VIONiC™ 增量式編碼器系統搭配 RSLM20 線性光學尺
特性
- 直接來自讀頭的數位輸出
- 讀頭尺寸:35 x 13.5 x 10 mm
- 解析度可達 2.5 nm*
- 速度高達 12 m/s
- 超低的細分誤差 (SDE):一般低於 ±15 nm*
- 光學 IN‑TRAC™ 參考原點
- 雙限位
優勢
- 無需單獨介面
- 進階診斷工具易於進行查錯,處理棘手的安裝與維修問題
- 高精度光學尺
- 高抗污能力

何謂 VIONiC?
VIONiC 讀頭整合了 Renishaw 經市場認可的過濾光學鏡組與進階細分技術,是超高精度的數位增量式光學尺。
VIONiC 光學尺系統提供多種速度和解析度配置,以及廣泛的線性和旋轉光學尺範圍選項。因此,此款多功能光學尺才能提供高精度回饋。由於設計中已採用直覺式自動校正模式,因此 VIONiC 也相當容易安裝。
新版有何不同?
* VIONiC 光學尺系統現在可適用於解析度低至 2.5 nm 且強化 SDE 的產品。
什麼是 RSLM20 光學尺?
RSLM20 為不鏽鋼光學尺,具有 20 µm 刻矩增量刻度及多種 IN-TRAC 光學參考原點可選擇,包括遵照客戶選擇而定期間隔,或是光學尺中央或尾端的單一參考原點。
可媲美精細刻距玻璃光學尺,提供的整體精度(包括斜度與線性度)在長度超過 5 m 的情況下優於 ±4 μm。也可將其捲成圈,收納攜帶更為容易,解開後即可作為光學尺使用。
系統設計師可選擇特別配製的膠帶或機械夾片滿足安裝需求。兩種安裝方式均可供基板單獨進行熱膨脹。
為何選擇此光學尺系統?
全方位數位光學尺系統
VIONiC 結合了高速細分與令人印象深刻的量測性能,使其適用於要求極高的應用,因而是理想的光學尺。光學尺有非常多種可用的配置,可供使用者依據運動控制要求,使系統的速度和解析度達到最佳狀況。此外,VIONiC 讀頭與線性和旋轉光學尺兩者結合使用,可滿足各種精度需求。VIONiC 光學尺不僅快速,還容易校正,亦即可適用於大量生產。
結合堅固耐用的可靠度及更高的精度
VIONiC RSLM20 系統如捲尺般方便運用、堅固耐用且容易使用,精度高於玻璃光學尺,適用於長距離高性能的軸。
選配的進階診斷工具 ADTi-100

VIONiC 光學尺系統能相容於進階診斷工具 ADTi-100 和 ADT View 軟體。這些工具能提供全方位即時光學尺資料回饋,有利於執行挑戰較高的安裝與診斷作業。直覺式軟體介面可用於下列操作:
- 遠端校正
- 全軸長訊號最佳化
- 讀頭刻線距離指示
- 限制與參考原點指示
- 光學尺位置的數位讀數(相對於光學尺)
- 監控時速表
- 匯出與儲存資料
技術規格
量測標準 | RSLM20:高精度不鏽鋼光學尺 亦提供具備端點參考原點的 RSLE20,以及具備可選擇參考原點的 RSLC20 |
讀頭尺寸(長 x 寬 x 高) | 35 mm x 13.5 mm x 10 mm |
光學尺刻距 | 20 μm |
熱膨脹係數(20 °C 時) | 10.1 ±0.2 μm/m/°C |
精度等級(20°C 時) | ±1.5 μm 達到 1 m、±2.25 μm 達到 2 m、±3 μm 達到 3 m、±4 μm 達到 5 m,校正可追溯至國際標準 |
參考原點 | IN-TRAC 參考原點 多種參考原點位置選項,請參閱規格資料表 |
限位開關 | 雙限位 |
光學尺長度 | 20 mm 至 5 m |
最高速度 | 最高 12 m/s (如需詳細資訊,請參閱規格資料表) |
細分誤差 (SDE) | 一般低於 ±15 nm* |
動態訊號控制 | 即時訊號調節,包括自動增益控制 (AGC)、自動平衡控制 (ABC) 及自動偏置控制 (AOC),在各種作業狀況下提供最佳效能 |
增量訊號 | 5 μm 至 2.5 nm 的解析度 (如需詳細資訊,請參閱規格資料表) |
電氣接線 | 0.2m、0.5 m、1 m、1.5 m、2 m 和 3 m 纜線長度搭配 D 型連接器(9 和 15 針腳)、圓型串聯連接器(12 針腳)或 14 向 JST 型連接器 |
電源 | 5 V -5%/+10%,一般低於 200 mA 完全端接 |
振動(工作) | 於 55 Hz 至 2000 Hz 範圍達到最高速 100 m/s2 |
衝擊(非工作) | 500 m/s2、11 ms、½ 正弦、3 軸 |
工作溫度(系統) | 0 °C 至 +70 °C |
防護等級 | IP40 |
* 最佳化設定可將 SDE 設置為小於 ±10 nm。請聯絡您當地的 Renishaw 代表,以瞭解更多詳細資訊。
如需完整的詳細資訊,請參閱規格資料表。