跳轉瀏覽

CMM 測針和夾具

YPC 案例分析:多組零件與夾具組合展示範例

簡單來說,在 CMM 上使用夾具不再是一種不夠精準、胡亂且耗時的操作。現在,我們認為使用夾具能夠更好地控制整個量測過程。

Tritech Precision Products Yeovil(英國)

CMM OPTiMUM™ 鑽石測針

OPTiMUM 鑽石測針適合用於要求嚴峻的應用場合,並提供長效的掃描性能。在掃描工件時,鑽石塗層測球可保持其圓度,且不受材料「黏附」或過早磨耗的影響。鑽石塗層測針具有諸多優點,包括延長使用壽命、縮短因重新校正和檢查導致的停機時間等。

用於 CMM 的 QuickLoad™ 導軌系統

QuickLoad 導軌系統搭配使用 QuickLoad 底板時可提供穩固的工件定位;底板則利用快拆式磁鐵及定位插銷定位至任一側的導軌。

QuickLoad 導軌系統具備迅速、使用簡便及重複性等特色,使用者可在多個底板設定零件進行檢測,並以優異效率將零件裝載至導軌,達到最高產能。導軌及底板採用互換式設計,目標是讓機台使用者享有最出色的能力,迅速檢測及拆卸零件。

客製 3D 列印測針

金屬積層製造 (AM) 技術是一項靈活高效、功能強大的技術,可製造出傳統方式無法加工的零件,這些零件可能具有形狀複雜的內部網狀結構。積層製造測針不僅輕巧堅固,而且可以確保量測的高度重複性。高度的設計靈活性代表幾乎可以針對所有應用來客製積層製造測針。

客製測針服務

針對許多應用難題,解決的根本辦法在於測針的選擇。工件尺寸量測、檢測時間以及測頭性能均受到所選測針的影響。

我們在客製測針設計過程中對這些因素進行了全盤考量,因此解決方案包括了材料和結構的最佳選擇,同時針對您的實際應用場合再對測頭性能進行優化。

聚焦於影像量測系統

使用 Renishaw 影像量測夾具可提高精度、節省時間、提升效率。Renishaw 開發了一系列專用於影像檢測的夾具。壓克力底板可讓使用背光,使影像量測系統能清楚明確地檢視零件。我們的 QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC) 技術能夠快速、輕鬆地定位底板,進而提高工件設定的速度和重複性。