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定位光學尺新聞

Renishaw 最新的光學尺產品新聞、個案報導及技術文章,可讓設計工程師將眾多編碼器整合至運動控制系統內

最新的文章

  • CMM 的基材固定式光學尺

    CMM retrofit 在選擇光學尺時,光學尺的熱膨脹特性是一個重點考慮因素。Renishaw光學尺實際上可分為兩種類型:一種不受基材的熱脹冷縮所影響(自由伸縮型),另一種則隨基材的熱脹冷縮而變化(隨基材伸縮型)。 自由伸縮光學尺的伸縮情況取決於光學尺材料本身的熱膨脹特性,而隨基材伸縮光學尺的伸縮速率與底層基材一致。Renishaw提供的光學尺安裝技術具有諸多優勢,可針對不同測量應用酌情選擇:本文介紹的是一個首選隨基材伸縮光學尺的應用案例。

  • ATOM DX™:微型效能

    ATOM DX RSS 領先全球的工程科技公司Renishaw推出最小巧的ATOM DX增量式光學尺,可直接從讀頭進行數位輸出而不需要使用頗佔空間的介面。這款全新的高效能編碼器解析度小至 2.5 nm,具低細分誤差 (SDE),且抖動幅度極小。

  • 開發智慧型製造設備,不可或缺的精密回饋系統

    ATOM 系列光學尺 踏入智慧型製造的年代,工業界對精密自動化設備的需求達到前所未有的高峰,同時也帶動了運動控制相關零部件的市場需求。 滑軌,軸承,機械平台,驅動器或是控制器等都是一台設備不可或缺的部件。設備開發商在採購時不再單單著重零件的規格,更多的考量它的整合性是否滿足系統的整體設計。建基台灣的直得科技股份有限公司(以下簡稱cpc)的導軌產品在市場上早已得到業界的高度認可,近年大量投放資源在運動控制相關開發項目,包括線性平台,馬達和直驅旋轉工作台等,當中不少型號採用了Renishaw高性能線性和旋轉光學尺。

  • 編碼器加速 PCB 阻抗驗證

    Sam-Jeong PCB under test 電路載板的日趨微形化促使相關檢測設備的精確度需要不斷提昇, 一般電路板的外觀, 斷線, 和短路等缺陷均透過自動視覺檢測(AOI)設備進行非接觸式檢測, 而電路載板上線路的阻抗 (Impedance) 則需要透過專屬抗阻檢測設備, 根據編程控制測頭準確落在檢測點採集數據.

  • Renishaw進一步増強VIONiC™光學尺系列性能

    VIONiC encoder series 全球領先的工程科技公司Renishaw日前宣佈進一步増強VIONiC光學尺產品系列的性能。VIONiC光學尺的解析度現可達到2.5 nm,並且全系列產品的電子細分誤差 (SDE) 均有所降低。低電子細分誤差 (SDE) 有助於實現低速度紋波,這對於鐳射掃描測量系統等恒定速度應用來說十分重要。VIONiC光學尺可與一系列線性尺和旋轉光學尺配用。

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