ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 RCDM 旋轉（角度）盤
特性
- 直接從讀頭輸出數位訊號
- 讀頭尺寸：20.5 x 12.7 x 10.85 mm（頂端出口版本：20.5 x 12.7 x 7.85 mm）
- 解析度可達 2.5 nm
- 速度高達 20 m/s
優點
- 微型封裝
- 無需單獨的介面
- 採用光學濾波系統設計，具備優異的抗汙能力
- 搭配進階診斷工具，可輕鬆查錯，處理棘手的安裝與維修問題
- 盤形編碼器適合輕巧旋轉應用
什麼是 ATOM DX？
ATOM DX 光學尺系列是 Renishaw 的微型增量式光學尺，可直接從讀頭輸出數位訊號，並在其微型封裝內整合了所有位置回饋、板載細分和光學濾波功能。
利用選配的進階診斷工具 ADTi‑100 和 ADT View 軟體可獲取詳細的診斷資訊，以實現現場診斷、查錯，以及在要求極為嚴苛的應用中協助優化光學尺安裝。
ATOM DX 光學尺也提供最低 2.5 nm 的解析度，以及各式各樣的組態。
ATOM DX 可供應纜線與頂部出口版本，提供 20 µm 或 40 µm 光學尺選項。
RCDM 盤是什麼？
RCDM 為一體式玻璃盤，刻度直接標記在盤面上，採單一參考原點與光學準直調整帶設計。光學準直調整帶可盡量降低準直誤差，並提升安裝精度。
有兩種版本尺寸可供選擇：20 µm 或 40 µm 刻矩增量刻度 (20 µm：Ø30 mm 至 Ø108 mm，40 µm 為Ø17 mm 至 Ø108 mm)。
非接觸式格式能消除反向間隙、軸扭曲（扭轉）及其他傳統封閉式光學尺固有的機械遲滯錯誤。
為什麼選擇這種光學尺系統？
適合空間受限應用的微型光學尺
ATOM DX 的最小尺寸為 20.5 mm x 12.7 mm x 7.85 mm，可安裝在極小的空間內。這款光學尺系統提供多種選項，包括線纜版和頂端出口版。
輕鬆查錯和維護
進階診斷工具可由 ATOM DX 光學尺讀頭取得全面即時資料。然後透過簡單易用的 ADT View 軟體介面顯示這些資訊。儘管在大多數情況下，藉由光學尺內建的 LED 安裝指示燈就能夠完成系統安裝，但 ADT 可協助完成要求更加嚴苛的安裝操作。ADT 還可回報光學尺效能並協助系統查錯，進而避免機器出現長時間停機。
高效能
ATOM DX 系列編碼器是高效能編碼器，解析度最低可達 2.5 nm，並具備低 SDE 及低抖動等特色。ATOM DX 編碼器結合讀頭直接提供的數位正交輸出，以及 Renishaw 深獲肯定的過濾光學鏡組，是現代運動控制系統的強大建構基礎。
選配的進階診斷工具 ADTi-100
ATOM DX 光學尺系統與進階診斷工具 ADTi-100 和 ADT View 軟體相容。它們可提供全面的即時光學尺資料回饋，以協助完成要求更加嚴苛的安裝和診斷操作。直觀的軟體介面具有以下功能：
- 遠程校正
- 在整個軸上達到訊號優化
- 參考原點指示
- 顯示讀頭相對於光學尺位置的數位讀數
- 監控速度與時間曲線圖
- 匯出和保存資料
技術規格
量測標準 | 玻璃盤 |
讀頭尺寸 (LxWxH) | 線纜版：20.5 mm x 12.7 mm x 10.85 mm 頂端出口版：20.5 mm x 12.7 mm x 7.85 mm |
柵距 | 20 µm 與 40 µm |
熱膨脹係數 | ~8 µm/m/°C |
碟盤外徑 | 20 µm：30 mm 至 108 mm 40 µm：17 mm 至 108 mm 如需更大尺寸，請聯絡 Renishaw |
刻線數 | 20 µm：4,096 至 16,384 40 µm：1,024 至 8,192 |
參考原點 | 單一參考原點 |
刻劃精度 | ±0.5 µm（圓盤 ø 高達 100 mm） ±0.7 µm（圓盤 ø 超過 100 mm） |
最高速度 | 達到 20 m/s （詳見規格手冊） |
細分誤差 (SDE) | 20 µm 版本：一般低於 ±75 nm 40 µm 版本：一般低於 ±120 nm |
動態訊號控制 | 透過即時訊號調節，包括自動增益控制 (AGC) 和自動偏置控制 (AOC)，在整個工作條件範圍內實現性能優化 |
增量訊號 | 解析度從 10 µm 至 2.5 nm （詳見規格手冊） |
電氣連接 | 線纜版：0.2 m、0.5 m、1 m、1.5 m、2 m 和 3 m電纜，採用 D 型連接器（9 針和 15 針） |
電源 | 5 V -5%/+10%，一般低於 200 mA 完全端接，3 軸 |
振動（運作時） | 55 Hz 至 2000 Hz 時，最大振動為 100 m/s²，3 軸 |
衝擊（運作時） | 1,000 m/s²、6 ms、½ 正弦、3 軸 |
工作溫度 | 0 °C 至 +70 °C |
防護等級 | IP40 |
請參閱規格手冊，了解詳細資訊。