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QUANTiC™ 增量式光學尺系統搭配 RKLC40-S 線性和部分弧線光學尺

特性

  • 工作安裝高度公差為 ±0.3 mm
  • 數位輸出
  • 讀頭尺寸:35 x 13.5 x 10 mm
  • 能達到 50 nm 解析度
  • 速度高達 24 m/s
  • 優異的抗污能力
  • 光學 IN‑TRAC™ 參考原點
  • 雙限位

優勢

  • 寬度 6 mm 的精細光學尺適合應用於空間有限的情況
  • 適用於部分弧線量測
  • 基材固定式光學尺可提升量測效能
  • 安裝簡便
  • 無需單獨介面
  • 進階診斷工具
網站橫幅的透明修補程式

何謂 QUANTiC?

QUANTiC 光學尺系列整合了 Renishaw 的濾光學鏡組設計與細分技術,可用來建立高效能、超輕巧型、數位多合一增量開放式光學尺系列。QUANTiC 光學尺系統的安裝和運作公差極為寬廣,且具有內建安裝和校準功能,因此安裝相當容易。安裝期間或進行現場診斷和查錯時,使用進階診斷工具 ADTi-100 和 ADT View 軟體可存取進一步的診斷資訊。速度最高達 24 m/s,能夠滿足最嚴苛的運動控制需求。QUANTiC 光學尺提供低至 50 nm 的解析度與多種配置,輕輕鬆鬆就能完成最佳化。動態訊號處理能力提供更出色的訊號穩定性,使您的運動控制系統表現出優異效能。

何謂 RKLC40-S 光學尺?

RKLC40-S 是一種外型精細又輕巧的不鏽鋼光學捲尺,擁有 40 µm 的刻矩增量刻度,可提供 IN-TRAC 客戶自選的參考原點。提供兩種精度級別,包括標準精度 ±15 µm/m 和高精度 ±5 µm/m,長度可達 20 m(可依要求大於 20 m)。RKLC40-S 兩端牢牢固定至基材時,即可固定於機器基材上,提升量測效能。

靈活的 RKLC40-S 光學尺也適用於部分弧線量測,其中的小型截面區域可讓光學尺環繞基準、軸或最小半徑為 26 mm 的圓弧。

為何選擇此光學尺系統?

安裝簡便

在 OEM 應用環境中,機器組裝時間至關緊要,因為安裝元件的過程所省下的時間可縮短製程的前置作業時間,最終帶來更高獲利能力。QUANTiC 光學尺系列藉由在增量式產品上提供的寬廣的設定公差(偏擺角安裝公差為 ±0.9°,安裝高度公差則為 ±0.2 mm)與讀頭上的一體式設置 LED,來滿足此種需求。由於安裝公差經過改良,產品因此可以獲得更快的安裝程序、更低的間接成本和更高的產能等諸多好處。

精細且堅固耐用的多功能光學尺

RKLC 是一種寬度 6 mm 的不鏽鋼光學捲尺,堅實耐用,厚度僅有 0.15 mm,此特性可讓光學尺在牢牢固定至機器軸時,「固定」於機器基材上,以符合其熱膨脹係數和反應,藉此將光學尺和機器間的移動差降至最低。

RKLC 部分弧線光學尺

RKLC 光學尺可以方便地切割至所需長度,並安裝在簡易圓柱形基材上,沒有複雜安裝特性或低容錯對齊表面。

全方位數位光學尺系統

QUANTiC 結合高速細分與令人印象深刻的量測效能,即使是要求極高的應用也適合使用,是光學尺的最佳選擇。多種可用配置供使用者依據運動控制要求使用,能使系統的速度和解析度達到最佳狀況。此外,QUANTiC 讀頭與線性和旋轉(角度)光學尺兩者結合使用,可滿足各種精度需求。安裝快速簡便,特別適合大量生產使用。

選配的進階診斷工具 ADTi-100

VIONiC 進階診斷工具

QUANTiC 光學尺系統能相容於進階診斷工具 ADTi-100ADT View 軟體。這些工具能提供全方位即時光學尺資料回饋,有利於執行更加艱困的安裝與診斷作業。直覺式軟體介面可用於下列操作:

  • 遠端校準
  • 全軸長訊號最佳化
  • 讀頭刻線距離指示
  • 限制與參考原點指示
  • 光學尺位置的數位讀數(相對於光學尺)
  • 監控時速表
  • 匯出與儲存資料

技術規格

量測標準

精細型不鏽鋼捲尺與自黏背膠帶,可直接安裝在基材上

適用於部分弧線應用(部分弧線最小半徑:26 mm)

讀頭尺寸(長 x 寬 x 高)

35 mm x 13.5 mm x 10 mm

光學尺刻距

40 μm

熱膨脹係數

以端蓋固定光學尺尾端時,能符合基板材質

精度等級(20°C 時)

40 μm(高精度):±5 µm/m
40 μm:±15 μm/m

參考原點

IN-TRAC 的參考原點標記直接嵌入於 RKLC-S

磁性選擇器用來辨識所選的參考原點

限位開關

雙限位

光學尺長度

長達 20 m(可依要求大於 20 m)

光學尺外型尺寸(高 x 寬)0.15 mm x 6 mm(含背膠)

最高速度

最高 24 m/s

(如需詳細資訊,請參閱規格資料表)

細分誤差 (SDE)

一般低於 ±80 nm

動態訊號控制

即時訊號調節,包括自動增益控制 (AGC)、自動平衡控制 (ABC) 及自動偏置控制 (AOC),在各種作業狀況下提供最佳效能

增量訊號


10 μm 至 50 nm 的解析度

(如需詳細資訊,請參閱規格資料表)

電氣接線

0.2m、0.5 m、1 m、1.5 m、2 m 和 3 m 纜線長度搭配 D 型連接器(9 和 15 針腳)或圓型串聯連接器(12 針腳)

0.5 m、1 m、3 m 纜線長度,14 向 JST 型連接器

電源

5 V -5%/+10%,標準 <200 mA 完全端接

振動(工作)

於 55 Hz 至 2 000 Hz 範圍達到最高速 100 m/s2、3 軸

衝擊(工作)

500 m/s2、11 ms、½ 正弦、3 軸

工作溫度

0 °C 至 +70 °C

防護等級

IP40

如需完整的詳細資訊,請參閱規格資料表。

下載

規格資料表

使用指南

 

工作原理

QUANTiC 光學尺具備 Renishaw 第三代獨特過濾光學鏡組,能均化許多光學尺週期的作用,並且有效篩選非週期特徵,例如髒汙。表面方波刻距模型也經過篩選,在光感測器留下純粹正弦的干涉條紋。其中使用了一種多指結構,精細到足以產生四種對稱相位訊號形式的光電流。這些結合是為了移除 DC 元件及產生正弦與餘弦訊號輸出,具備高光譜純度與低偏移,維持高達 500 kHz 的頻寬。

完全整合的先進動態訊號調節功能(包括自動增益控制、自動平衡控制及自動偏置控制),確保能提供小型旋轉系統低於 ±80 nm,大型旋轉系統低於 ±150 nm 且線性系統低於 ±80 nm 的低細分誤差 (SDE)。

進化的過濾光學鏡組結合精心設計的電子裝置,提供寬頻寬增量訊號,達到旋轉系統 8,800 rpm、線性系統 24 m/s 的最高速度與最低位置抖動(雜訊),遠勝於同級編碼器。讀頭內進行細分,透過額外的降噪電子工具加強高解析度版本,將抖動降低至 2.73 nm RMS。

QUANTiC™ 光學配置附註解

IN-TRAC 參考原點完全整合至增量式光學尺,並由讀頭內的光感測器偵測。這樣獨特的配置歸功於自動校準程序,以電子方式定相參考原點及最佳化增量訊號。