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EVOLUTE™ 光學尺系列

什麼是 EVOLUTE?

EVOLUTE 系列根據 Renishaw 經業界認可的絕對式技術而打造,是真正絕對非接觸式線性光學尺,具有 50 µm 光學尺週期,可帶來絕佳的安裝公差和更優異的抗汙能力,非常適合應用在極需高度操作整合性、但安裝速度又相當重要的情況。

先進光學設計與高速訊號處理技術,可應用在解析度低至 50 nm 且 SDE 為 ±150 nm 的環境,為 EVOLUTE 光學尺提供嚴苛 OEM 應用方式所需的目標效能。

安裝期間或進行現場診斷和偵錯時,使用進階診斷工具 ADTa-100 和 ADT View 軟體可存取更詳細的診斷資訊。

網站特寫:EVOLUTE™ 讀頭

光學尺選項

  • 磁性尺用於須取得直線位置資訊的應用中,通常為 X、Y 及 Z 軸。

不鏽鋼光學尺與選購的軌道

光學尺名稱

精度

光學尺刻距

熱膨脹係數(20 °C 時)

供應長度

讀頭相容性

RTLA50 與選購的 FASTRACK™

RTLA FASTRACK 光學尺

±10 µm/m

50 µm

10.1 ±0.2 µm/m/°C

最高達 10 020 mm

EVOLUTE