於 ±15 nm*
  • 光學 IN‑TRAC™ 參考原點
  • 雙限位

優勢

  • 寬度 6 mm 的精細光學尺適合應用於空間有限的情況
  • 適用於部分弧線量測
  • 基材固定式光學尺可提升量測效能
  • 無需單獨介面
  • 高抗污和抗溶劑能力
  • 進階診斷工具
網站橫幅的透明修補程式

何謂 VIONiC?

VIONiC 讀頭整合了 Renishaw 經市場認可的過濾光學鏡組與進階細分技術,是超高精度的數位增量式光學尺。
VIONiC 光學尺系統提供多種速度和解析度配置,以及廣泛的線性和旋轉光學尺範圍選項。因此,此款多功能光學尺才能提供高精度回饋。由於設計中已採用直覺式自動校正模式,因此 VIONiC 也相當容易安裝。

新版有何不同?

* VIONiC 光學尺系統現在可適用於解析度低至 2.5 nm 且強化 SDE 的產品。

何謂 RKLC20-S 光學尺?

RKLC20-S 是一種外型精細又輕巧的不鏽鋼光學捲尺,擁有 20 µm 的刻矩增量刻度,並提供 IN-TRAC 客戶自選的參考原點。精度高達 ±5 µm/m,長度達 20 公尺(可依要求大於 20 m)。RKLC20-S 兩端牢牢固定至基材時,即可固定於機器基材上,提升量測效能。

靈活的 RKLC20-S 光學尺也適用於部分弧線量測,其中的小型截面區域可讓光學尺環繞基準、軸或最小半徑為 30 mm 的圓弧。

為何選擇此光學尺系統?

全方位數位光學尺系統

VIONiC 結合了高速細分與令人印象深刻的量測性能,使其適用於要求極高的應用,因而是理想的光學尺。光學尺有非常多種可用的配置,可供使用者依據運動控制要求,使系統的速度和解析度達到最佳狀況。此外,VIONiC 讀頭與線性和旋轉光學尺兩者結合使用,可滿足各種精度需求。VIONiC 光學尺不僅快速,還容易校正,亦即可適用於大量生產。

查錯與維修容易

這款進階診斷工具可用於全方位光學尺回饋。這可用於棘手的安裝與查錯。功能有:

  • 遠端校準功能
  • 軸線長度訊號最佳化
  • 讀頭刻線距離指示
  • 限制與參考原點指示器
  • DRO 和利薩如圖形輸出。

精細且堅固耐用的多功能光學尺

RKLC 是一種寬度 6 mm 的不鏽鋼光學捲尺,堅實耐用,厚度僅有 0.15 mm,此特性可讓光學尺在牢牢固定至機器軸時,「固定」於機器基材上,以符合其熱膨脹係數和反應,藉此將光學尺和機器間的移動差降至最低。

RKLC 部分弧線光學尺

RKLC 光學尺可以方便地切割至所需長度,並安裝在簡易圓柱形基材上,沒有複雜安裝特性或低容錯對齊表面。

選配的進階診斷工具 ADTi-100

VIONiC 進階診斷工具

VIONiC 光學尺系統能相容於進階診斷工具 ADTi-100 和 ADT View 軟體。這些工具能提供全方位即時光學尺資料回饋,有利於執行更加艱困的安裝與診斷作業。直覺式軟體介面可用於下列操作:

  • 遠端校準
  • 全軸長訊號最佳化
  • 讀頭刻線距離指示
  • 限制與參考原點指示
  • 光學尺位置的數位讀數(相對於光學尺)
  • 監控時速表
  • 匯出與儲存資料

技術規格

量測標準

精細型不鏽鋼捲尺與自黏背膠帶,可直接安裝在基材上

適用於部分弧線應用(部分弧線最小半徑:30 mm)

讀頭尺寸(長 x 寬 x 高)

35 mm x 13.5 mm x 10 mm

光學尺刻距

20 μm

熱膨脹係數

以端蓋固定光學尺尾端時,能符合基板材質

精度等級(20°C 時)

±5 μm/m

參考原點

IN-TRAC 的參考原點標記直接嵌入於 RKLC-S

磁性選擇器用來辨識一或多個參考原點

限位開關

雙限位

光學尺長度

長達 20 m(可依要求大於 20 m)

光學尺外型尺寸(高 x 寬)0.15 mm x 6 mm(含背膠)

最高速度

最高 12 m/s

(如需詳細資訊,請參閱規格資料表)

細分誤差 (SDE)

一般低於 ±15 nm*

動態訊號控制

即時訊號調節,包括自動增益控制 (AGC)、自動平衡控制 (ABC) 及自動偏置控制 (AOC),在各種作業狀況下提供最佳效能

增量訊號


5 μm 至 2.5 nm 的解析度

(如需詳細資訊,請參閱規格資料表)

電氣接線

0.2m、0.5 m、1 m、1.5 m、2 m 和 3 m 纜線長度搭配 D 型連接器(9 和 15 針腳)、圓型串聯連接器(12 針腳)或 14 向 JST 型連接器

電源

5 V -5%/+10%,標準 <200 mA 完全端接

振動(工作)

55 Hz 至 2000 Hz 時最大達到 100 m/s2

衝擊(非工作)

500 m/s2、11 ms、½ 正弦、3 軸

工作溫度

0 °C 至 +70 °C

防護等級

IP40

* 最佳化設定可將 SDE 設置為小於 ±10 nm。請聯絡您當地的 Renishaw 代表,以瞭解更多詳細資訊。

如需完整的詳細資訊,請參閱規格資料表。

下載

規格資料表

使用指南

 

工作原理

VIONiC 光學尺具備 Renishaw 第三代獨特過濾光學鏡組,能均化許多光學尺週期的作用,並有效篩除非週期特徵,例如髒汙。表面方波刻距模型也經過篩選,在光感測器留下純粹正弦的干涉條紋。其中使用了一種多指結構,精細到足以產生四種對稱相位訊號形式的光電流。這些結合是為了移除 DC 元件及產生正弦與餘弦訊號輸出,具備高光譜純度與低偏移,維持高達 500 kHz 的頻寬。

完全整合的先進動態訊號調節、自動增益控制、自動平衡控制及自動偏置控制,確保能提供一般低於 ±15 nm 的超低細分誤差 (SDE) 。

過濾光學鏡組的進化與精選電子裝置結合,提供寬頻寬增量訊號,達到 12 m/s 的最高速度與最低位置抖動(雜訊),遠勝於市場上其他同級光學尺。讀頭內進行細分,透過額外的降噪電子工具加強高解析度版本,將抖動降為極低的 1.6 nm RMS。

VIONiC 光學尺具備 Renishaw 第三代獨特過濾光學鏡組,能均化許多光學尺週期的作用,並有效篩除非週期特徵,例如髒汙。表面方波刻距模型也經過篩選,在光感測器留下純粹正弦的干涉條紋。其中使用了一種多指結構,精細到足以產生四種對稱相位訊號形式的光電流。這些結合是為了移除 DC 元件及產生正弦與餘弦訊號輸出,具備高光譜純度與低偏移,維持高達 500 kHz 的頻寬。

完全整合的先進動態訊號調節、自動增益控制、自動平衡控制及自動偏置控制,確保能提供一般低於 ±15 nm 的超低細分誤差 (SDE) 。

過濾光學鏡組的進化與精選電子裝置結合,提供寬頻寬增量訊號,達到 12 m/s 的最高速度與最低位置抖動(雜訊),遠勝於市場上其他同級光學尺。讀頭內進行細分,透過額外的降噪電子工具加強高解析度版本,將抖動降為極低的 1.6 nm RMS。

TONiC™ 光學配置附註解

VIONiC 光學尺具備 Renishaw 第三代獨特過濾光學鏡組,能均化許多光學尺週期的作用,並有效篩除非週期特徵,例如髒汙。表面方波刻距模型也經過篩選,在光感測器留下純粹正弦的干涉條紋。其中使用了一種多指結構,精細到足以產生四種對稱相位訊號形式的光電流。這些結合是為了移除 DC 元件及產生正弦與餘弦訊號輸出,具備高光譜純度與低偏移,維持高達 500 kHz 的頻寬。

完全整合的先進動態訊號調節、自動增益控制、自動平衡控制及自動偏置控制,確保能提供一般低於 ±15 nm 的超低細分誤差 (SDE) 。

過濾光學鏡組的進化與精選電子裝置結合,提供寬頻寬增量訊號,達到 12 m/s 的最高速度與最低位置抖動(雜訊),遠勝於市場上其他同級光學尺。讀頭內進行細分,透過額外的降噪電子工具加強高解析度版本,將抖動降為極低的 1.6 nm RMS。

IN-TRAC™ 參考原點已完全整合至增量式光學尺,可由讀頭內二側的光感測器偵測。如圖所示,參考原點分割偵測器直接嵌入增量槽刻度線性光電二極體陣列,確保能增強抗偏航失相性能。這樣獨特的配置歸功於自動校準程序,以電子方式定相參考原點及最佳化增量訊號。