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RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RKLA30 線性和部分弧線光學尺

特性

  • 序列介面：BiSS® C、FANUC、Mitsubishi、Panasonic、Siemens DRIVE-CLiQ®、Yaskawa
  • 讀頭尺寸：36 x 16.5 x 17.2 mm
  • 速度高達 100 m/s 時能達到 1 nm 解析度
  • 20 °C 時精度為 ±5 µm/m
  • 提供側邊纜線插座板
  • 選購的進階診斷工具 (ADT)

優點

  • 寬度 6 mm 的精細光學尺適合應用於空間有限的情況
  • 適用於部分弧線測量
  • 卓越的運動控制性能
  • 高抗污能力
  • RMS 抖動低於 10 nm，提升位置穩定性
  • ±40 nm 細分誤差，速度控制平穩

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何謂 RESOLUTE？

RESOLUTE 是真絕對式精細刻距光學尺系統，搭配卓越的計量效能。其專利技術能在最高 100 m/s 的速度下實現 1 nm 解析度。

線性光學尺系統超低細分誤差 (SDE) 和抖動帶來更理想的速度控制效能以及高位置穩定性。

何謂 RKLA30-S 光學尺？

RKLA30-S 是一種外型精細又輕巧的不鏽鋼光學捲尺，具有 30 µm 刻距絕對式光學尺編碼。精度高達 ±5 µm/m，長度達 21 公尺。RKLA30-S 兩端牢牢固定至基材時，即可固定於機器基材上，提升量測效能。

靈活的 RKLA30-S 光學尺也適用於部分弧線量測，其中的小型截面區域可讓光學尺環繞基準、軸或圓弧。

為什麼選擇這種光學尺系統？

輕鬆查錯和維護

進階診斷工具 ADTa‑100 可由 RESOLUTE™ 光學尺讀頭（以 ADT 符號標記）取得全面即時資料。然後透過簡單易用的 ADT View 軟體介面顯示這些資訊。儘管在大多數情況下，藉由光學尺內建的 LED 安裝指示燈就能夠完成系統安裝，但 ADT 可協助完成要求更加嚴苛的安裝操作。ADT 還可回報光學尺效能並協助系統查錯，進而避免機器出現長時間停機。

卓越的運動控制性能

精密、可靠和創新運作原理賦予 RESOLUTE 領先業界的性能。更重要的是，此系統使用單軌非重複「條碼」光學尺格式，標稱刻距為 30 µm在此精密光學設計下，RESOLUTE 讀頭能捕捉幾近瞬間的光學尺影像，分析時也能在 100m/s 的速度下辨識特定位置。系統允許的位置辨識解析度高達 1nm（十億分之一公尺），不僅雜訊低（抖動低於 10 nm RMS），且SDE（細分誤差，即光學尺一個週期內的誤差）也只有 ±40 nm。這項優異的表現提供光學尺絕佳的回饋保真度，確保平順的速度控制與可靠的定位穩定性。

精細且堅固耐用的多功能光學尺

RKLA 是一種寬度 6 mm 的不鏽鋼光學捲尺，堅實耐用，厚度僅有 0.15 mm，此特性可讓光學尺在牢牢固定至機器軸時，「固定」於機器基材上，以符合其熱膨脹係數和反應，藉此將光學尺和機器間的移動差降至最低。

RKLA 部分弧線光學尺

RKLA 光學尺可以方便地切割至所需長度，並安裝在簡易圓柱形基材上，沒有複雜安裝特性或低容錯對齊表面。

外部介面選項

Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面

  • Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備搭配RESOLUTE真正絕對式光學編碼器使用的DRIVE-CLiQ介面
  • 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入
  • 顯示通訊警報
  • 重複讀頭 LED

其他可用的序列介面不需要外部介面。

選配的進階診斷工具 ADTa-100

進階診斷工具 ADTa-100

RESOLUTE™ 光學尺讀頭（以 ADT 符號標記）相容於進階診斷工具 ADTa-100 和 ADT View 軟體。它們可提供全面的即時光學尺資料回饋，以協助完成要求更加嚴苛的安裝和診斷操作。直觀的軟體介面具有以下功能：

  • 遠程校正
  • 在整個軸上達到訊號優化
  • 顯示讀頭相對於光學尺位置的數位讀數
  • 匯出和保存資料
  • 設定為零

序列介面

序列介面說明相容產品
BiSS C

Renishaw 於其絕對式光學尺支援 BiSS C（單向）開放來源通訊協定。BiSS C 為高速序列介面，非常適合用於需要高加速度、平順速度控制、優異重複性和可靠定位穩定性的動態軸。
RESOLUTE 線性及旋轉（角度）光學尺版本皆支援 BiSS C，相容於各種業界標準控制器、驅動器、DRO 及 PC 計數器介面卡。

BiSS C 相容產品頁面

FANUC

RESOLUTE 搭配 FANUC（α 和 αi）序列介面可用於旋轉及線性應用。
RESOLUTE 為使用 FANUC 控制器的高性能工具機帶來許多優勢。更高的速度、堅固耐用的純序列通訊、優異的輪廓加工性能及更理想的伺服剛性。此外，非接觸式格式能消除反向間隙、軸扭曲（扭轉）及其他遲滯錯誤等傳統封閉式光學尺令人困擾之處。

N/A


Mitsubishi

RESOLUTE 搭配 Mitsubishi 序列介面可用於旋轉及線性格式。RESOLUTE 能與 J4 和 J5 系列伺服驅動器相容，在工具機應用方面則相容於 MDS-D2/DH2/DM2/DJ 驅動器。

N/A

Panasonic


RESOLUTE 搭配 Panasonic 序列介面可用於線性及旋轉格式。RESOLUTE 與 A5 和 A6 驅動器系列相容，提供高解析度重複回饋，帶來更佳的伺服及速度控制。

N/A

Siemens DRIVE-CLiQ

RESOLUTE 搭配 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面可（透過外部介面）用於線性及旋轉應用。Siemens DRIVE-CLiQ 為功能強大的創新通訊介面，可讓光學尺和直接量測系統連結至 SINUMERIK 和 SINAMICS 驅動器元件。

N/A

Yaskawa

RESOLUTE 搭配 Yaskawa 序列介面可用於旋轉及線性格式，且相容於 Sigma-5 與 Sigma-7 SERVOPACK。

N/A

如需完整的詳細資訊，請參閱規格資料表。

技術規格

量測標準

精細型不鏽鋼捲尺與自黏背膠帶，可直接安裝在基材上

適用於部分弧線應用（部分弧線最小半徑：50 mm*）

讀頭尺寸 (LxWxH)

36 mm x 16.5 mm x 17.2 mm

柵距

標稱為 ±30 μm

熱膨脹係數（20 °C 時）

線性：光學尺尾端安裝端蓋時，能符合基板材質
部分弧線：10.1 ±0.2 μm/m/°C

精度等級（20°C 時）

±5 μm/m

光學尺長度

最長達 21 m

最高速度

（詳見規格手冊）

達到 100 m/s

序列介面

BiSS C、FANUC、Mitsubishi、Panasonic、Siemens DRIVE-CLiQ、Yaskawa

解析度

BiSS C：50 nm、5 nm 及 1 nm

FANUC、Mitsubishi、Siemens DRIVE-CLiQ 及 Yaskawa：50 nm 與 1 nm

Panasonic：100 nm、50 nm 及 1 nm

細分誤差 (SDE)

±40 nm

電氣連接

長達 10 m 纜線長度搭配 D 型連接器（9 針腳或 15 針腳）、飛線、FANUC 相容連接器、LEMO 及 M12

電源

5 V ±10%、max 250 mA @ 5 V（終端未連接）

振動（運作時）

於 55 Hz 至 2000 Hz 範圍達到最高速 300 m/s2

衝擊（非工作）

1000 m/s2、6 ms、½ 正弦

工作溫度

0 °C 至 +80 °C

防護等級

IP64

如需完整的詳細資訊，請參閱規格資料表。

* 如需較小直徑，請聯絡您的 Renishaw 代表。