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XM-60 和 XM-600 多光束校正儀效能規格

介於 0 和 4 公尺之間

線性
量測精度±0.5 ppm(含環境補償)
解析度1 nm

量測範圍

0 m 至 4 m
線性量測圖標

角度(傾角/偏擺角)

精度±0.004A ± (0.5 μrad + 0.11M μrad)
(A = 顯示的誤差讀數)
(M = 以公尺為單位的量測距離)
解析度0.03 μrad
量測範圍±500 µrad
角度量測圖標
真直度
量測精度一般距離:±0.01A ±1 μm
延伸範圍:±0.01A ±1.5 μm
(A = 顯示的誤差讀數)
解析度0.25 μm
量測範圍一般距離:±50 µm 半徑
延伸範圍:±250 µm 半徑
真直度量測圖標
側轉角
精度±0.01A ±6.3 μrad
(A = 顯示的誤差讀數)
解析度0.12 μrad
量測範圍±500 µrad
側轉角量測圖標
精度值的統計信心水準為 95% (k=2),其中並未包括讀數標準化為材料溫度 20 °C 的相關誤差。

介於 4 和 6 公尺之間

  • 4 m 及 6 m 之間的線性、角度和真直度量測的效能規格,與 0 m 及 4 m 之間相同。
  • 4 m 及 6 m 範圍之間的側轉角量測效能規格為:
側轉角
精度±0.01A ±10.0 μrad
(A = 側轉角誤差 (µrad))
解析度0.12 μrad
量測範圍±500 µrad
精度值的統計信心水準為 95% (k=2),其中並未包括讀數標準化為材料溫度 20 °C 的相關誤差。量測距離若超過 4 公尺,就需要在 XM 發射端和接收端之間妥善對齊。如果因為錯位造成接收的雷射訊號強度低於 4%,CARTO 軟體就會告知使用者需要加強對齊。

6 公尺以上

  • 6 m 及 8 m 之間線性及角度量測的效能規格,與 0 m 及 4 m 之間相同。
  • 6 m 及 8 m 之間的真直度量測效能規格尚待確認。
  • 6 m 及 8 m 之間的側轉角量測效能規格尚待確認。
精度值的統計信心水準為 95% (k=2),其中並未包括讀數標準化為材料溫度 20 °C 的相關誤差。量測距離若超過 4 公尺,就需要在 XM 發射端和接收端之間妥善對齊。如果因為錯位造成接收的雷射訊號強度低於 4%,CARTO 軟體就會告知使用者需要加強對齊。