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加工機校正和最佳化新聞

Renishaw 最新的校正產品新聞、個案報導及技術文章,可讓加工製造產業控制加工機性能並節省大量成本。

最新的文章

  • XL-80 鐳射干涉儀為線紋尺量測系統提供精準可靠的位置補償

    線紋尺量測系統 線紋尺( Line scale )一般是由玻璃基材製成並且在其表面準確地刻有等間距平行線,通常配置於比長儀、顯微鏡、測量儀器等長度測量設備上,作為測量距離和行程準確性的重要參考基準。測量線紋尺上的刻度距離意味著需要精度更高的儀器,測量解析度往往要求達到奈米級,微小的環境因素所造成的誤差都會影響測量結果的準確性。附屬於香港創新科技局的標準及校正實驗所( SCL )設計並建立了一台全新的線紋尺量測系統,採用 Renishaw XL-80 鐳射干涉儀,補償測量過程中因測量機台架設的位置偏移所導致的誤差。

  • CARTO 3.0令旋轉軸校準輕鬆無比

    Rotary measurement with XM-60 Renishaw最新推出的CARTO 3.0軟體可與XR20-W無線型旋轉軸校準裝置配合使用,方便使用者快速採集和分析旋轉軸資料。

  • 全新對光雷射系統擴充了 Renishaw 機器校正解決方案的陣容

    Squareness measurement using XK10 on a machine tool Renishaw 全新 XK10 校準雷射系統是專為工具機建構及校準所開發使用,可取代對量測治具的需求。此系統可用於線性導軌,以確保導軌筆直、方正、平整、平行及水平,並可用於評估旋轉機器的主軸方向及同軸度。系統的即時顯示功能,可在建構期間透過 XK10 測量和校準這些係數。

  • 北理工研發的激光測量儀器採用 XL-80 為核心組件,為球面光學組件的多種參數測量提供高精度數據

    banner_BIT 現今無論是工業界或人們日常生活中無不需要使用大量的光學鏡組元件,如一些先進的雷射切割或掃瞄設備,高解析度攝影器材、眼鏡等等。隨著應用的複雜性和精度要求的提升,對鏡組元件尤其是頻繁使用的球面鏡的加工精度隨之而提高,意味 著針對相關元件參數的檢測儀器精度和檢測效率也必須進一步提高以配合。北京理工大學 (以下簡稱理大) 成功開發 - 雷射差動共焦干涉元件參數測量儀器,是全球首台測儀器能同時對球面鏡組元件進行多種參數的高精度綜合測量,不僅免除購買多台測量儀器的需要,而且大幅減少測量中的架設時間。Renishaw 的 XL-80 系列雷射干涉儀作為當中的核心元件之一,測量儀提供穩定可靠的量測資料。

  • Renishaw 技術協助 Breton 校正廠內機械設備,並控制其產出品質

    Breton's XCEEDER blisk test Breton SpA 希望將工具機製造納入建造石材加工機械設備的核心業務之中,為因應更高的精準度需求,因此自 Renishaw 引進約 30 組裝置,其中包括雷射干涉儀、旋轉軸校正儀、循圓測試儀及接觸觸發式測頭。也因為這樣,Breton 的高速五軸 CNC 加工中心系列產品,成為全球最先進的機種之一。

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