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XM-60 多光束校正儀

只需一次設定便能以任何方向量測六個自由度。

獨特技術、光學側轉角量測和光纖發射。

XM-60 為一種雷射量測系統,只需一次設定便能沿著線性軸同時量測六個自由度誤差。該產品提供強大的診斷工具,只需一次擷取便能量測該軸的所有幾何誤差。

XM-60 為空間補償使用者提供快速準確的資料母體方法。所有量測都是以光學方式進行,可於任何方向使用。

概述

輕巧的發射端遠離雷射裝置,可降低量測點的熱效應。可直接安裝到機器側邊上下倒置,甚至是安裝到機器背面,尤其適用在難以觸及的機器區域。

接收器以無線操作並由充電電池供電,避免在機器移動時遭連接線絆倒,而造成量測不準確或雷射光束中斷。

隨 XM-60 推出的 CARTO 軟體套件,可在量測過程中為使用者導引工作流程。CARTO 包含 Capture 及 Explore 應用程式,可針對 XM-60 提供無縫資料擷取及分析。


以 XM-60 進行旋轉量測

重要特性和優點:

  • 快速 - 同時進行線性、傾角、偏轉角、側轉角、水平和垂直真直度量測,以傳統雷射技術進行單次量測。
  • 簡易 - 輕鬆設定,對其他干涉儀系統使用者而言極為熟悉。自動方向偵測和圖形校準使人為疏失降到最低。
  • 安心 - 直接量測所有誤差,可讓使用者在進行測試時查看結果。
  • 性能 - 獨特光學側轉角量測系統,能以任何方向提供側轉角量測。

旋轉軸量測

CARTO 目前可處理 XR20-W 旋轉軸校正儀旋轉軸測試所擷取的資料。現在 XR20-W 及 XM-60 首次可用於校正旋轉軸。這樣可讓 5 軸工具機的校正時間,由數天縮短為半天以內。

「目標型」及「自由運作」模式

XM-60 系統具備驚人靈活性,可滿足使用者的應用需求。例如,「目標型模式」可專門用於補償機器誤差,並依據國際標準產生效能報告。

CARTO 2.1 版推出的「自由運作模式」,可讓使用者立即擷取資料,無須定義位置或甚至目標數量。軟體可依據線性位置顯示真直度 (水平及垂直)、傾角、偏角及側轉角誤差。

觸發可為:

  • 手動 (按下按鍵)
  • 自動 (依據位置穩定性)
  • 連續 (依據使用者定義間隔於動作期間擷取)

具備 UCC 功能的 CMM

XM-600 多光束校正儀設計時搭載額外功能,能夠直接與 Renishaw UCC 控制器通訊。XM-600 使用為 XM-60 多光束校正儀開發的技術,可在單一量測之中同時量測所有六個自由度。這樣就可針對 CMM 的各個線性軸,輕鬆建立正確的誤差補償。

XM-600 與 CARTO 的相容性和 XM-60 相同,對於同時利用工具機和 CMM 的任何製造廠而言,是理想的校正解決方案。

XM-600 多光束校正儀

追溯性精度

每一台 XM-60 多光束校正儀都可依據國際標準追溯效能,而且每一台裝置也會在出貨前先經過認證,確保系統日復一日在生產現場皆能夠提供必要的精度,讓使用者更具信心。

Renishaw 研發

Renishaw 雷射量測系統是為了提供高效能和運作而製造。鋁製底部結構提供輕量且堅固的構造,體積小巧可安裝到機器上使用。此雷射使用 RLE 雷射編碼器系統中開發與使用且存在 10 年以上的技術,在半導體產業要求最為嚴苛的應用環境均具備此技術。

彈性

XM-60 以整體可切換方式安裝,可快速安裝至機器上。可搭配 90 度支架用於垂直校準。可選配夾具套件,以支援各種安裝需求。

影像圖庫

產品資訊