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Renishaw 發表新款 XM-60 多光束校正儀

2017 年 3 月

全球計量學專家 Renishaw將於第26 台北國際工具機展 (TIMTOS 2017) 展示全新XM-60 多光束校正儀。XM-60 只需一次設定便能順著線性軸的任何方向,量測所有六個自由度。相較於傳統雷射量測技術,XM-60的操作更為簡易省時。

XM-60六個自由度量測

隨著市場對工件的公差需求日益嚴謹,製造商需考量工具機在生產工件時造成的所有誤差源: 包括角度誤差、線性與真直度誤差。XM-60 只需一次設定便能擷取所有這些誤差。XM-60 多光束校正儀專為工具機量測市場而設計,可補強 Renishaw 包含 XL-80 雷射系統XR20-W 旋轉軸校正儀QC20-W 無線循圓測試儀等的校正產品線。XM-60 以XC-80 環境補償器作環境條件修正。

XM-60 多光束校正儀提供高度精確的雷射系統,內含專利光學側轉角量測和光纖啟動系統的獨特技術。輕巧的發射端遠離雷射源,有效降低量測點的熱效應。XM-60 可直接安裝到其工具機的側邊,可上下倒置,甚至安裝在工具機背面,特別適合應用在難以觸及的區域。

降低量測不確定性對於任何使用者都至關重要。Renishaw XM-60是專為可直接量測工具機誤差而設計,有效降低量測不準確性 - 這些不準確性會因為有些量測技術替代方案中使用的複雜數學計算而產生。透過使用者現有的 XL-80 量測用零件程式,直接量測使得工具機調整前後的比較變為快速且簡單的工作。接收器以無線操作並由充電電池供電,在工具機移動時避免被電纜線絆倒而造成量測不準確,或中斷雷射光束。

每一台 XM-60 多光束校正儀都可依據國際標準追溯效能,而且每一台也都在運輸前先經過認證,確保雷射系統日復日在生產現場均能提供所需的精度,讓使用者更具信心。

為了支援 XM-60 多軸校正儀的推出,Renishaw 亦將推出 新版本CARTO 套裝軟體,在量測過程中為使用者導引工作流程。CARTO 2.0 包含Capture 和 Explore 應用程式, 已能為 XL-80 雷射干涉儀提供資料擷取及分析功能。CARTO 使用者介面可輕鬆配置以符合使用者偏好,能夠變更主題,並且自訂顯示。CARTO與平板電腦相容,並且有可擴充的功能表區段,可在小螢幕上輕鬆使用; 使用者可自動儲存測試方法,需重複測試的使用者可輕易地調用先前的測試。

工具機Z 軸上的 XM-60

Capture 2.0功能包括:全新零件程式產生器、支援 Fanuc 30、Heidenhain 530、Mazak Matrix 和 Siemens 840D 控制器,下一版還有更多功能。Capture 2.0具有進階功能,可以依據使用者所選擇的平均週期自動設定程式的暫留時間,還具有「匹配時間」模式,可在使用 XL-80 系統時,協助進行基於時間的擷取。在 XM-60 模式中,Capture 2.0 使用校正儀的真直度量測功能改良其易用性。

XM-60提供功能強大的診斷功能,這是經由「單發」方式,透過量測所有自由度來提供。藉由在任何量測期間擷取三種線性和三種旋轉誤差源,使用者可發現其誤差來源,而不是通常只在進行線性量測時才看到的效應。所有數據處理都是藉由 Explore 2.0 應用程式來進行,此應用程式提供六個自由度的誤差數據摘要檢視圖,每筆數據都可以依照各類國際標準來顯示。此等大量數據之管理也是在 Explore 2.0 裡輕鬆進行。可將使用者定義標記指定到數據庫中儲存的任何測試、或測試群組,接著可藉由這些標記來篩選數據。

XM-60 多軸校正儀連同堅固的 Peli™ 系統箱中銷售,Peli™ 系統箱亦可容納配件和 XC-80 補償器套件。Peli™ 系統箱箱的設計確保可安全存放並且運輸雷射系統,而且在許多應用中,雷射單元可在量測期間保持於此箱中,從而簡化設定。選配的夾持套件可有助於將 XM-60 安裝到機台,裝在手提箱中便於運輸。

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